PHASCOPE®PMP10 DUPLEX

Bestseller

Miernik do jednoczesnego pomiaru grubości cynku i lakieru

Producent: HELMUT FISCHER

PHASCOPE® PMP10 DUPLEX wraz z sondą ESG20 – został zaprojektowany specjalnie dla przemysłu motoryzacyjnego do pomiaru powłok typu Duplex (Farba/Cynk na stali). Grubości farby oraz cynku są mierzone w trakcie jednego przyłożenia sondy i wyświetlane jako dwie oddzielne pozycje na wyświetlaczu. Dzięki automatycznemu rozpoznawanie materiału podłoża umożliwia szybkie przejście od pomiarów na stali do pomiarów na aluminium bez stosowania dodatkowej sondy.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Dowiedz się więcej

Miernik do jednoczesnego pomiaru grubości cynku i lakieru PHASCOPE®PMP10 DUPLEX

+ 02

Opis produktu

Prezentacja u klienta

Usługa pomiarowa

Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny

Profesjonalne doradztwo

Szkolenie produktowe

Szybkie ofertowanie

Oprogramowanie w języku polskim

Prezentacja w ITA

Prezentacja zdalna

Cechy produktu:

ręczne urządzenie do szybkich i precyzyjnych pomiarów powłok typu duplex (jednoczesny pomiar grubości lakieru i cynku lub lakieru/Al)
sonda ESG20 wykorzystuje metody pomiarowe zgodnie z DIN EN ISO 21968 (fazo-czuła metoda prądów wirowych); DIN EN ISO 2178 (indukcja magnetyczna); DIN EN ISO 2360 (amplitudowa metoda prądów wirowych)
dostarczany z oprogramowaniem Fischer Data Centerposiadającym następujące funkcje: Pobieranie i archwizowaniem danych pomiarowych, wyczepujące obliczenia statystyczne z graficznym przedstawieniem wyników, łatwe tworzenie i drukowanie raportów pomiarowych

Zastosowania:

powłoki lakiernicze i cynkowe (głównie Duplex) na karoseriach samochodowych
powłoki na blachach dachowych
powłoki typu KTL/Cynk/Stal

Oprogramowanie

Oprogramowanie FISCHER DataCenter

Oprogramowanie przeznaczone do wszystkich mierników firmy FISCHER wyposażonych w port komunikacyjny. Rozszerza ono znacząco możliwości urządzeń o dodatkowe funkcje raportowania i archiwizacji danych pomiarowych. Oprogramowanie dostarczane bezpłatnie wraz z urządzeniami firmy FISCHER.

Szczegóły

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna PHASCOPE PMP10 Duplex

Metoda pomiarowa:

Indukcja magnetyczna

Indukcja + fazo-czuła prądów wirowych

Amplitudowa prądów wirowych

Tryb pomiarowy:

DUAL

DUPLEX

DUPLEX lub DUAL

Aplikacja pomiarowa:

NF/Fe

Iso/Zn/Fe

Iso/NF

Zakres pomiarowy:

0-700 μm

Iso 0-550 μm

Zn 0-150 μm

0-2000 μm

Dokładność:

0-100 μm ≤ 1 μm

100-400 μm ≤ 1 %

400-700 ≤ 2%

Zn 2-30 μm ≤ 0.5 μm

Iso 2-100 μm ≤ 1 μm

Iso 100-500 μm ≤ 1%

5-100 μm ≤ 2 μm

100-2000 μm ≤ 2 %

Powtarzalność:

0-100 μm ≤ 0.5 μm

100-700 μm ≤ 0.5%

Iso 2-100 μm ≤ 0.5 μm

Iso 100-500 μm ≤ 0.5 %

5-100 μm ≤ 0.5 μm

100-2000 μm ≤ 0.5 %

Do pobrania

Broszura informacyjna PHASCOPE PMP10 Duplex Pobierz

Blachy dachowe Duplex Budmat Pobierz

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Zobacz również

Usługi

Pomiary grubości powłok

Nieniszczące pomiary grubości powłok zarówno metalicznych, jak i niemetalicznych na różnych podłożach, pomiary na bardzo małych przedmiotach.

Zobacz

Powiązane akcesoria i produkty

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-µ

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z polikapilarnym układem optycznym dla zautomatyzowanych...

Wszechstronna, modułowa stacja pomiarowa FISCHERSCOPE MMS PC2

Urządzenie nabiurkowe do uniwersalnych pomiarów grubości powłok oraz badań materiałowych,...

Wstecz

Strona główna

Powrót do góry

Systemy pomiarowe

Systemy narzędziowe