Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252

SpektrometrFISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252

Producent: HELMUT FISCHER

Uniwersalny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej o bardzo dużych możliwościach, do szybkich i nieniszczących analiz składu i pomiarów grubości powłok.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt

Opis produktu

Uniwersalny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej o bardzo dużych możliwościach, do szybkich i nieniszczących analiz składu i pomiarów grubości powłok.

Cechy produktu

  • zaawansowany spektrometr o szerokim zastosowaniu
  • pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nm
  • badania składu stopów złotniczych, pyłów, past
  • analiza składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • badanie zgodności z dyrektywą RoHS
  • detektor SDD o wysokiej rozdzielczości
  • cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)

Typowe zastosowania

  • pomiary powłok funkcyjnych, zaczynając już od kilku nanometrów w przemyśle elektronicznym i półprzewodnikowym
  • analizy śladowych ilości pierwiastków niebezpiecznych np. zawartość ołowiu w zabawkach
  • analizy stopów gdy wymagana jest najwyższa dokładność analiz np. w przemyśle jubilerskim, zegarmistrzowskim oraz przy produkcji stopów
  • badania uniwersyteckie i przemysłowe

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 250/252
Kierunek pomiaru:

od dołu do góry

Typ detektora:

detektor półprzewodnikowy SDD

Stolik pomiarowy:

XAN 250 – nieruchomy

Stolik pomiarowy:

XAN 252 – ręczny

Zakres ruchu stolika:

XAN 250 - nie dotyczy

Zakres ruchu stolika:

XAN 252 - 30x40 mm

Maksymalna masa próbki:

XAN 250 – 13 kg

Maksymalna masa próbki:

XAN 252 – 2 kg

Filtry:

Ni, Al1000, Al500, Al100, Mylar100, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimatory przełączane:

ø0,2 I 0,6 I 1 I 2 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

XAN 250 - 310x320x90 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

XAN 252 - 310x320x174 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Masa:

45 kg

Wymiary:

XAN 220 - 310x320x90 mm

Wymiary:

XAN 222 - 444x588x365

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Cechy produktu:

  • zautomatyzowane pomiary seryjne
  • regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
  • rozpoznawanie materiału podłoża
  • DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
  • zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
  • automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
  • dokumentacja kalibracji i ustawień
Oprogramowanie WinFTM®
Ukryj szczegóły
Więcej...

Skorzystaj z usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800