Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230/240

SpektrometrFISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230/240

Producent: HELMUT FISCHER

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej przeznaczony do ręcznych lub automatycznych pomiarów grubości powłok antykorozyjnych, także na detalach produkowanych masowo.Pomiary na spektrometrze wykonywane są od góry poprzez umieszczenie próbki na stoliku pomiarowym. Umożliwia szybkie pomiary (od 5 do 30s) grubości powłok w tym układów wielowarstwowych jak np. Zn/Fe, NiZn/Fe (tzw. cynko-nikle), Ag/Cu, Cr/Ni/Cu/ABS. Dzięki zastosowaniu programowalnego stolika pomiarowego umożliwia zautomatyzowane pomiary dużych partii próbek bez angażowania operatora.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt
+ 01

Opis produktu

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej przeznaczony do ręcznych lub automatycznych pomiarów grubości powłok antykorozyjnych, także na detalach produkowanych masowo.Pomiary na spektrometrze wykonywane są od góry poprzez umieszczenie próbki na stoliku pomiarowym. Umożliwia szybkie pomiary (od 5 do 30s) grubości powłok w tym układów wielowarstwowych jak np. Zn/Fe, NiZn/Fe (tzw. cynko-nikle), Ag/Cu, Cr/Ni/Cu/ABS. Dzięki zastosowaniu programowalnego stolika pomiarowego umożliwia zautomatyzowane pomiary dużych partii próbek bez angażowania operatora.

Cechy produktu

  • urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale
  • stosowane także dla dużych odległości pomiarowych (przesuw 0-80 mm)
  • analiza głównych składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • odpowiedni dla pomiarów na powierzchniach od 0,5 mm średnicy
  • przestrzenna komora z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych płaskich próbkach

Zastosowanie

  • pomiary masowo produkowanych, pokrytych galwanicznie detali
  • zabezpieczenia antykorozyjne, chrom na niklu/miedzi
  • analiza kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • złoto, przemysł jubilerski i zegarmistrzowski

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230/240
Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

licznik proporcjonalny

Stolik pomiarowy:

XDL 230 - ręczny
 

Stolik pomiarowy:

XDL 240 - zmotoryzowany

Zakres ruchu stolika:

XDL 230 - 95x150 mm

Zakres ruchu stolika:

XDL 240 - 255x235 mm

Maksymalna masa próbki:

20 kg

Filtry:

jeden, stały

Lampa rentgenowska:

standardowa

Kolimator:

ø0,3 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

460x495x140 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

570x650x760 mm

Masa:

120 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Cechy produktu:

  • zautomatyzowane pomiary seryjne
  • regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
  • rozpoznawanie materiału podłoża
  • DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
  • zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
  • automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
  • dokumentacja kalibracji i ustawień
Oprogramowanie WinFTM®
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Skorzystaj z usługi

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800