Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok FISCHERSCOPE® X-RAY XUL 210/220

SpektrometrFISCHERSCOPE® X-RAY XUL 210/220

Producent: HELMUT FISCHER

Spektrometr  przeznaczony do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt

Opis produktu

Spektrometr  przeznaczony do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale.

Cechy produktu

  • urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale
  • analiza głównych składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • odległość pomiarowa 0-25 mm
  • tor pomiarowy pozwalający na szybkie i łatwe pozycjonowanie próbki
  • komora pomiarowa z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych i płaskich próbkach

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XUL 210/220
Kierunek pomiaru:

z dołu do góry

Typ detektora:

licznik proporcjonalny

Stolik pomiarowy:

XUL 210 – nieruchomy
 

Stolik pomiarowy:

XUL 220 – ręczny

Zakres ruchu stolika:

XUL 210 – brak

Zakres ruchu stolika:

XUL 220 – 30x40 mm

Maksymalna masa próbki:

XUL 210 – 13 kg

Maksymalna masa próbki:

XUL 220 – 2 kg

Filtry:

jeden, stały

Lampa rentgenowska:

standardowa

Kolimator:

ø0,3 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

310x320x174 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

403x588x444 mm

Masa:

45 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Cechy produktu:

  • zautomatyzowane pomiary seryjne
  • regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
  • rozpoznawanie materiału podłoża
  • DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
  • zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
  • automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
  • dokumentacja kalibracji i ustawień
Oprogramowanie WinFTM®
Ukryj szczegóły
Więcej...

Skorzystaj z usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800