Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL

Producent: HELMUT FISCHER

Spektrometr XDAL jest przystosowany do analiz bardzo cienkich powłok w elektronice i przemyśle motoryzacyjnym. Dzięki zastosowani lampy rentgenowskiej typu micro-focus uzyskuje się bardzo małe przestrzenie pomiarowe, dodatkowo zestaw automatycznie przełączanych kolimatorów oraz filtrów pozwala dobrać optymalne parametry wzbudzenia dla danej aplikacji. Urządzenie jest niezwykle funkcjonalne dzięki zmotoryzowanemu programowalnemu stolikowi pomiarowemu.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt
+ 11

Opis produktu

Spektrometr XDAL jest przystosowany do analiz bardzo cienkich powłok w elektronice i przemyśle motoryzacyjnym. Dzięki zastosowani lampy rentgenowskiej typu micro-focus uzyskuje się bardzo małe przestrzenie pomiarowe, dodatkowo zestaw automatycznie przełączanych kolimatorów oraz filtrów pozwala dobrać optymalne parametry wzbudzenia dla danej aplikacji. Urządzenie jest niezwykle funkcjonalne dzięki zmotoryzowanemu programowalnemu stolikowi pomiarowemu.

Cechy produktu

  • urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale
  • urządzenie przeznaczone do pomiarów grubości cienkich powłok oraz podstawowych analiz składu
  • analiza składników kąpieli w przemyśle galwanicznym (od 0,2g/l)
  • badanie grubości cienkich powłok w przemyśle elektronicznym (złącza, płytki PCB, układy scalone)
  • przestrzenna komora z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych płaskich próbkach
  • cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)

Zastosowanie

  • analiza powłok i stopów (również cienkich powłok i niewielkich ilości pierwiastków)
  • kontrola dostaw, monitoring produkcji
  • działy badań i rozwoju
  • przemysł elektroniczny
  • złącza i konektory
  • przemysł złotniczy i zegarmistrzowski
  • pomiar cienkich powłok Au i Pd, nawet kilku nanometrowych na płytkach obwodów drukowanych
  • analiza śladowych ilości pierwiastków
  • określanie zawartości ołowiu (Pb) w urządzeniach wymagających dużej niezawodności
  • analiza twardych powłok metalicznych

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL
Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

PIN

Stolik pomiarowy:

XDL 240 - zmotoryzowany

Stolik pomiarowy:

zmotoryzowany
 

Zakres ruchu stolika:

XDL 240 - 255x235 mm

Zakres ruchu stolika:

255x235 mm

Maksymalna masa próbki:

20 kg

Filtry:

Ni, Al, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimatory przełączane:

ø0,1 I 0,3 I 0,6 I
0,5x0,15

Wymiary wewnętrzne komory:

460x495x140 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

570x650x760 mm

Masa:

120 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Certyfikaty:

EN 61010

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Cechy produktu:

  • zautomatyzowane pomiary seryjne
  • regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
  • rozpoznawanie materiału podłoża
  • DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
  • zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
  • automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
  • dokumentacja kalibracji i ustawień
Oprogramowanie WinFTM®
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Skorzystaj z usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800