Mierniki grubości powłok z wymiennymi sondami serii FMP 10-20

Sprawdzone ręczne mierniki grubości powłok z wymiennymi sondami umożliwiają nieniszczące i bardzo precyzyjne pomiary grubości powłok. Te łatwe w obsłudze i uniwersalne przyrządy pomiarowe stanowią idealne rozwiązanie do kontroli jakości zarówno próbek losowych, jak i całych serii podczas bieżącej produkcji i przy odbiorze towarów. Wystarczy wybrać przyrząd z rodziny FMP odpowiedni do danego zadania pomiarowego i połączyć go z precyzyjnymi sondami pomiarowymi.

Cechy produktu:

• urządzenia wykorzystują metodę indukcji magnetycznej i/lub metodę prądów wirowych
• typowe zastosowania: metoda indukcji magnetycznej (np. powłoki z cynku, miedzi, farby na stali), metoda prądów wirowych (np. powłoki anodowe, lakiernicze na aluminium)
• automatyczne rozpoznawanie wymiennych sond
• automatyczne wykrycie rodzaju materiału podłoża (FMP20, FMP40, FMP100, FMP150)
• interfejs USB do przesyłania danych do komputera
• wyświetlanie danych statystycznych takich jak wartość średnia, odchylenie standardowe, min, max, zakres
• współpraca z oprogramowaniem FISCHER DataCenter
• zasilanie bateryjne 4xAA

Zastosowania:

• obróbka i nanoszenie farb
• galwanizernie
• kontrola dostaw
• anodownie

DELTASCOPE® FMP10

Pomiary metalicznych nieferromagnetycznych powłok np. chrom, miedź, cynk, jak również farba, lakier, emalia czy tworzywa sztuczne na stali i żeliwie. (Pomiar metodą indukcji magnetycznej zgodnie z normą ISO 2178, ASTM D7091)

ISOSCOPE® FMP10

Pomiary powłok wykonanych z farby, lakieru, tworzywa sztucznego na podłożach z metali nieferromagnetycznych, anodowanych na aluminium oraz z przewodzących prąd powłok na podłożach prądu nieprzewodzących. (Pomiar z wykorzystaniem metody prądów wirowych zgodnie z normą ISO 2360, ASTM D7091)

DUALSCOPE® FMP20

Bazuje na automatycznym rozpoznawaniu materiału podłoża i na kombinacji dwóch metod pomiarowych(indukcji magnetycznej i prądów wirowych zgodnie z ISO 2178, ASTM D7091 oraz ISO 2360), to uniwersalne urządzenie może zostać wykorzystane do pomiaru licznych powłok, zarówno na żeliwie/stali jak i na nieferromagnetycznych metalach i materiałach nieprzewodzących.