Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok Sondy pomiarowe

Wymienne sondy do pomiaru grubości powłokSondy pomiarowe

Producent: HELMUT FISCHER

Firma Fischer posiada w swojej ofercie najszerszą na rynku gamę sond pomiarowych dla różnych aplikacji. Oferowane są również sondy specjalne dla zadań, którym nie mogą sprostać standardowe rozwiązania. Precyzja, dokładność i zakres pomiarów grubości powłok zależy przede wszystkim od użytej sondy.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt

Opis produktu

Dostępne są między innymi sondy przystosowane do:

  • powierzchni chropowatych
  • pomiarów w otworach
  • pomiarów na walcach o małych średnicach od ø2 mm
  • małych powierzchni pomiarowych
  • sondy z kompensacją krzywizny oraz konduktywności
  • sondy o podwyższonej wytrzymałości na zużycie

Specyfikacja

Wybrane sondy pomiarowe
ZASTOSOWANIA
uniwersalna sonda dla powłok galwanicznych i lakierniczych
sonda do pomiarów w otworach o średnicy od 9 mm oraz w rowkach, maksymalna głębokość otworu 150 lub 260 mm
do powłok galwanicznych oraz lakierniczych. Ze względu na duży promień końcówki pomiarowej przystosowana do powierzchni chropowatych
dwupunktowa sonda kątowa dla bardzo grubych po- włok. Szczególnie popularna przy pomiarach powłok napawanych ze stali austenitycznej
ZAKRES POMIAROWY
0-2000 µm
0-1000 µm
0-2500 µm
0-30 mm
SYMBOL
FGAB 1.3
FGAB 1.3-150 
FGAB 1.3-260
F20H
FK50
METODA POMIAROWA
indukcji magnetycznej
np. powłoki z cynku, miedzi, farby na stali
indukcji magnetycznej
np. powłoki z cynku, miedzi, farby na stali
indukcji magnetycznej
np. powłoki z cynku, miedzi, farby na stali
indukcji magnetycznej
np. powłoki z cynku, miedzi, farby na stali
ZASTOSOWANIA
sonda przeznaczona do pomiarów na bardzo małych powierzchniach pomiarowych od 2 mm – praca wyłącznie ze statywem
sonda pałąkowa do pomiarów w wewnętrznych częściach karoserii
sonda dwupunktowa przeznaczona do pomiarów na powierzchniach chropowatych
kątowa sonda umożliwiająca pomiary w trudno dostępnych miejscach, np. otwory
ZAKRES POMIAROWY
0-700 µm
0-850 µm
0-2000 µm
0-2000 µm
SYMBOL
FGA06H-MC
V3FGA06H
V7FKB4
FGABW1.3
METODA POMIAROWA
indukcji magnetycznej
np. powłoki z cynku, miedzi, farby na stali
indukcji magnetycznej
np. powłoki z cynku, miedzi, farby na stali
indukcji magnetycznej
np. powłoki z cynku, miedzi, farby na stali
indukcji magnetycznej
np. powłoki z cynku, miedzi, farby na stali
ZASTOSOWANIA
uniwersalna sonda dla powłok anodowanych oraz lakierniczych na metalach niemagnetycznych
kątowa sonda umożliwiająca pomiary w trudno dostępnych miejscach, np. otwory. Umożliwia również pomiary na powierzchniach zawilgoconych
sonda w szczególności przeznaczona do pomiarów na bardzo zakrzywionych powierzchniach ze względu na opatentowaną kompensację dla krzywizn
sonda do pomiarów w otworach dla średnic od 9 mm oraz w rowkach. Maksymalna głębokość otworu: 150 lub 260 mm
sonda kątowa dla bardzo grubych powłok, zwłaszcza tworzyw sztucznych lub gumy
ZAKRES POMIAROWY
0-1200 µm
0-1200 µm
0-800 µm
0-800 µm
0-50 mm
SYMBOL
FTA3.3H
FAW3.3
FTD3.3
FAI3.3-150
FAI3.3-260 
FA70
METODA POMIAROWA
prądów wirowych
np. powłoki anodowe, lakiernicze na aluminium
prądów wirowych
np. powłoki anodowe, lakiernicze na aluminium
prądów wirowych
np. powłoki anodowe, lakiernicze na aluminium
prądów wirowych
np. powłoki anodowe, lakiernicze na aluminium
prądów wirowych
np. powłoki anodowe, lakiernicze na aluminium
ZASTOSOWANIA
sonda typu DUAL: indukcja magnetyczna i prądy wirowe. Automatyczny dobór właściwej metody ze względu na rodzaj podłoża
sonda typu DUPLEX dla jednoczesnego pomiaru dwóch powłok: lakier/Zn na stali dla Zn>70 µm
ZAKRES POMIAROWY
0-2000 µm
0-800 µm
Zn 70-800 µm
ISO 20-500 µm
SYMBOL
FD13H
FDX13H
METODA POMIAROWA
DUAL / DUPLEX
DUAL / DUPLEX

Skorzystaj z usługi

Mierniki grubości powłok Do góry

Zapytaj o produkt

Wyślij

Na skróty

O firmie Wydarzenia Produkty Usługi pomiarowe Laboratorium Kontakt
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800

Systemy pomiarowe

Profilometry i konturografy Urządzenia do badania odchyłek kształtu Optyczne systemy oceny stanu powierzchni Skanery elementów obrotowych Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii Optyczne urządzenia do pomiaru nierówności i kształtu Skanery 3D Systemy wspomagania projektowania Projektory pomiarowe Optyczne maszyny pomiarowe 3D Mikroskopy Endoskopy Tomografy rentgenowskie Kabiny rentgenowskie Średnicówki Diatest Systemy mocowania przedmiotów Wzorce długości i kąta Płyty i wzorce granitowe Klasyczne przyrządy pomiarowe Mierniki grubości powłok Przyrządy do badania właściwości materiałowych i powłok Spektrometry Dyfraktometry rentgenowskie Twardościomierze Przyrządy do badania gęstości Systemy pomiaru siły i momentu Maszyny wytrzymałościowe Optyczne systemy pomiaru deformacji 3D (DIC) Urządzenia do badania żywności
wstecz
Wydarzenia Aktualności