Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy Waveline W800/W900 Nanoscan

Nowość
Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturuWaveline W800/W900 Nanoscan

Producent: JENOPTIK (HOMMEL – ETAMIC)

Stacjonarny przyrząd Waveline W800/W900 Nanoscan firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to ultra precyzyjny system do równoczesnego pomiaru konturu i chropowatości w szerokim zakresie pomiarowym. Dużą elastyczność aplikacji zapewnia szeroka gama możliwych do zastosowania ramion pomiarowych. Aktywny system poziomowania i tłumienia drgań oraz możliwość pracy w trybie CNC zapewnia wysoką powtarzalność i pewność pomiaru. Możliwość wykonania topografii powierzchni na długich odcinkach.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt

Opis produktu

Stacjonarny przyrząd Waveline W800/W900 Nanoscan firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to ultra precyzyjny system do równoczesnego pomiaru konturu i chropowatości w szerokim zakresie pomiarowym. Dużą elastyczność aplikacji zapewnia szeroka gama możliwych do zastosowania ramion pomiarowych. Aktywny system poziomowania i tłumienia drgań oraz możliwość pracy w trybie CNC zapewnia wysoką powtarzalność i pewność pomiaru. Możliwość wykonania topografii powierzchni na długich odcinkach. Seria urządzeń Waveline W900 dedykowana jest Klientów poszukujących systemów najwyższej dokładności przy pomiarach chropowatości i konturu.

Cechy:

  • wysoka rozdzielczość 0,3 nm w zakresie pomiarowym 24 mm lub 0,6 nm w zakresie 48 mm
  • długość skanowania powierzchni do 200 mm
  • pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu
  • prędkość pozycjonowania do 200 mm/s
  • rozdzielczość osi X na poziomie 0,01 µm
  • automatyczna detekcja ramienia pomiarowego
  • oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC
  • kontroler Movecontrol ułatwiający i przyspieszający obsługę w trybie ręcznym
  • elektroniczne ustawienie siły docisku końcówki pomiarowej
  • pomiar w obu kierunkach (do dołu i do góry)
  • Waveline W900 wyposażony jest w dodatkowy adapter dla głowicy TKU400
Końcówki pomiarowe dedykowane do głowicy Nanoscan
Głowica Nanoscan do pomiaru chropowatości i konturu
Szybka wymiana ramienia pomiarowego z mocowaniem magnetycznym

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800/W900 Nanoscan
Model:
W800 Nanoscan
W900 Nanoscan
Głowica:
Nanoscan
Nanoscan, opcjonalnie TKU400
Zakres pomiarowy:
24 lub 48 mm
24 lub 48 mm
Rozdzielczość:
0,3 lub 0,6 nm
0,3 lub 0,6 nm
Nacisk pomiarowy:
0-20 mN
0-20 mN
Identyfikacja ramienia pomiarowego:
tak
tak
Regulacja nacisku pomiarowego:
tak
tak
Końcówka pomiarowa:
kontur ostrze 20 µm
kontur ostrze 20 µm
Końcówka pomiarowa:
chropowatość diamentowa 2 µm/90˚
chropowatość diamentowa 2 µm/90˚
Mocowanie końcówki pomiarowej:
magnetyczne
magnetyczne
Zakres pomiarowy w osi X:
120/200 mm
120/200 mm
Rozdzielczość w osi X:
0,1 µm
0,01 µm
Prędkość pozycjonowania w osi X:
do 20 mm/s
do 200 mm/s
Prostoliniowość jednostki napędowej:
≤0,4 µm/120 mm
≤0,6 µm/200 mm
≤0,2 µm/120 mm
≤0,4 µm/200 mm
Zakres pionowy przesuwu kolumny pomiarowej:
500 lub 800 mm
500 lub 800 mm
Funkcja automatycznego zerowania:
tak
tak
Prędkość pozycjonowania w osi Z:
do 20 mm/s
do 80 mm/s
Powtarzalność pozycjonowania w osi Z:
≤50 µm
≤10 µm
Wymiary płyty granitowej:
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
Opcje:
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria

Oprogramowanie

Oprogramowanie EVOVIS

Oprogramowanie EVOVIS pozwala na ocenę chropowatości i konturu w zależności od konfiguracji urządzenia. W przypadku obsługi urządzeń Surfscan i Nanoscan daje możliwość wyznaczenia chropowatości i konturu w dowolnym miejscu na zebranym zarysie.

Aplikacja jest łatwa w użyciu i oferuje ujednolicony interfejs dla pomiarów chropowatości i konturu oraz umożliwia sterowanie urządzeniem. Czytelne ikony wraz z opisami funkcji umożliwiają operatorowi szybkie i łatwe uzyskanie wyników pomiarowych według własnych wytycznych. W jednym planie pomiarowym może znajdować się kilka różnych zadań pomiarowych ocenianych według różnych warunków pomiarowych, co umożliwia uzyskanie i sprawdzenie wielu parametrów w jednym raporcie.

Cechy:

  • łatwa i prosta obsługa
  • kompleksowa i interaktywna analiza profilu
  • ponad 100 parametrów P, R i W według DIN, ISO i JIS
  • szybka i niezawodna ocena cech geometrycznych przedmiotu
  • narzędzia oceny wraz z możliwością ustawienia wartości tolerancji
  • możliwość porównania zarysu konturu z nominałem
  • możliwość automatycznej oceny cech geometrycznych nawet dla skomplikowanych przedmiotów
  • praca w środowisku Windows
  • komunikacja z Wordem i Excelem
  • oprogramowanie w języku polskim
Oprogramowanie EVOVIS kreator wyboru warunków pomiarowych
Oprogramowanie EVOVIS - kreator wyboru warunków pomiarowych
do napisania
do napisania
do napisania
do napisania
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Skorzystaj z usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800