TopMap Micro.View jest łatwym w użyciu i kompaktowym profilometrem optycznym. Łączy w sobie wyjątkową wydajność i przystępną cenę z potężnym rozwiązaniem metrologicznym. Dzięki rozszerzonemu zakresowi pomiarowemu 100 mm w osi Z i technologii ciągłego skanowania CST, Micro.View mierzy złożone topografie z rozdzielczością nm. Ta kompaktowa konfiguracja zawiera zintegrowaną elektronikę, dzięki czemu zajmuje mało miejsca a inteligentny algorytm wyszukiwania ostrości upraszcza i przyspiesza procedurę pomiaru.