koszyk koszyk
Start
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy Waveline W800/W900 Surfscan

Nowość
Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline Waveline W800/W900 Surfscan

Producent: JENOPTIK (HOMMEL – ETAMIC)

Stacjonarny przyrząd Waveline W800/W900 Surfscan firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) umożliwia pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu. Duży zakres pracy głowicy umożliwia pomiar na powierzchniach zakrzywionych i pochyłych. Uniwersalna stacja pomiarowa może być stosowana do szerokiego zakresu zadań i stanowi atrakcyjną alternatywę dla tradycyjnych profilometrów wyposażonych w oddzielny system pomiaru konturu i chropowatości.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt
+ 02

Opis produktu


Stacjonarny przyrząd Waveline W800/W900 Surfscan firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) umożliwia pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu. Duży zakres pracy głowicy umożliwia pomiar na powierzchniach zakrzywionych i pochyłych. Uniwersalna stacja pomiarowa może być stosowana do szerokiego zakresu zadań i stanowi atrakcyjną alternatywę dla tradycyjnych profilometrów wyposażonych w oddzielny system pomiaru konturu i chropowatości.

Cechy:

  • pomiar metodą stykową
  • możliwość pomiaru chropowatości i konturu w jednym przejściu
  • intuicyjne oprogramowanie sterujące i raportujące EVOVIS, dostępne w języku polskim
  • wysoka rozdzielczość 3 nm w zakresie pomiarowym 8 mm lub 6 nm w zakresie 16 mm
  • możliwość wykonywania pomiarów topografii powierzchni (opcja)
  • magnetyczne mocowanie końcówek pomiarowych
  • oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC
  • Waveline W900 wyposażony jest w dodatkowy adapter dla głowicy TKU400
Końcówki pomiarowe dedykowane do głowicy Surfscan
Głowica Surfscan do pomiaru chropowatości i konturu
Waveline W900 z dodatkową głowicą TKU400 do pomiarów chropowatości

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800/W900 Surfscan
Model:
W800 Surfscan
W900 Surfscan
Głowica:
Surfscan
Surfscan, opcjonalnie TKU400
Zakres pomiarowy:
8 lub 16 mm
8 lub 16 mm
Rozdzielczość:
3 lub 6 nm
3 lub 6 nm
Nacisk pomiarowy:
0-20 mN
0-20 mN
Identyfikacja ramienia pomiarowego:
tak
tak
Regulacja nacisku pomiarowego:
tak
tak
Końcówka pomiarowa:
kontur ostrze 20 µm
kontur ostrze 20 µm
Końcówka pomiarowa:
chropowatość diamentowa 2 µm/90˚
chropowatość diamentowa 2 µm/90˚
Mocowanie końcówki pomiarowej:
magnetyczne
magnetyczne
Zakres pomiarowy w osi X:
120/200 mm
120/200 mm
Rozdzielczość w osi X:
0,1 µm
0,01 µm
Prędkość pozycjonowania w osi X:
do 20 mm/s
do 200 mm/s
Prostoliniowość jednostki napędowej:
≤0,4 µm/120 mm
≤0,6 µm/200 mm
≤0,2 µm/120 mm
≤0,4 µm/200 mm
Zakres pionowy przesuwu kolumny pomiarowej:
500 lub 800 mm
500 lub 800 mm
Funkcja automatycznego zerowania:
tak
tak
Prędkość pozycjonowania w osi Z:
do 20 mm/s
do 80 mm/s
Powtarzalność pozycjonowania w osi Z:
≤50 µm
≤10 µm
Wymiary płyty granitowej:
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
Opcje:
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria

Oprogramowanie

Oprogramowanie EVOVIS

Oprogramowanie EVOVIS pozwala na ocenę chropowatości i konturu w zależności od konfiguracji urządzenia. W przypadku obsługi urządzeń Surfscan i Nanoscan daje możliwość wyznaczenia chropowatości i konturu w dowolnym miejscu na zebranym zarysie.

Aplikacja jest łatwa w użyciu i oferuje ujednolicony interfejs dla pomiarów chropowatości i konturu oraz umożliwia sterowanie urządzeniem. Czytelne ikony wraz z opisami funkcji umożliwiają operatorowi szybkie i łatwe uzyskanie wyników pomiarowych według własnych wytycznych. W jednym planie pomiarowym może znajdować się kilka różnych zadań pomiarowych ocenianych według różnych warunków pomiarowych, co umożliwia uzyskanie i sprawdzenie wielu parametrów w jednym raporcie.

Cechy:

  • łatwa i prosta obsługa
  • kompleksowa i interaktywna analiza profilu
  • ponad 100 parametrów P, R i W według DIN, ISO i JIS
  • szybka i niezawodna ocena cech geometrycznych przedmiotu
  • narzędzia oceny wraz z możliwością ustawienia wartości tolerancji
  • możliwość porównania zarysu konturu z nominałem
  • możliwość automatycznej oceny cech geometrycznych nawet dla skomplikowanych przedmiotów
  • praca w środowisku Windows
  • komunikacja z Wordem i Excelem
  • oprogramowanie w języku polskim
Oprogramowanie EVOVIS kreator wyboru warunków pomiarowych
Oprogramowanie EVOVIS - kreator wyboru warunków pomiarowych
do napisania
do napisania
do napisania
do napisania
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Broszura informacyjna urządzeń Waveline W800/W900

Skorzystaj z usługi

Do góry

Zapytaj o produkt

Wyślij

Zobacz również

Wydarzenia w ITA

W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.


ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań +48612225800 +48612225800 fax: +48612225801

Obserwuj nas

Systemy pomiarowe

Profilometry i konturografy Urządzenia do badania odchyłek kształtu Optyczne systemy oceny stanu powierzchni Skanery elementów obrotowych Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii Optyczne urządzenia do pomiaru nierówności i kształtu Skanery 3D Systemy wspomagania projektowania Projektory pomiarowe Optyczne maszyny pomiarowe 3D Współrzędnościowe maszyny pomiarowe Mikroskopy Tomografy rentgenowskie Kabiny rentgenowskie Średnicówki Diatest Systemy mocowania przedmiotów Wzorce długości i kąta Płyty i wzorce granitowe Klasyczne przyrządy pomiarowe Mierniki grubości powłok Przyrządy do badania właściwości materiałowych i powłok Spektrometry Dyfraktometry rentgenowskie Twardościomierze Przyrządy do badania gęstości Systemy pomiaru siły i momentu Maszyny wytrzymałościowe Optyczne systemy pomiaru deformacji 3D (DIC) Urządzenia do badania żywności Akcesoria
wstecz
O firmie Baza wiedzy