Zaawansowany miernik grubości powłok PHASCOPE®PMP10

Producent: HELMUT FISCHER

Przenośny PHASCOPE® PMP10 został zaprojektowany z myślą o przemyśle galwanicznym i elektronicznym (produkcja płytek PCB). W urządzeniu zastosowano metodę fazo-czułą prądów wirowych (ISO 21 968), umożliwiając tym samym pomiary powłok metalicznych na różnych podłożach. Ponadto specjalnie zaprojektowane sondy umożliwiają pomiary grubości powłok miedzianych w otworach płytek PCB, pomiar niklu na stali czy grubości powłoki cynkowej na elementach o dużej chropowatości.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Dowiedz się więcej

+ 03

Opis produktu

Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny

Profesjonalne doradztwo

Szkolenie produktowe

Szybkie ofertowanie

Oprogramowanie w języku polskim

Prezentacja zdalna

Ręczne urządzenie do niszczących pomiarów grubości powłok przewodzących prąd na różncyh podłożach, również na małych detalach i powierzchniach chropowatych. Przenośny PHASCOPE® PMP10 został zaprojektowany z myślą o przemyśle galwanicznym i elektronicznym (produkcja płytek PCB). W urządzeniu zastosowano metodę fazo-czułą prądów wirowych (ISO 21 968), umożliwiając tym samym pomiary powłok metalicznych na różnych podłożach. Ponadto specjalnie zaprojektowane sondy umożliwiają pomiary grubości powłok miedzianych w otworach płytek PCB, pomiar niklu na stali czy grubości powłoki cynkowej na elementach o dużej chropowatości.

Cechy produktu:

ręczne urządzenie do szybkich i precyzyjnych pomiarów grubości powłok zgodnie z fazoczułą metodą prądów wirowych DIN EN 21968
interfejs do przesyłania danych do komputera
wyświetlanie danych statystycznych takich jak wartość średnia, odchylenie standardowe, min, max, zakres
pamięć dla 100 aplikacji pomiarowych z możliwością podziału na bloki
współpraca z oprogramowaniem FISCHER DataCenter
zasilanie akumulatorowe

Zastosowania:

powłoki z cynku, miedzi, aluminium na stali i żeliwie (sonda ESD20Zn - chropowate powierzchnie)
powłoki cynkowe na małych stalowych detalach (sonda ESD2.4 - pomiary na małych powierzchniach)
powłoki z niklu galwanicznego na stali i żeliwie (sonda ESD20Ni, 60 KHz lub 240 kHz)

pomiar-grubosci-cynku-na-wkretach-phascopepmp

pomiar-grubosci-miedzi-w-otworach-plytek

Oprogramowanie

Oprogramowanie FISCHER DataCenter

Oprogramowanie przeznaczone do wszystkich mierników firmy FISCHER wyposażonych w port komunikacyjny. Rozszerza ono znacząco możliwości urządzeń o dodatkowe funkcje raportowania i archiwizacji danych pomiarowych. Oprogramowanie dostarczane bezpłatnie wraz z urządzeniami firmy FISCHER.

Szczegóły

Specyfikacja

Rodzaje sond pomiarowych: ESD20Ni, ESD20Zn, ESD2.4

Sonda:

Aplikacja:

grubość powłoki niklu galwanicznego na stali, nawet przez powłokę lakierniczą

grubość powłoki cynku galwanicznego na stali, nawet przez powłokę lakierniczą

pomiar grubości cynku na małych powierzchniach

Częstotliwość:

60 kHz I 240 kHz

240 kHz

1,25 MHz

Zakres pomiarowy:

2-100 μm I 1-50 μm

2-200 μm

1-150 μm

Pomiar przez powłokę nieprzewodzącą:

do 200 μm

do 400 μm

do 250 μm

Rodzaje sond pomiarowych: ESD20Cu, ESL080B, ESL080V

Sonda:

Aplikacja:

grubość powłoki miedzianej na powierzchni płytek PCB, nawet pod powłoką lakierniczą

grubość powłoki miedzianej w otworach płytek obwodów drukowanych. Odpowiednie dla otworów o średnicy od 0,8 do 2 mm i grubości płytki od 0,5 do 8 mm. Dla sondy ESL080V dostępne pierścienie regulujące głębokość pomiaru