Nowość

Mierniki grubości powłok z wymiennymi sondami serii DMP 30-40

Seria DMP to nowa generacja ręcznych mierników z wymiennymi sondami umożliwiająca nieniszczące i bardzo precyzyjne pomiary grubości powłok. Grubościomierze serii DMP to łatwe w obsłudze i uniwersalne przyrządy pomiarowe stanowiące idealne rozwiązanie do kontroli jakości zarówno próbek losowych, jak i całych serii podczas bieżącej produkcji i przy odbiorze towarów. Wystarczy wybrać przyrząd z rodziny DMP odpowiedni do danego zadania pomiarowego i połączyć go z precyzyjnymi sondami pomiarowymi. Wszystkie mierniki serii DMP30 i DMP40 umożliwiają zapamiętanie do 2500 kalibracji przyspieszając i ułatwiając pomiary na detalach o zróżnicowanym kształcie.

Cechy produktu:

• urządzenia wykorzystują metodę indukcji magnetycznej i/lub metodę prądów wirowych
• typowe zastosowania: metoda indukcji magnetycznej (np. powłoki z cynku, miedzi, farby na stali), metoda prądów wirowych (np. powłoki anodowe, lakiernicze na aluminium)
• automatyczne rozpoznawanie wymiennych sond
• automatyczne wykrycie rodzaju materiału podłoża (DMP40)
• transfer i ładowanie przez USB, transmisja Bluetooth, oprogramowanie Fischer Tactile Suite
• wyświetlanie danych statystycznych takich jak wartość średnia, odchylenie standardowe, min, max, zakres
• współpraca z oprogramowaniem FISCHER TactileSuite
• aluminiowa obudowa z ochroną przed upadkami oraz wyświetlacz chroniony przez tzw. Gorilla Glass
• solidna aluminiowa obudowa, gumowe ochraniacze, stopień ochrony: IP64
• wymienne standardowe akumulatory – wystarczające na 24h pracy
• funkcja sprawdzania kalibracji

DELTASCOPE DMP 30

Do pomiarów grubości powłok na podłożu ferrytycznym (F). Przykład: pokrycia z chromu, miedzi i cynku oraz powłoki malarskie, lakiernicze, emaliowe lub z tworzywa sztucznego na podłożach stalowych i żelaznych.

ISOSCOPE DMP 30

Do pomiaru grubości powłok malarskich, lakierniczych lub z tworzywa sztucznego na nieferromagnetycznych podłożach metalowych (NF) lub powłok anodowanych na aluminium oraz przewodzących powłok na nieprzewodzących podłożach.

DUALSCOPE DMP 40

Dzięki automatycznemu wykrywaniu materiału podłoża oraz połączeniu obu metod pomiarowych te uniwersalne przyrządy umożliwiają pomiar grubości powłok na podłożach wykonanych ze stali i żelaza (F), metali nieferromagnetycznych (NF) lub materiałów nieprzewodzących. W jednym procesie pomiarowym możliwy jest także pomiar grubości powłok typu „duplex” (lakier/cynk) na podłożach stalowych. Grubości powłoki lakierniczej i cynkowej są wówczas prezentowane osobno.