FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® 850 spektrometr XRF do najcieńszych powłok

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® 850 — spektrometr XRF do najcieńszych powłok

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® 850 to precyzyjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej, zaprojektowany do analizy bardzo cienkich powłok oraz pierwiastków śladowych. Wyposażony w duży detektor SDD 50 mm² i automatyczny stolik XY umożliwia szybkie i powtarzalne pomiary nawet najbardziej wymagających struktur. Doskonale sprawdza się w elektronice, półprzewodnikach oraz kontroli powłok szlachetnych.

Analiza powłok w ultracienkich zakresach

XDV® 850 mierzy powłoki tak cienkie, jak 2 nm (np. warstwy Au na lead frame’ach), co umożliwia precyzyjną kontrolę jakości w mikroelektronice i półprzewodnikach. Urządzenie jest zgodne z normami IPC dotyczącymi pomiaru powłok ochronnych. Zapewnia wiarygodne wyniki w aplikacjach, gdzie liczą się najmniejsze różnice grubości.

Wysoka szybkość pracy dzięki detektorowi 50 mm²

Duży detektor umożliwia rejestrację dużej ilości sygnału w krótkim czasie, co skraca pomiar nawet skomplikowanych systemów powłokowych. Pozwala to analizować więcej próbek w krótszym czasie, bez utraty jakości. Zwiększasz wydajność kontroli jakości, nie rezygnując z dokładności.

Automatyzacja procesów pomiarowych

Programowalny stolik i oś Z umożliwiają tworzenie sekwencji, planów pomiarowych oraz automatyczne skanowanie większych powierzchni. Urządzenie wspiera pracę operatora i eliminuje błędy pozycjonowania. Oszczędzasz czas i masz pewność, że każdy pomiar jest wykonywany identycznie.