Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok FISCHERSCOPE® X-RAY XULM 240

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XULM 240

Producent: HELMUT FISCHER

Kompaktowy spektrometr fluorescencji rentgenowskiej do pomiaru grubości powłok i analizy materiału. Dzięki umieszczeniu lampy rentgenowskiej i detektora na dole z łatwością pozycjonuje się próbki bezpośrednio na oknie pomiarowym. Dzięki zastosowaniu lampy rentgenowskiej typu mikro-focus urządzenie oferuje mniejsze powierzchnie pomiarowe umożliwiając pomiary na drobnych detalach. Model XULM jest w szczególności dobrze przystosowany do pomiaru delikatnych części takich jak konektory, złącza czy przewody jak również do pomiarów powłok złotych, niklowych i miedzianych na płytkach obwodów drukowanych. Urządzenie umożliwia pomiary nawet 80µm powłok złota z powierzchnią pomiarową Ø 0.25 mm i powtarzalnością 2,5nm przy czasie pomiaru 20 sekund.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt
+ 04

Opis produktu

Kompaktowy spektrometr fluorescencji rentgenowskiej do pomiaru grubości powłok i analizy materiału. Dzięki umieszczeniu lampy rentgenowskiej i detektora na dole z łatwością pozycjonuje się próbki bezpośrednio na oknie pomiarowym. Dzięki zastosowaniu lampy rentgenowskiej typu mikro-focus urządzenie oferuje mniejsze powierzchnie pomiarowe umożliwiając pomiary na drobnych detalach. Model XULM jest w szczególności dobrze przystosowany do pomiaru delikatnych części takich jak konektory, złącza czy przewody jak również do pomiarów powłok złotych, niklowych i miedzianych na płytkach obwodów drukowanych. Urządzenie umożliwia pomiary nawet 80µm powłok złota z powierzchnią pomiarową Ø 0.25 mm i powtarzalnością 2,5nm przy czasie pomiaru 20 sekund.

Cechy produktu

  • urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale w szczególności na drobnych przedmiotach (od 0,2 mm)
  • analiza głównych składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • odległość pomiarowa 0-25 mm
  • lampa microfocus efektywnie wzbudzająca pierwiastki lekkie
  • komora pomiarowa z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych i płaskich próbkach
  • cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)

Zastosowanie

  • pomiar grubości powłok takich jak Au/Ni/Cu/PCB lub Sn/Cu/PCB w przemyśle elektronicznym
  • powłoki na złączach, kontaktach w przemyśle elektronicznym
  • powłoki dekoracyjne Cr/Ni/Cu/ABS
  • powłoki galwaniczne takie jak Zn/Fe, ZnNi/Fe jako zabezpieczenie antykorozyjne na częściach produkowanych masowo (śrubki i nakrętki)
  • określanie zawartości metali w kąpielach galwanicznych

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XULM 240
Kierunek pomiaru:

z dołu do góry

Typ detektora:

licznik proporcjonalny

Stolik pomiarowy:

ręczny

Zakres ruchów stolika:

30x40 mm

Maksymalna masa próbki:

2 kg

Filtry:

Ni, Al, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimator:

ø0,1 I 0,2 I 0,05x0,05 I 0,05x0,3 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

310x320x174 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

403x588x444 mm

Masa:

45 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568

Certyfikaty:

Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Cechy produktu:

  • zautomatyzowane pomiary seryjne
  • regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
  • rozpoznawanie materiału podłoża
  • DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
  • zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
  • automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
  • dokumentacja kalibracji i ustawień
Oprogramowanie WinFTM®
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Skorzystaj z usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800