koszyk
Start
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 232/237

Bestseller
Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 232/237

Producent: HELMUT FISCHER
Spektrometry serii XDLM jest przystosowany do analiz powłok na bardzo małych próbkach w elektronice, przemyśle motoryzacyjnym czy lotniczym.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Opis produktu

piktogram
Usługa pomiarowa
piktogram
Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny
piktogram
Profesjonalne doradztwo
piktogram
Szkolenie produktowe
piktogram
Szybkie ofertowanie
piktogram
Oprogramowanie w języku polskim
piktogram
Prezentacja zdalna

Spektrometry serii XDLM jest przystosowany do analiz powłok na bardzo małych próbkach w elektronice, przemyśle motoryzacyjnym czy lotniczym. Dzięki zastosowani lampy rentgenowskiej typu micro-focus uzyskuje się bardzo małe przestrzenie pomiarowe, dodatkowo zestaw automatycznie przełączanych kolimatorów oraz filtrów pozwala dobrać optymalne parametry wzbudzenia dla danej aplikacji. Urządzenie występuje w wersji ze stolikiem ręcznym oraz niezwykle funkcjonalnym programowalnym stolikiem pomiarowym.

Cechy produktu:

  • urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale
  • urządzenie przeznaczone do pomiarów grubości powłok na drobnych przedmiotach (od 0,2 mm)
  • cztery automatycznie przełączane kolimatory, odległość pomiarowa 0-80 mm
  • analiza głównych składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • lampa microfocus efektywnie wzbudzająca pierwiastki lekkie
  • przestrzenna komora z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych płaskich próbkach
  • cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® XDLM 232/237
Model:
FISCHERSCOPE® XDLM 232/237
Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

licznik proporcjonalny

Stolik pomiarowy:

XDLM 237 zmotoryzowany

Stolik pomiarowy:

XDLM 232 – ręczny
 

Zakres ruchu stolika:

XDLM 237 - 255x235 mm

Zakres ruchu stolika:

XDLM 232 - 95x150 mm

Maksymalna masa próbki:

20 kg

Filtry:

Ni, Al, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimatory przełączane:

ø0,1 I 0,2 I 0,05x0,05 I 0,05x0,3 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

460x495x140 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

570x650x760 mm

Masa:

120 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Certyfikaty:

EN 61010

Dowiedz się więcej

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Zobacz również

Usługi

Wydarzenia w ITA

logo-ITA
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań
fax: +48612225801
created by: montownia.com