28-02 lutego, MTP, Poznań Congress Center,
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry
Spektrometr XRF do badania cienkich i złożonych powłok FISCHERSCOPE® XDAL® Helmut Fischer
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry
Spektrometr XRF do badania cienkich i złożonych powłok FISCHERSCOPE® XDAL® Helmut Fischer
Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.
Zapytaj o ofertę
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® to nowoczesne urządzenie XRF, zaprojektowane do analizy powłok i materiałów z najwyższą precyzją — także tych bardzo cienkich lub wielowarstwowych. Dzięki solidnej konstrukcji, automatycznemu pozycjonowaniu i zaawansowanemu detektorowi, zapewnia powtarzalne pomiary w wymagających aplikacjach. Sprzęt łączy niezawodność laboratoryjnego pomiaru z praktycznością użytkowania w kontroli produkcji.
XDAL® to narzędzie, które zwiększa efektywność i pewność pomiarów — niezależnie, czy analizujesz drobne elementy w elektronice, czy większe detale przemysłowe. Dzięki temu masz stabilną kontrolę jakości i minimalizujesz ryzyko błędów.
XDAL® wykorzystuje dyspersyjną energię promieniowania XRF do analizy składu pierwiastkowego oraz grubości bardzo cienkich powłok — nawet poniżej 0,1 µm. Metoda jest nieniszcząca i pozwala badać także wieloskładnikowe systemy powłokowe.
Urządzenie jest wyposażone w detektor półprzewodnikowy SDD o dużej czułości, zapewniający wysoką liczbę zliczeń oraz precyzyjną analizę cienkich warstw i pierwiastków śladowych. W modelu XDAL® 650 detektor zastosowano detektor o powierzchni az 50 mm², co dodatkowo zwiększa wydajność pomiarową.
Precyzyjny układ pozycjonowania umożliwia automatyczne serie pomiarów oraz skanowanie dużych próbek. Szybki autofocus zmniejsza liczbę błędów i przyspiesza ustawienie próbki.
Kamera przeglądowa i kamera szczegółowa umożliwiają szybkie odnajdywanie punktu pomiarowego. Wskaźnik laserowy i oświetlenia LED ułatwia precyzyjne ustawienie nawet refleksyjnych powierzchni. Korzyść: Łatwy wybór miejsca pomiaru nawet na dużych detalach
System automatycznej zmiany kolimatorów i filtrów zapewnia optymalne warunki wzbudzenia dla różnych aplikacji od wielowarstwowych układów na konektorach do zwykłych powłok cynkowych na dużych częściach. Możesz wykonywać różne typy pomiarów bez ręcznej zmiany parametrów.
Idealny do kontroli warstw ochronnych, powłok galwanicznych, systemów wielowarstwowych i precyzyjnej elektroniki.
Oszczędzasz czas i zapewniasz stałą jakość pomiarów — niezależnie od ilości analizowanych próbek.
Jedno urządzenie obsługuje wiele aplikacji, co obniża koszty inwestycji i zwiększa elastyczność produkcji.
Kiedy wybrać:
Gdy korzystasz z serii XDAL lub XDV i chcesz uprościć obsługę XRF, zwiększając szybkość i powtarzalność pomiarów.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz spektrometrów XRF FISCHER i potrzebujesz jednego środowiska do pomiarów, analizy i raportowania.
Broszura serii produktów Fischer
XDAL® idealnie nadaje się do pomiarów bardzo cienkich powłok, powłok galwanicznych, powłok ochronnych, warstw na elementach elektronicznych, a także do analizy składu pierwiastkowego i powłok wielowarstwowych.
Tak — metoda XRF nie uszkadza próbki, co pozwala na kontrolę zarówno gotowych produktów, jak i półproduktów bez ryzyka ich zniszczenia.
Tak — dzięki automatycznemu stolikowi XY i osi Z możliwe są seryjne pomiary z minimalnym udziałem operatora, co sprawdza się w produkcji lub kontroli linii.
Tak — urządzenie łączy precyzję laboratoryjną z możliwościami automatyzacji i powtarzalności, co czyni je odpowiednim do pracy w środowisku produkcyjnym.
XDAL® pozwala mierzyć powłoki od wartości bardzo niskich — nanometrowych — aż po grube warstwy, a także analizować układy wielowarstwowe.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć grubości powłok galwanicznych na bardzo dużych elementach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.
Kiedy wybrać:
Gry potrzebujesz uniwersalnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz efektywnie mierzyć grubość powłok na konektorach i płytkach PCB.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wygodnie mierzyć cienkie powłoki na drobnych elementach w dużych ilościach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz regularnej kontroli kąpieli galwanicznej bez angażowania załogi.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy stopów złota w jubilerstwie lub obrocie metalami szlachetnymi.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Zapytaj o produkt