Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline Waveline W800/W900 Surfscan

Producent: JENOPTIK (HOMMEL – ETAMIC)

Stacjonarny przyrząd Waveline W800/W900 Surfscan firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) umożliwia pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu. Duży zakres pracy głowicy umożliwia pomiar na powierzchniach zakrzywionych i pochyłych. Uniwersalna stacja pomiarowa może być stosowana do szerokiego zakresu zadań i stanowi atrakcyjną alternatywę dla tradycyjnych profilometrów wyposażonych w oddzielny system pomiaru konturu i chropowatości.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Dowiedz się więcej

+ 02

Opis produktu

Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny

Profesjonalne doradztwo

Szkolenie produktowe

Szybkie ofertowanie

Oprogramowanie w języku polskim

Usługa wzorcowania

Prezentacja w ITA

Cechy produktu:

pomiar metodą stykową
możliwość pomiaru chropowatości i konturu w jednym przejściu
intuicyjne oprogramowanie sterujące i raportujące EVOVIS, dostępne w języku polskim
wysoka rozdzielczość 3 nm w zakresie pomiarowym 8 mm lub 6 nm w zakresie 16 mm
możliwość wykonywania pomiarów topografii powierzchni (opcja)
magnetyczne mocowanie końcówek pomiarowych
oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC
Waveline W900 wyposażony jest w dodatkowy adapter dla głowicy TKU400

W900 Surfscan

W800/W900 Surfscan

W900 Surfscan z opcjonalną głowicą TKU400

Oprogramowanie

Oprogramowanie EVOVIS

Oprogramowanie EVOVIS pozwala na ocenę chropowatości i konturu w zależności od konfiguracji urządzenia. W przypadku obsługi urządzeń Surfscan i Nanoscan daje możliwość wyznaczenia chropowatości i konturu w dowolnym miejscu na zebranym zarysie.

Szczegóły

Oprogramowanie WAVELINE MAP

Oprogramowanie WAVELINE MAP działające w standardzie Mountains służy do oceny parametrów chropowatości 2D i 3D na podstawie danych uzyskanych z systemów T8000 oraz Nanoscan

Szczegóły

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800/W900 Surfscan

Model:

Głowica:

Surfscan

Surfscan, opcjonalnie TKU400

Zakres pomiarowy:

8 lub 16 mm

Rozdzielczość:

3 lub 6 nm

Nacisk pomiarowy:

0-20 mN

Identyfikacja ramienia pomiarowego:

tak

Regulacja nacisku pomiarowego:

tak

Końcówka pomiarowa:

kontur ostrze 20 µm

Końcówka pomiarowa:

chropowatość diamentowa 2 µm/90˚

Mocowanie końcówki pomiarowej:

magnetyczne

Zakres pomiarowy w osi X:

120/200 mm

Rozdzielczość w osi X:

0,1 µm

0,01 µm

Prędkość pozycjonowania w osi X:

do 20 mm/s

do 200 mm/s

Prostoliniowość jednostki napędowej:

≤0,4 µm/120 mm
≤0,6 µm/200 mm

≤0,2 µm/120 mm
≤0,4 µm/200 mm

Zakres pionowy przesuwu kolumny pomiarowej:

500 lub 800 mm

Funkcja automatycznego zerowania:

tak

Prędkość pozycjonowania w osi Z:

do 20 mm/s

do 80 mm/s

Powtarzalność pozycjonowania w osi Z:

≤50 µm

≤10 µm

Wymiary płyty granitowej:

700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm

Opcje:

stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria

Do pobrania

Broszura informacyjna urządzeń Waveline W800/W900 Pobierz

Dowiedz się więcej

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Zamów ofertę

Poproś o kontakt

Zadzwoń do nas

Twój e-mail

Wiadomość

Wyślij

Zobacz również

Usługi

Stykowe i optyczne pomiary nierówności i topografii powierzchni

Bardzo szeroki zakres pomiarów parametrów mikronierówności (chropowatości) na urządzeniach laboratoryjnych bądź przenośnych oraz wyznaczanie topografii powierzchni.

Zobacz

Powiązane akcesoria i produkty

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline W800RC/W900RC

Waveline W800RC/W900RC firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do pomiaru chropowatości...

Wstecz

Strona główna

Powrót do góry

Systemy pomiarowe

Systemy narzędziowe

Automatyka pomiarowa i inspekcyjna

Usługi ITA

TARGI ITM INDUSTRY EUROPE

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline Waveline W800/W900 Surfscan

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Opis produktu