Opis produktu
Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W20 firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) jest nową generacją urządzeń do szybkiej i dokładnej kontroli parametrów chropowatości bezpośrednio na linii produkcyjnej, jak i laboratoriach kontroli jakości. Urządzenie składa się z mobilnej głowicy pomiarowej połączonej kablem o długości 2m z jednostką oceny parametrów. Urządzenie posiada wbudowany wzorzec chropowatości oraz zintegrowaną drukarkę. Dzięki bezślizgaczowej sądzie istnieje możliwość wyznaczenia falistości powierzchni.
Cechy produktu
- nie wymaga justowania
- praca z głowicami bezślizgaczowymi, jak i ze ślizgaczem
- zintegrowana drukarka
- granice tolerancji ustawiane dla wszystkich parametrów
- usuwanie kształtu do obliczenia chropowatości np. na walcach
- łatwa praca: automatyczne pozycjonowanie i poziomowanie w całym zakresie
- zakres pomiarowy ±300 μm rozdzielczość 10 nm
- opcjonalna transmisja danych do oprogramowania EVOVIS mobile
- następca T1000 wave – bezślizgaczowego profilometru przenośnego
Elementy zestawu
- jednostka oceny parametrów
- mobilna głowica pomiarowa waveline 20
- sonda pomiarowa TKL300
- kabel zasilający
- kabel USB
- certyfikat kalibracji
- walizka
- instrukcja obsługi
- opcjonalnie statyw HS300 – obrót +/- 180°, wysokość 300mm
Specyfikacja
Specyfikacja techniczna przenośnego przyrządu do pomiaru chropowatości Waveline W201 zgodna z DIN 4772
TKL300 ± 300 µm, 5 nm
TKL600 ± 600 µm, 10 nm
TKL600 – 12 nm
TKL300 – 6 nm
µm/µcale do wyboru
20 mm
1,5 I 4,8 I 15 mm
0,64 I 3,2 I 16 mm
0,08 I 0,25 I 0,8 I 2,5 I 8,0 mm
8 (w tym jeden serwisowy)
ISO 3274 λs
ISO 11562, ISO 13565-1 ISO 3274 גs, ISO 16610-21
ISO 13565-1
ISO 16610-21
0,15 | 0,5 | 1 mm/s; prędkość powrotna 3 mm/s
od 0,5 µm
Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, RSm, Rp, Rv, Rq, Rsk, Rku, Rdc, Rdq, RzISO, Rmr, Rmr(c), C(Rmr), C(pmr), Pt, Pz, Pa, WA, Wz, Wt, Wq, Pq, WSm, PSm, Rc, Wc, Pc, Wp, Pp, Wv, Pv, Wsk,Psk, Wku, Pku, Pdc, Wdq, Pdq, Pmr, Pmr(c), Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rpk*, Rvk*, Vo0.001*, R, W, AR, AW, Rx, Wx, CR, CF, CL, No, Rz-JIS, RPc, R3z
500 profili, 2000 pomiarów
dotykowy, kolorowy
tak, drukarka wbudowana
USB typ A (host), 1x micro USB typ B, 1x HW bus
tak
4800 mAh
4 h
225x70x227 mm
1080 g
tak
tak
nie
ustawiane dla wszystkich parametrów
Oprogramowanie
Oprogramowanie EVOVIS mobile
Oprogramowanie EVOVIS mobile firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) przeznaczone jest do współpracy z przenośnymi przyrządami do pomiaru chropowatości powierzchni.W trybie on-line przyrząd jest bezpośrednio sterowany z oprogramowania, zmieniając się w małe, często przenośne, stanowisko pomiarowe. W trybie off-line parametry i profile zmierzone przenośnym przyrządem np. w hali produkcyjnej mogą być transferowane do komputera w celu dokumentowania i dalszej obróbki danych.
Cechy:
- przejrzysta struktura, przyjazna dla operatora
- możliwość programowego sterowania przyrządami Waveline W5, W10 i W20
- tworzenie indywidualnych planów pomiaru
- zintegrowana pomoc zawierająca wiadomości teoretyczne
- asystent wyboru warunków pomiarowych
- import i przetwarzanie profili i parametrów
- raportowanie i archiwizowanie dokumentów pomiarowych
- wszystkie powszechnie stosowane parametry nierówności powierzchni (chropowatość, falistość, profil pierwotny itp.) zgodnie m.in. z ISO, ASME, DIN, JIS, MOTIF
- bieżące uaktualnianie oprogramowania zgodne z nowo powstającymi normami
- opcja: eksport do qs-STAT
- opcja: określanie dominującej falistości zgodnie z VDA 2007
- oprogramowanie w języku polskim
