koszyk

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline Waveline W800/W900 Surfscan

Stacjonarny przyrząd Waveline W800/W900 Surfscan firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) umożliwia pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu. Duży zakres pracy głowicy umożliwia pomiar na powierzchniach zakrzywionych i pochyłych. Uniwersalna stacja pomiarowa może być stosowana do szerokiego zakresu zadań i stanowi atrakcyjną alternatywę dla tradycyjnych profilometrów wyposażonych w oddzielny system pomiaru konturu i chropowatości.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

+ 02

Opis produktu

Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny
Profesjonalne doradztwo
Szkolenie produktowe
Szybkie ofertowanie
Oprogramowanie w języku polskim
Usługa wzorcowania
Prezentacja w ITA

Stacjonarny przyrząd Waveline W800/W900 Surfscan firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) umożliwia pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu. Duży zakres pracy głowicy umożliwia pomiar na powierzchniach zakrzywionych i pochyłych. Uniwersalna stacja pomiarowa może być stosowana do szerokiego zakresu zadań i stanowi atrakcyjną alternatywę dla tradycyjnych profilometrów wyposażonych w oddzielny system pomiaru konturu i chropowatości.

Cechy produktu:

  • pomiar metodą stykową
  • możliwość pomiaru chropowatości i konturu w jednym przejściu
  • intuicyjne oprogramowanie sterujące i raportujące EVOVIS, dostępne w języku polskim
  • wysoka rozdzielczość 3 nm w zakresie pomiarowym 8 mm lub 6 nm w zakresie 16 mm
  • możliwość wykonywania pomiarów topografii powierzchni (opcja)
  • magnetyczne mocowanie końcówek pomiarowych
  • oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC
  • Waveline W900 wyposażony jest w dodatkowy adapter dla głowicy TKU400

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800/W900 Surfscan
Model:
W800 Surfscan
W900 Surfscan
Głowica:
Surfscan
Surfscan, opcjonalnie TKU400
Zakres pomiarowy:
8 lub 16 mm
8 lub 16 mm
Rozdzielczość:
3 lub 6 nm
3 lub 6 nm
Nacisk pomiarowy:
0-20 mN
0-20 mN
Identyfikacja ramienia pomiarowego:
tak
tak
Regulacja nacisku pomiarowego:
tak
tak
Końcówka pomiarowa:
kontur ostrze 20 µm
kontur ostrze 20 µm
Końcówka pomiarowa:
chropowatość diamentowa 2 µm/90˚
chropowatość diamentowa 2 µm/90˚
Mocowanie końcówki pomiarowej:
magnetyczne
magnetyczne
Zakres pomiarowy w osi X:
120/200 mm
120/200 mm
Rozdzielczość w osi X:
0,1 µm
0,01 µm
Prędkość pozycjonowania w osi X:
do 20 mm/s
do 200 mm/s
Prostoliniowość jednostki napędowej:
≤0,4 µm/120 mm
≤0,6 µm/200 mm
≤0,2 µm/120 mm
≤0,4 µm/200 mm
Zakres pionowy przesuwu kolumny pomiarowej:
500 lub 800 mm
500 lub 800 mm
Funkcja automatycznego zerowania:
tak
tak
Prędkość pozycjonowania w osi Z:
do 20 mm/s
do 80 mm/s
Powtarzalność pozycjonowania w osi Z:
≤50 µm
≤10 µm
Wymiary płyty granitowej:
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
Opcje:
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria

Do pobrania

Zobacz również

Usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij

Wydarzenia w ITA

W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań
fax: +48612225801

Obserwuj nas

created by: montownia.com