koszyk
Start
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-µ

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-µ

Producent: HELMUT FISCHER
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z polikapilarnym układem optycznym dla zautomatyzowanych pomiarów i analiz grubości powłok i składu na bardzo małych komponentach i strukturach. Urządzenie XDV®-µ wyposażone jest w poli-kapilarną rentgenowską optykę skupiającą. To umożliwia uzyskanie bardzo małych plamek pomiarowych przy jednoczesnej dużej intensywności. Duży detektor SDD sprawia, że urządzenie jest niezwykle wydajne zarówno przy pomiarach grubości bardzo cienkich powłok jak i przy analizie śladowych ilości pierwiastków na małych strukturach i komponentach.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

+ 04

Opis produktu

Usługa pomiarowa
Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny
Profesjonalne doradztwo
Szkolenie produktowe
Szybkie ofertowanie
Oprogramowanie w języku polskim
Prezentacja zdalna

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z polikapilarnym układem optycznym dla zautomatyzowanych pomiarów i analiz grubości powłok i składu na bardzo małych komponentach i strukturach. Urządzenie XDV®-µ wyposażone jest w poli-kapilarną rentgenowską optykę skupiającą. To umożliwia uzyskanie bardzo małych plamek pomiarowych przy jednoczesnej dużej intensywności. Duży detektor SDD sprawia, że urządzenie jest niezwykle wydajne zarówno przy pomiarach grubości bardzo cienkich powłok jak i przy analizie śladowych ilości pierwiastków na małych strukturach i komponentach. 

Cechy produktu:

  • zaawansowane urządzenie z systemem polikapilarnym do analiz na mikrostrukturach (np. elektronika)
  • zoptymalizowany pod kątem mikro-analiz
  • w zależności od układu optycznego, możliwe są analizy struktur o wielkości mniejszej niż 100 μm
  • przystosowany do płaskich, lub prawie płaskich próbek
  • bardzo duża intensywność sygnału a przez to zwiększona precyzja
  • duża i przestrzenna komora pomiarowa z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych płaskich próbkach
  • zautomatyzowane pomiary przy zastosowaniu szybkiego, programowalnego stolika XY

 

Zastosowanie:

  • pomiary systemów powłok na płytkach drukowanych, wyprowadzeniach chipów oraz wafli półprzewodnikowych
  • pomiary powłok na małych elementach oraz cienkich przewodach
  • analiza składu małych struktur i komponentów

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-μ
Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

detektor półprzewodnikowy SDD

Stolik pomiarowy:

zmotoryzowany, programowalny

Zakres ruchu stolika:

250x220 mm

Maksymalna masa próbki:

20 kg

Filtry:

Ni10, Al1000,
Al500, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimator:

około ø20 μm (standard) I ø10 μm (opcja)

Wymiary wewnętrzne komory:

580x560x135 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

660x835x720 mm

Masa:

140 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Do pobrania

Zobacz również

Usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij

Wydarzenia w ITA

W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań
fax: +48612225801

Obserwuj nas

created by: montownia.com