koszyk koszyk
Start
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy Waveline W800R/W900R

Nowość
Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W800R/W900R

Producent: JENOPTIK (HOMMEL – ETAMIC)

Waveline W800R/W900R firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do pomiaru chropowatości. Modułowa konstrukcja urządzenia zapewnia możliwość obliczania wszystkich znormalizowanych parametrów profilu chropowatości i falistości oraz ocenę cech geometrycznych.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt

Opis produktu

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W800R
+ 02

Waveline W800R/W900R firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do pomiaru chropowatości. Modułowa konstrukcja urządzenia zapewnia możliwość obliczania wszystkich znormalizowanych parametrów profilu chropowatości i falistości oraz ocenę cech geometrycznych, takich jak: odległości, kąty, promienie, itp. Koncepcja “plug and measure” pozwala na indywidualną konfigurację urządzenia. Zestaw dodatkowo może być wyposażony w stolik CNC umożliwiający sterowanie przemieszczaniem mierzonego elementu w kierunku osi Y, co umożliwia uzyskanie topografii powierzchni. W Najnowszej generacji urządzeń serii Waveline do pomiaru konturu i chropowatości głowice pomiarowe charakteryzują się zwiększoną rozdzielczością, co pozwala przeprowadzać jeszcze dokładniejsze pomiary. Kilkukrotnie wyższe prędkości pozycjonowania powalają skrócić czas trwania programu pomiarowego do minimum.

Cechy produktu

  • pomiar metodą stykową
  • intuicyjne oprogramowanie sterujące i raportujące EVOVIS,
  • dostępne w języku polskim
  • duży zakres pomiarów chropowatości do 1600 µm
  • możliwość zastosowania w hali produkcyjnej i laboratorium
  • oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC
  • wyposażony w kontroler do szybkiego pozycjonowania osi
Waveline W800 - szybkie mocowanie końcówki pomiarowej
Waveline W800 - szybkie mocowanie końcówki pomiarowej
Waveline W800 - pulpit sterujący urządzeniem Waveline W800 - pulpit sterujący urządzeniem
Waveline W800 - pulpit sterujący urządzeniem
Waveline W800R - Głowica TKU 400
Waveline W800R - głowica  do pomiaru chropowatości
wraz z wymiennymi końcówkami

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800R/W900R
Model:
W800R
W900R
Głowica:
TKU400
TKU400
Zakres pomiarowy:
do 1600 µm
do 1600 µm
Rozdzielczość:
od 1 nm
od 1 nm
Nacisk pomiarowy:
0-20 mN
0-20 mN
Identyfikacja ramienia pomiarowego:
tak
tak
Regulacja nacisku pomiarowego:
tak
tak
Końcówka pomiarowa:
chropowatość diamentowa 2 µm/90˚
chropowatość diamentowa 2 µm/90˚
Mocowanie końcówki pomiarowej:
magnetyczne
magnetyczne
Zakres pomiarowy w osi X:
120/200 mm
120/200 mm
Rozdzielczość w osi X:
0,1 µm
0,01 µm
Prędkość pozycjonowania w osi X:
do 20 mm/s
do 200 mm/s
Prostoliniowość jednostki napędowej:
≤0,4 µm/120 mm
≤0,6 µm/200 mm
≤0,2 µm/120 mm
≤0,4 µm/200 mm
Zakres pionowy przesuwu kolumny pomiarowej:
500 lub 800 mm
500 lub 800 mm
Funkcja automatycznego zerowania:
tak
tak
Prędkość pozycjonowania w osi Z:
do 20 mm/s
do 80 mm/s
Powtarzalność pozycjonowania w osi Z:
≤50 µm
≤10 µm
Wymiary płyty granitowej:
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
Opcje:
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria

Oprogramowanie

Oprogramowanie WAVELINE MAP

Oprogramowanie WAVELINE MAP działające w standardzie Mountains służy do oceny parametrów chropowatości 2D i 3D na podstawie danych uzyskanych z systemów T8000 oraz Nanoscan

Obsługa programu jest bardzo prosta i intuicyjna. Dane pomiarowe są analizowane zgodnie z aktualnymi normami.

Cechy:

  • ocena parametrów 2D i 3D zgodnie z normami międzynarodowymi ISO 25178, ISO 4287, ASME B46.1 oraz krajowymi DIN (Niemcy), JIS (Japonia), GB/T (Chiny), NF (Francja), BSI (Wielka Brytania), UNI (Włochy), UNE (Hiszpania)
  • pełen zestaw filtrów chropowatości i falistości zgodne z serią norm ISO 16610
  • duże możliwości analiz obejmujące krzywą udziału nośnego, zużycie, porównywanie i odejmowanie powierzchni itp.
  • pomiary odległości, kątów, powierzchni, objętości oraz wysokości
  • porównanie z kształtem referencyjnym (sfera, cylinder, płaszczyzna)
Oprogramowanie WAVELINE MAP
Oprogramowanie WAVELINE MAP
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Broszura informacyjna urządzeń Waveline W800/W900

Skorzystaj z usługi

Do góry

Zapytaj o produkt

Wyślij

Zobacz również

Wydarzenia w ITA

W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.


ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań +48612225800 +48612225800 fax: +48612225801

Obserwuj nas

Systemy pomiarowe

Profilometry i konturografy Urządzenia do badania odchyłek kształtu Optyczne systemy oceny stanu powierzchni Skanery elementów obrotowych Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii Optyczne urządzenia do pomiaru nierówności i kształtu Skanery 3D Systemy wspomagania projektowania Projektory pomiarowe Optyczne maszyny pomiarowe 3D Współrzędnościowe maszyny pomiarowe Mikroskopy Endoskopy Tomografy rentgenowskie Kabiny rentgenowskie Średnicówki Diatest Systemy mocowania przedmiotów Wzorce długości i kąta Płyty i wzorce granitowe Klasyczne przyrządy pomiarowe Mierniki grubości powłok Przyrządy do badania właściwości materiałowych i powłok Spektrometry Dyfraktometry rentgenowskie Twardościomierze Przyrządy do badania gęstości Systemy pomiaru siły i momentu Maszyny wytrzymałościowe Optyczne systemy pomiaru deformacji 3D (DIC) Urządzenia do badania żywności Akcesoria
wstecz
O firmie Baza wiedzy