koszyk
Start
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 220/222

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 220/222

Producent: HELMUT FISCHER
Spektrometr XAN 220 został zoptymalizowany do szybkich i nieniszczących analiz biżuterii, metali szlachetnych, stopów dentystycznych, białego i żółtego złota, platyny, srebra, rodu i wszystkich stopów i powłok jubilerskich. Prawidłowe stosowanie spektrometru daje wyniki porównywalne z metodą kupelacyjną bez niszczenia próbki. Spektrometr wyposażony jest w nowy wysokorozdzielczy detektor SDD. W efekcie zapewnia najwyższą precyzję i bardzo niskie progi detekcji. W czasie rzędu sekund zostaje określona koncentracja poszczególnych pierwiastków w próbce.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

+ 02

Opis produktu

Usługa pomiarowa
Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny
Profesjonalne doradztwo
Szkolenie produktowe
Szybkie ofertowanie
Oprogramowanie w języku polskim
Prezentacja zdalna

Spektrometr XAN 220 / 222 został zoptymalizowany do szybkich i nieniszczących analiz biżuterii, metali szlachetnych, stopów dentystycznych, białego i żółtego złota, platyny, srebra, rodu i wszystkich stopów i powłok jubilerskich. Prawidłowe stosowanie spektrometru daje wyniki porównywalne z metodą kupelacyjną bez niszczenia próbki. Spektrometr wyposażony jest w nowy wysokorozdzielczy detektor SDD. W efekcie zapewnia najwyższą precyzję i bardzo niskie progi detekcji. W czasie rzędu sekund zostaje określona koncentracja poszczególnych pierwiastków w próbce.

Cechy produktu:

  • urządzenie przeznaczone do badania składu złota i metali szlachetnych
  • badanie grubości powłok w przemyśle jubilerskim i złotniczym
  • zoptymalizowany pod kątem analizy stopów złotniczych
  • dzięki zastosowaniu detektora SDD pozwala na zaawansowane analizy składu


Zastosowanie:

  • analizy złota i metali szlachetnych w przemyśle jubilerskim i zegarmistrzowskim
  • analizy stopów dentystycznych

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 220/222
Kierunek pomiaru:

od dołu do góry

Typ detektora:

detektor półprzewodnikowy SDD

Stolik pomiarowy:

XAN 222 – ręczny

Stolik pomiarowy:

XAN 220 – nieruchomy

Zakres ruchu stolika:

XAN 222 - 30x40 mm

Zakres ruchu stolika:

XAN 220 - nie dotyczy

Maksymalna masa próbki:

XAN 220 – 13 kg

Maksymalna masa próbki:

XAN 222 – 2 kg

Filtry:

Al

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimator:

ø1 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

XAN 222 - 310x320x174 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

XAN 220 - 310x320x90 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Masa:

45 kg

Wymiary:

XAN 220 - 310x320x90 mm

Wymiary:

XAN 222 - 444x588x365

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Do pobrania

Zobacz również

Usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij

Wydarzenia w ITA

W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań
fax: +48612225801

Obserwuj nas

created by: montownia.com