Opis produktu
Waveline W800R/W900R firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do pomiaru chropowatości. Modułowa konstrukcja urządzenia zapewnia możliwość obliczania wszystkich znormalizowanych parametrów profilu chropowatości i falistości oraz ocenę cech geometrycznych, takich jak: odległości, kąty, promienie, itp. Koncepcja “plug and measure” pozwala na indywidualną konfigurację urządzenia. Zestaw dodatkowo może być wyposażony w stolik CNC umożliwiający sterowanie przemieszczaniem mierzonego elementu w kierunku osi Y, co umożliwia uzyskanie topografii powierzchni. W Najnowszej generacji urządzeń serii Waveline do pomiaru konturu i chropowatości głowice pomiarowe charakteryzują się zwiększoną rozdzielczością, co pozwala przeprowadzać jeszcze dokładniejsze pomiary. Kilkukrotnie wyższe prędkości pozycjonowania powalają skrócić czas trwania programu pomiarowego do minimum.
Cechy produktu
- pomiar metodą stykową
- intuicyjne oprogramowanie sterujące i raportujące EVOVIS,
- dostępne w języku polskim
- duży zakres pomiarów chropowatości do 1600 µm
- możliwość zastosowania w hali produkcyjnej i laboratorium
- oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC
- wyposażony w kontroler do szybkiego pozycjonowania osi
wraz z wymiennymi końcówkami
Specyfikacja
Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800R/W900R≤0,6 µm/200 mm
≤0,4 µm/200 mm
Oprogramowanie
Oprogramowanie WAVELINE MAP
Oprogramowanie WAVELINE MAP działające w standardzie Mountains służy do oceny parametrów chropowatości 2D i 3D na podstawie danych uzyskanych z systemów T8000 oraz NanoscanObsługa programu jest bardzo prosta i intuicyjna. Dane pomiarowe są analizowane zgodnie z aktualnymi normami.
Cechy:
- ocena parametrów 2D i 3D zgodnie z normami międzynarodowymi ISO 25178, ISO 4287, ASME B46.1 oraz krajowymi DIN (Niemcy), JIS (Japonia), GB/T (Chiny), NF (Francja), BSI (Wielka Brytania), UNI (Włochy), UNE (Hiszpania)
- pełen zestaw filtrów chropowatości i falistości zgodne z serią norm ISO 16610
- duże możliwości analiz obejmujące krzywą udziału nośnego, zużycie, porównywanie i odejmowanie powierzchni itp.
- pomiary odległości, kątów, powierzchni, objętości oraz wysokości
- porównanie z kształtem referencyjnym (sfera, cylinder, płaszczyzna)
