Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy Waveline W5

Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatościWaveline W5

Producent: JENOPTIK (HOMMEL – ETAMIC)

Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W5 firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) jest idealnym, mobilnym systemem przeznaczonym do szybkiego i dokładnego sprawdzenia parametrów chropowatości bezpośrednio na linii produkcyjnej.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt
Przenosny przyrzad-do-pomiaru-chropowatosci-Waveline-W5
+ 07

Opis produktu

Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W5 firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) jest idealnym, mobilnym systemem przeznaczonym do szybkiego i dokładnego sprawdzenia parametrów chropowatości bezpośrednio na linii produkcyjnej. Kompaktowy i ergonomiczny kształt sprawia, że urządzenie łatwo i precyzyjnie można ustawić na badanym detalu zarówno w pozycji poziomej, pionowej oraz odwróconej. Kolorowy wyświetlacz pokazuje do 25 parametrów pomiarowych wraz z oceną tolerancji. Urządzenie zapewnia możliwość użycia szerokiej gamy sond pomiarowych. Umożliwia pomiar parametrów w norm DIN ISO 4287 (Ra, Rz, Rt, Rmax(Rt), Rq, RSm, Rmr(c), RSK), DIN EN ISO 13565(Rk, rvk, Mr1, Mr2, A1, A2), MOTIF ISO 12085(R, AR, Rx) oraz JIS B601(Rz-JIS, Ry, tp) .

Cechy produktu

  • nie wymaga justowania
  • prosty w obsłudze, idealny do dokładnych i wiarygodnych pomiarów chropowatości powierzchni
  • dobrze sprawdza się w warunkach hali produkcyjnej
  • duży kolorowy wyświetlacz, ergonomiczna budowa
  • granice tolerancji ustawiane dla wszystkich parametrów
  • opcjonalna drukarka zewnętrzna
  • opcjonalna transmisja danych do oprogramowania EVOVIS mobile
  • następca T500 – przenośnego profilometru o uznanej marce

Elementy zestawu

  • urządzenie W5 do pomiaru chropowatości
  • sonda pomiarowa T1E
  • ładowarka
  • kabel USB
  • certyfikat kalibracji
  • walizka
  • instrukcja obsługi

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna przenośnego przyrządu do pomiaru chropowatości Waveline W5
Głowica:
indukcyjna T1E ze ślizgaczem, 2 µm/90°
Klasa dokładności:

1 zgodna z DIN 4772

Zakres pomiarowy:

320 µm (-210/+110)

Rozdzielczość:

6 nm

Jednostki pomiarowe:

µm/µcale do wyboru

Maksymalna długość przesuwu:

17,5 mm

Odcinki pomiarowe zgodne z ISO/JIS:

1,5 I 4,8 I 15 mm

Odcinki pomiarowe zgodne z MOTIF:

0,64 I 3,2 I 16 mm

Odcinki elementarne:

0,25 I 0,8 I 2,5 mm

Ilość programów pomiarowych:

5

Filtr zgodny z:

ISO 11562, ISO 13565-1, ISO 3274 גs

Filtr zgodny z:

ISO 3274 λs

Filtr zgodny z:

ISO 13565-1

Prędkość pomiarowa vt:
0,15 | 0,15 I 0,5 I 1 mm/s;
prędkość powrotna 3 mm/s
Odległość punktów pomiarowych:

minimum 0,5 µm

Pomiar parametrów wg norm ISO:

Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, RSm, Rmr(c)[%], Rmr(c)[µm], Rp, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, R, AR, Rx, Rz-JIS, Ry, R3z, Rpm

Wbudowana pamięć:

500 profili i 2000 pomiarów

Wyświetlacz:

kolorowy

Komunikacja z drukarką:

tak (drukarka zewnętrzna)

Interfejsy:

USB, Bluetooth® wireless technology

Zasilanie sieciowe oraz z baterii:

tak

Pojemność baterii:

1500 mAh

Czas ładowania akumulatora:

4 h

Wymiary:

50x63x127,5 mm

Masa:

270 g

Możliwość obracania głowicy o 90°:

nie

Wbudowany wzorzec chropowatości:

nie

Możliwość mierzenia w pozycji odwróconej:

nie

Wymagana kalibracja:

nie

Granice tolerancji:

ustawiane dla wszystkich parametrów

Oprogramowanie

Oprogramowanie EVOVIS mobile

Oprogramowanie EVOVIS mobile firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) przeznaczone jest do współpracy z przenośnymi przyrządami do pomiaru chropowatości powierzchni.

W trybie on-line przyrząd jest bezpośrednio sterowany z oprogramowania, zmieniając się w małe, często przenośne, stanowisko pomiarowe. W trybie off-line parametry i profile zmierzone przenośnym przyrządem np. w hali produkcyjnej mogą być transferowane do komputera w celu dokumentowania i dalszej obróbki danych.

Cechy:

  • przejrzysta struktura, przyjazna dla operatora
  • możliwość programowego sterowania przyrządami Waveline W5, W10 i W20
  • tworzenie indywidualnych planów pomiaru
  • zintegrowana pomoc zawierająca wiadomości teoretyczne
  • asystent wyboru warunków pomiarowych
  • import i przetwarzanie profili i parametrów
  • raportowanie i archiwizowanie dokumentów pomiarowych
  • wszystkie powszechnie stosowane parametry nierówności powierzchni (chropowatość, falistość, profil pierwotny itp.) zgodnie m.in. z ISO, ASME, DIN, JIS, MOTIF
  • bieżące uaktualnianie oprogramowania zgodne z nowo powstającymi normami
  • opcja: eksport do qs-STAT
  • opcja: określanie dominującej falistości zgodnie z VDA 2007
  • oprogramowanie w języku polskim
Oprogramowanie EVOVIS - okno sterowania
Oprogramowanie EVOVIS mobile firmy Jenoptik
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Skorzystaj z usługi

Baza wiedzy

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800