Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy Waveline W20

Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatościWaveline W20

Producent: JENOPTIK (HOMMEL – ETAMIC)

Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W20 firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) jest nową generacją urządzeń do szybkiej i dokładnej kontroli parametrów chropowatości bezpośrednio na linii produkcyjnej, jak i laboratoriach kontroli jakości.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt
Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W20 firmy Jenoptik
+ 07

Opis produktu

Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W20 firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) jest nową generacją urządzeń do szybkiej i dokładnej kontroli parametrów chropowatości bezpośrednio na linii produkcyjnej, jak i laboratoriach kontroli jakości. Urządzenie składa się z mobilnej głowicy pomiarowej połączonej kablem o długości 2m z jednostką oceny parametrów. Urządzenie posiada wbudowany wzorzec chropowatości oraz zintegrowaną drukarkę. Dzięki bezślizgaczowej sądzie istnieje możliwość wyznaczenia falistości powierzchni.

Cechy produktu

  • nie wymaga justowania
  • praca z głowicami bezślizgaczowymi, jak i ze ślizgaczem
  • zintegrowana drukarka
  • granice tolerancji ustawiane dla wszystkich parametrów
  • usuwanie kształtu do obliczenia chropowatości np. na walcach
  • łatwa praca: automatyczne pozycjonowanie i poziomowanie w całym zakresie
  • zakres pomiarowy ±300 μm rozdzielczość 10 nm
  • opcjonalna transmisja danych do oprogramowania EVOVIS mobile
  • następca T1000 wave – bezślizgaczowego profilometru przenośnego

Elementy zestawu

  • jednostka oceny parametrów
  • mobilna głowica pomiarowa waveline 20
  • sonda pomiarowa TKL300
  • kabel zasilający
  • kabel USB
  • certyfikat kalibracji
  • walizka
  • instrukcja obsługi
  • opcjonalnie statyw HS300 – obrót +/- 180°, wysokość 300mm

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna przenośnego przyrządu do pomiaru chropowatości Waveline W20
Głowica:
TKL300, TKL600, TKU300 bezślizgaczowe, 2 µm/90°
Klasa dokładności:

1 zgodna z DIN 4772

Zakres pomiarowy:

TKL300 ± 300 µm, 5 nm

Zakres pomiarowy:

TKL600 ± 600 µm, 10 nm

Rozdzielczość:

TKL600 – 12 nm

Rozdzielczość:

TKL300 – 6 nm

Jednostki pomiarowe:

µm/µcale do wyboru

Maksymalna długość przesuwu:

20 mm

Odcinki pomiarowe zgodne z ISO/JIS:

1,5 I 4,8 I 15 mm

Odcinki pomiarowe zgodne z MOTIF:

0,64 I 3,2 I 16 mm

Odcinki elementarne:

0,08 I 0,25 I 0,8 I 2,5 I 8,0 mm

Ilość programów pomiarowych:

8 (w tym jeden serwisowy)

Filtr zgodny z:

ISO 3274 λs

Filtr zgodny z:

ISO 11562, ISO 13565-1 ISO 3274 גs, ISO 16610-21

Filtr zgodny z:

ISO 13565-1

Filtr zgodny z:

ISO 16610-21

Prędkość pomiarowa vt:

0,15 | 0,5 | 1 mm/s; prędkość powrotna 3 mm/s

Odległość punktów pomiarowych:

od 0,5 µm

Pomiar parametrów wg norm ISO:

Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, RSm, Rp, Rv, Rq, Rsk, Rku, Rdc, Rdq, RzISO, Rmr, Rmr(c), C(Rmr), C(pmr), Pt, Pz, Pa, WA, Wz, Wt, Wq, Pq, WSm, PSm, Rc, Wc, Pc, Wp, Pp, Wv, Pv, Wsk,Psk, Wku, Pku, Pdc, Wdq, Pdq, Pmr, Pmr(c), Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rpk*, Rvk*, Vo0.001*, R, W, AR, AW, Rx, Wx, CR, CF, CL, No, Rz-JIS, RPc, R3z

Wbudowana pamięć:

500 profili, 2000 pomiarów

Wyświetlacz:

dotykowy, kolorowy

Komunikacja z drukarką:

tak, drukarka wbudowana

Interfejsy:

USB typ A (host), 1x micro USB typ B, 1x HW bus

Zasilanie sieciowe oraz z baterii:

tak

Pojemność baterii:

4800 mAh

Czas ładowania akumulatora:

4 h

Wymiary:

225x70x227 mm

Masa:

1080 g

Zintegrowana drukarka:

tak

Wbudowany wzorzec chropowatości:

tak

Wymagana kalibracja:

nie

Granice tolerancji:

ustawiane dla wszystkich parametrów

Oprogramowanie

Oprogramowanie EVOVIS mobile

Oprogramowanie EVOVIS mobile firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) przeznaczone jest do współpracy z przenośnymi przyrządami do pomiaru chropowatości powierzchni.

W trybie on-line przyrząd jest bezpośrednio sterowany z oprogramowania, zmieniając się w małe, często przenośne, stanowisko pomiarowe. W trybie off-line parametry i profile zmierzone przenośnym przyrządem np. w hali produkcyjnej mogą być transferowane do komputera w celu dokumentowania i dalszej obróbki danych.

Cechy:

  • przejrzysta struktura, przyjazna dla operatora
  • możliwość programowego sterowania przyrządami Waveline W5, W10 i W20
  • tworzenie indywidualnych planów pomiaru
  • zintegrowana pomoc zawierająca wiadomości teoretyczne
  • asystent wyboru warunków pomiarowych
  • import i przetwarzanie profili i parametrów
  • raportowanie i archiwizowanie dokumentów pomiarowych
  • wszystkie powszechnie stosowane parametry nierówności powierzchni (chropowatość, falistość, profil pierwotny itp.) zgodnie m.in. z ISO, ASME, DIN, JIS, MOTIF
  • bieżące uaktualnianie oprogramowania zgodne z nowo powstającymi normami
  • opcja: eksport do qs-STAT
  • opcja: określanie dominującej falistości zgodnie z VDA 2007
  • oprogramowanie w języku polskim
Oprogramowanie EVOVIS - okno sterowania
Oprogramowanie EVOVIS mobile firmy Jenoptik
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Skorzystaj z usługi

Baza wiedzy

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800