koszyk
Start
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230/240

Bestseller
Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230/240

Producent: HELMUT FISCHER
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej przeznaczony do ręcznych lub automatycznych pomiarów grubości powłok antykorozyjnych, także na detalach produkowanych masowo.Pomiary na spektrometrze wykonywane są od góry poprzez umieszczenie próbki na stoliku pomiarowym. Umożliwia szybkie pomiary (od 5 do 30s) grubości powłok w tym układów wielowarstwowych jak np. Zn/Fe, NiZn/Fe (tzw. cynko-nikle), Ag/Cu, Cr/Ni/Cu/ABS. Dzięki zastosowaniu programowalnego stolika pomiarowego umożliwia zautomatyzowane pomiary dużych partii próbek bez angażowania operatora.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

+ 01

Opis produktu

Usługa pomiarowa
Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny
Profesjonalne doradztwo
Szkolenie produktowe
Szybkie ofertowanie
Oprogramowanie w języku polskim
Prezentacja zdalna

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej przeznaczony do ręcznych lub automatycznych pomiarów grubości powłok antykorozyjnych, także na detalach produkowanych masowo.Pomiary na spektrometrze wykonywane są od góry poprzez umieszczenie próbki na stoliku pomiarowym. Umożliwia szybkie pomiary (od 5 do 30s) grubości powłok w tym układów wielowarstwowych jak np. Zn/Fe, NiZn/Fe (tzw. cynko-nikle), Ag/Cu, Cr/Ni/Cu/ABS. Dzięki zastosowaniu programowalnego stolika pomiarowego umożliwia zautomatyzowane pomiary dużych partii próbek bez angażowania operatora.

Cechy produktu:

  • urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale
  • stosowane także dla dużych odległości pomiarowych (przesuw 0-80 mm)
  • analiza głównych składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • odpowiedni dla pomiarów na powierzchniach od 0,5 mm średnicy
  • przestrzenna komora z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych płaskich próbkach

 

Zastosowanie:

  • pomiary masowo produkowanych, pokrytych galwanicznie detali
  • zabezpieczenia antykorozyjne, chrom na niklu/miedzi
  • analiza kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • złoto, przemysł jubilerski i zegarmistrzowski

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230/240
Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

licznik proporcjonalny

Stolik pomiarowy:

XDL 230 - ręczny
 

Stolik pomiarowy:

XDL 240 - zmotoryzowany

Zakres ruchu stolika:

XDL 230 - 95x150 mm

Zakres ruchu stolika:

XDL 240 - 255x235 mm

Maksymalna masa próbki:

20 kg

Filtry:

jeden, stały

Lampa rentgenowska:

standardowa

Kolimator:

ø0,3 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

460x495x140 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

570x650x760 mm

Masa:

120 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Do pobrania

Zobacz również

Usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij

Wydarzenia w ITA

W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań
fax: +48612225801

Obserwuj nas

created by: montownia.com