FISCHERSCOPE® XDAL® 620/650 spektrometr XRF do badania cienkich i złożonych powłok

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® — precyzyjny spektrometr XRF nowej generacji

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® to nowoczesne urządzenie XRF, zaprojektowane do analizy powłok i materiałów z najwyższą precyzją — także tych bardzo cienkich lub wielowarstwowych. Dzięki solidnej konstrukcji, automatycznemu pozycjonowaniu i zaawansowanemu detektorowi, zapewnia powtarzalne pomiary w wymagających aplikacjach. Sprzęt łączy niezawodność laboratoryjnego pomiaru z praktycznością użytkowania w kontroli produkcji.

Analiza bardzo cienkich powłok i warstw wielowarstwowych

XDAL® radzi sobie z pomiarem powłok o grubości od kilku nanometrów do kilkudziesięciu mikrometrów. Możliwe jest także badanie skomplikowanych układów warstw oraz detekcja pierwiastków występujących w ilościach śladowych.Idealny do kontroli warstw ochronnych, powłok galwanicznych, systemów wielowarstwowych i precyzyjnej elektroniki.

Automatyzacja i powtarzalność pomiarów

Dzięki programowalnemu stolikowi i automatycznej regulacji wysokości, urządzenie pozwala na seryjne pomiary z minimalnym udziałem operatora. To znacząco redukuje ryzyko błędów i poprawia efektywność pracy. Oszczędzasz czas i zapewniasz stałą jakość pomiarów — niezależnie od ilości analizowanych próbek.

Wszechstronność zastosowań w różnych branżach

XDAL® sprawdzi się w przemysłach wymagających precyzyjnej kontroli jakości: elektronice, motoryzacji, przemyśle galwanicznym, produkcji metalowych elementów i innych. Dzięki możliwości analizy składu i grubości powłok jest użyteczny w wielu różnych procesach. Jedno urządzenie obsługuje wiele aplikacji, co obniża koszty inwestycji i zwiększa elastyczność produkcji.