koszyk koszyk
Start
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 215

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 215

Producent: HELMUT FISCHER

Spektrometr dedykowany do badania składu złota i metali szlachetnych.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt

Opis produktu


Spektrometr dedykowany do badania składu złota i metali szlachetnych.

Cechy produktu

  • urządzenie przeznaczone do badania składu złota i metali szlachetnych
  • badanie grubości powłok w przemyśle jubilerskim i złotniczym
  • zoptymalizowany pod kątem analizy stopów złotniczych
  • odpowiedni do zastosowań w skupach złota i lombardach

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 215
Kierunek pomiaru:

z dołu do góry

Typ detektora:

PIN

Stolik pomiarowy:

nieruchomy

Zakres ruchów stolika:

310x320mm

Maksymalna masa próbki:

13 kg

Filtry:

brak

Lampa rentgenowska:

standardowa

Kolimator:

ø0,1 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

310x320x90 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

403x588x365 mm

Masa:

45 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568

Certyfikaty:

Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Cechy produktu:

  • zautomatyzowane pomiary seryjne
  • regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
  • rozpoznawanie materiału podłoża
  • DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
  • zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
  • automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
  • dokumentacja kalibracji i ustawień
Oprogramowanie WinFTM®
Ukryj szczegóły
Więcej...

Skorzystaj z usługi

Do góry

Zapytaj o produkt

Wyślij

Zobacz również

Wydarzenia w ITA

W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.


ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań +48612225800 +48612225800 fax: +48612225801

Obserwuj nas

Systemy pomiarowe

Profilometry i konturografy Urządzenia do badania odchyłek kształtu Optyczne systemy oceny stanu powierzchni Skanery elementów obrotowych Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii Optyczne urządzenia do pomiaru nierówności i kształtu Skanery 3D Systemy wspomagania projektowania Projektory pomiarowe Optyczne maszyny pomiarowe 3D Współrzędnościowe maszyny pomiarowe Mikroskopy Endoskopy Tomografy rentgenowskie Kabiny rentgenowskie Średnicówki Diatest Systemy mocowania przedmiotów Wzorce długości i kąta Płyty i wzorce granitowe Klasyczne przyrządy pomiarowe Mierniki grubości powłok Przyrządy do badania właściwości materiałowych i powłok Spektrometry Dyfraktometry rentgenowskie Twardościomierze Przyrządy do badania gęstości Systemy pomiaru siły i momentu Maszyny wytrzymałościowe Optyczne systemy pomiaru deformacji 3D (DIC) Urządzenia do badania żywności Akcesoria
wstecz
O firmie Baza wiedzy