Nowość

System inspekcyjny do badania elektroniki Phoenix Microme|x Neo

System Phoenix MicromeIx 160 i 180 neo są skutecznym oraz niezawodnym
rozwiązaniem dla szerokiego spektrum zadań inspekcji 2D oraz 3D elektroniki. Znajdują zastosowanie na etapie wdrożenia nowego produktu, podczas kontroli procesu produkcyjnego, a także w przypadku analizy przyczyn awarii gotowego produktu. Bogata oferta rozwiązań firmy Waygate Technologies daje możliwość indywidualnej konfiguracji systemu względem potrzeb użytkownika.

Cechy produktu:

• detektory DXR o dużym zakresie dynamiki zapewniają obrazy najwyższej jakości
• lampy micro- oraz nanofocus z wykrywalnością szczegółów od 0,2mm zapewniają szeroki zakres inspekcji elementów elektronicznych
• łatwość obsługi oraz automatyczne generowanie raportu z inspekcji
• zminimalizowany czas konfiguracji dzięki zautomatyzowanemu programowaniu CAD
• autorska technologia OVHM umożliwia zsynchronizowany ruch detektora oraz manipulatora w celu łatwego ustawienia żądanego widoku
• niezwykle wysoka skuteczność oraz powtarzalność wykrywania defektów

Opcje dodatkowe:

Pakiet automatyzacji X|act
Programowania automatycznej inspekcji w oparciu o model CAD.

Flash!Electronics™
Autorska technologia wizualizacji obrazu firmy Waygate Technologies, zoptymalizowana pod kątem kontroli
jakości elektroniki.

Dose|manager
Pakiet low-dose wraz z technologią Shadow|target pozwalający w czasie rzeczywistym na zarządzanie i
redukcje niepotrzebnej dawki promieniowania, zapobiegając uszkodzeniom wrażliwych obiektów badań.

Jednostka Tilt / rotate
Uchwyt pozwalający na pochylenie ± 45° i obrót n x 360° dla próbek do 2kg.

Czytnik kodów kreskowych
Do identyfikacji produktu.

PlanarCT
Nieniszcząca ocena przekrojów 2D i objętości 3D wraz z oprogramowaniem 3D|viewer.

Tomografia komputerowa (CT)
Rozszerzenie systemu o oprogramowanie do akwizycji i rekonstrukcji danych 3D (tomografia komputerowa)
Phoenix datoslx oraz dodatkowo o specjalną jednostką CT do mocowania próbek (precyzyjna oś obrotu,
maks. powiększenie geometryczne: 100x (CT), maks. rozdzielczość woksela: do 2μm, rozdzielczość zależna
od wielkości próbki).