koszyk
Start
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD

Producent: HELMUT FISCHER
Bardzo wydajny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z programowalnym stolikiem XY i osią Z dla zautomatyzowanych pomiarów bardzo cienkich powłok i analiz szczątkowych ilości pierwiastków. Spektrometr XDV-SDD wyposażony został w detektor półprzewodnikowy SDD o dużej powierzchni i rozdzielczości w efekcie spektrometr zapewnia bardzo niskie progi detekcji. Urządzenie jest w doskonale przystosowane do badania grubości najcieńszych powłok i analiz śladowych ilości pierwiastków. Zmienne filtry, napięcia lampy i rozmiary kolimatorów pozwalają uzyskać optymalne parametry wzbudzenia wielu aplikacji. Dzięki dużej komorze pomiarowej i zmotoryzowanemu stolikowi pomiary są bardzo wygodne i szybkie.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

+ 09

Opis produktu

Usługa pomiarowa
Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny
Profesjonalne doradztwo
Szkolenie produktowe
Szybkie ofertowanie
Oprogramowanie w języku polskim
Prezentacja w ITA
Prezentacja zdalna

Bardzo wydajny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z programowalnym stolikiem XY i osią Z dla zautomatyzowanych pomiarów bardzo cienkich powłok i analiz szczątkowych ilości pierwiastków. Spektrometr XDV-SDD wyposażony został w detektor półprzewodnikowy SDD o dużej powierzchni i rozdzielczości w efekcie spektrometr zapewnia bardzo niskie progi detekcji. Urządzenie jest w doskonale przystosowane do badania grubości najcieńszych powłok i analiz śladowych ilości pierwiastków. Zmienne filtry, napięcia lampy i rozmiary kolimatorów pozwalają uzyskać optymalne parametry wzbudzenia wielu aplikacji. Dzięki dużej komorze pomiarowej i zmotoryzowanemu stolikowi pomiary są bardzo wygodne i szybkie.

Cechy produktu:

  •  zaawansowane urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale oraz analiz składu
  • pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów
  • badania składu stopów złotniczych, pyłów, past
  • analiza składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • badanie zgodności z dyrektywą RoHS
  • cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)
  • duża i przestrzenna komora pomiarowa

 

Zastosowanie:

  • kontrola bardzo cienkich powłok, przemysł elektroniczny i komputerowy
  • analiza szczątkowa np. pod kątem niebezpiecznych substancji zgodnie z RoHS, standardami zabawek, standardami opakowań
  • analiza złota i metali szlachetnych z zachowaniem najwyższej precyzji
  • przemysł fotowoltaiczny
  • pomiar grubości i składu powłok NiP

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD
Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

detektor półprzewodnikowy SDD

Stolik pomiarowy:

zmotoryzowany

Zakres ruchu stolika:

250x250 mm

Maksymalna masa próbki:

5kg, przy zredukowanej precyzji stolika 20kg

Filtry:

Ni, Al1000, Al500, Al100, Mylar100, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimatory przełączane:

ø0,2 I 0,6 I 1 I 3 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

580x560x140 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

660x835x720 mm

Masa:

140 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Do pobrania

Zobacz również

Usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij

Wydarzenia w ITA

W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań
fax: +48612225801

Obserwuj nas

created by: montownia.com