Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD

SpektrometrFISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD

Producent: HELMUT FISCHER

Bardzo wydajny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z programowalnym stolikiem XY i osią Z dla zautomatyzowanych pomiarów bardzo cienkich powłok i analiz szczątkowych ilości pierwiastków. Spektrometr XDV-SDD wyposażony został w detektor półprzewodnikowy SDD o dużej powierzchni i rozdzielczości w efekcie spektrometr zapewnia bardzo niskie progi detekcji. Urządzenie jest w doskonale przystosowane do badania grubości najcieńszych powłok i analiz śladowych ilości pierwiastków. Zmienne filtry, napięcia lampy i rozmiary kolimatorów pozwalają uzyskać optymalne parametry wzbudzenia wielu aplikacji. Dzięki dużej komorze pomiarowej i zmotoryzowanemu stolikowi pomiary są bardzo wygodne i szybkie.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt
+ 09

Opis produktu

Bardzo wydajny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z programowalnym stolikiem XY i osią Z dla zautomatyzowanych pomiarów bardzo cienkich powłok i analiz szczątkowych ilości pierwiastków. Spektrometr XDV-SDD wyposażony został w detektor półprzewodnikowy SDD o dużej powierzchni i rozdzielczości w efekcie spektrometr zapewnia bardzo niskie progi detekcji. Urządzenie jest w doskonale przystosowane do badania grubości najcieńszych powłok i analiz śladowych ilości pierwiastków. Zmienne filtry, napięcia lampy i rozmiary kolimatorów pozwalają uzyskać optymalne parametry wzbudzenia wielu aplikacji. Dzięki dużej komorze pomiarowej i zmotoryzowanemu stolikowi pomiary są bardzo wygodne i szybkie.

Cechy produktu

  •  zaawansowane urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale oraz analiz składu
  • pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów
  • badania składu stopów złotniczych, pyłów, past
  • analiza składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • badanie zgodności z dyrektywą RoHS
  • cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)
  • duża i przestrzenna komora pomiarowa

Zastosowanie

  • kontrola bardzo cienkich powłok, przemysł elektroniczny i komputerowy
  • analiza szczątkowa np. pod kątem niebezpiecznych substancji zgodnie z RoHS, standardami zabawek, standardami opakowań
  • analiza złota i metali szlachetnych z zachowaniem najwyższej precyzji
  • przemysł fotowoltaiczny
  • pomiar grubości i składu powłok NiP

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD
Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

detektor półprzewodnikowy SDD

Stolik pomiarowy:

zmotoryzowany

Zakres ruchu stolika:

250x250 mm

Maksymalna masa próbki:

5kg, przy zredukowanej precyzji stolika 20kg

Filtry:

Ni, Al1000, Al500, Al100, Mylar100, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimatory przełączane:

ø0,2 I 0,6 I 1 I 3 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

580x560x140 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

660x835x720 mm

Masa:

140 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Cechy produktu:

  • zautomatyzowane pomiary seryjne
  • regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
  • rozpoznawanie materiału podłoża
  • DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
  • zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
  • automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
  • dokumentacja kalibracji i ustawień
Oprogramowanie WinFTM®
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Skorzystaj z usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800