Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-μ

SpektrometrFISCHERSCOPE® X-RAY XDV-μ

Producent: HELMUT FISCHER

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z polikapilarnym układem optycznym dla zautomatyzowanych pomiarów i analiz grubości powłok i składu na bardzo małych komponentach i strukturach. Urządzenie XDV®-µ wyposażone jest w poli-kapilarną rentgenowską optykę skupiającą. To umożliwia uzyskanie bardzo małych plamek pomiarowych przy jednoczesnej dużej intensywności. Duży detektor SDD sprawia, że urządzenie jest niezwykle wydajne zarówno przy pomiarach grubości bardzo cienkich powłok jak i przy analizie śladowych ilości pierwiastków na małych strukturach i komponentach.   

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt
+ 04

Opis produktu

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z polikapilarnym układem optycznym dla zautomatyzowanych pomiarów i analiz grubości powłok i składu na bardzo małych komponentach i strukturach. Urządzenie XDV®-µ wyposażone jest w poli-kapilarną rentgenowską optykę skupiającą. To umożliwia uzyskanie bardzo małych plamek pomiarowych przy jednoczesnej dużej intensywności. Duży detektor SDD sprawia, że urządzenie jest niezwykle wydajne zarówno przy pomiarach grubości bardzo cienkich powłok jak i przy analizie śladowych ilości pierwiastków na małych strukturach i komponentach. 

Cechy produktu

  • zaawansowane urządzenie z systemem polikapilarnym do analiz na mikrostrukturach (np. elektronika)
  • zoptymalizowany pod kątem mikro-analiz
  • w zależności od układu optycznego, możliwe są analizy struktur o wielkości mniejszej niż 100 μm
  • przystosowany do płaskich, lub prawie płaskich próbek
  • bardzo duża intensywność sygnału a przez to zwiększona precyzja
  • duża i przestrzenna komora pomiarowa z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych płaskich próbkach
  • zautomatyzowane pomiary przy zastosowaniu szybkiego, programowalnego stolika XY

Zastosowanie

  • pomiary systemów powłok na płytkach drukowanych, wyprowadzeniach chipów oraz wafli półprzewodnikowych
  • pomiary powłok na małych elementach oraz cienkich przewodach
  • analiza składu małych struktur i komponentów

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-μ
Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

detektor półprzewodnikowy SDD

Stolik pomiarowy:

zmotoryzowany, programowalny

Zakres ruchu stolika:

250x220 mm

Maksymalna masa próbki:

20 kg

Filtry:

Ni10, Al1000,
Al500, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimator:

około ø20 μm (standard) I ø10 μm (opcja)

Wymiary wewnętrzne komory:

580x560x135 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

660x835x720 mm

Masa:

140 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Cechy produktu:

  • zautomatyzowane pomiary seryjne
  • regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
  • rozpoznawanie materiału podłoża
  • DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
  • zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
  • automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
  • dokumentacja kalibracji i ustawień
Oprogramowanie WinFTM®
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Skorzystaj z usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800