Opis produktu
Spektrometr XDAL jest przystosowany do analiz bardzo cienkich powłok w elektronice i przemyśle motoryzacyjnym. Dzięki zastosowani lampy rentgenowskiej typu micro-focus uzyskuje się bardzo małe przestrzenie pomiarowe, dodatkowo zestaw automatycznie przełączanych kolimatorów oraz filtrów pozwala dobrać optymalne parametry wzbudzenia dla danej aplikacji. Urządzenie jest niezwykle funkcjonalne dzięki zmotoryzowanemu programowalnemu stolikowi pomiarowemu.
Cechy produktu
- urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale
- urządzenie przeznaczone do pomiarów grubości cienkich powłok oraz podstawowych analiz składu
- analiza składników kąpieli w przemyśle galwanicznym (od 0,2g/l)
- badanie grubości cienkich powłok w przemyśle elektronicznym (złącza, płytki PCB, układy scalone)
- przestrzenna komora z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych płaskich próbkach
- cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)
Zastosowanie
- analiza powłok i stopów (również cienkich powłok i niewielkich ilości pierwiastków)
- kontrola dostaw, monitoring produkcji
- działy badań i rozwoju
- przemysł elektroniczny
- złącza i konektory
- przemysł złotniczy i zegarmistrzowski
- pomiar cienkich powłok Au i Pd, nawet kilku nanometrowych na płytkach obwodów drukowanych
- analiza śladowych ilości pierwiastków
- określanie zawartości ołowiu (Pb) w urządzeniach wymagających dużej niezawodności
- analiza twardych powłok metalicznych
