Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XULM 240

Kompaktowy spektrometr fluorescencji rentgenowskiej do pomiaru grubości powłok i analizy materiału. Dzięki umieszczeniu lampy rentgenowskiej i detektora na dole z łatwością pozycjonuje się próbki bezpośrednio na oknie pomiarowym. Dzięki zastosowaniu lampy rentgenowskiej typu mikro-focus urządzenie oferuje mniejsze powierzchnie pomiarowe umożliwiając pomiary na drobnych detalach. Model XULM jest w szczególności dobrze przystosowany do pomiaru delikatnych części takich jak konektory, złącza czy przewody jak również do pomiarów powłok złotych, niklowych i miedzianych na płytkach obwodów drukowanych. Urządzenie umożliwia pomiary nawet 80µm powłok złota z powierzchnią pomiarową Ø 0.25 mm i powtarzalnością 2,5nm przy czasie pomiaru 20 sekund.

Cechy produktu:

• urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale w szczególności na drobnych przedmiotach (od 0,2 mm)
• analiza głównych składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
• odległość pomiarowa 0-25 mm
• lampa microfocus efektywnie wzbudzająca pierwiastki lekkie
• komora pomiarowa z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych i płaskich próbkach
• cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)

Zastosowanie:

• pomiar grubości powłok takich jak Au/Ni/Cu/PCB lub Sn/Cu/PCB w przemyśle elektronicznym
• powłoki na złączach, kontaktach w przemyśle elektronicznym
• powłoki dekoracyjne Cr/Ni/Cu/ABS
• powłoki galwaniczne takie jak Zn/Fe, ZnNi/Fe jako zabezpieczenie antykorozyjne na częściach produkowanych masowo (śrubki i nakrętki)
• określanie zawartości metali w kąpielach galwanicznych