Start
Oferta
Systemy pomiarowe
Optyczne systemy oceny stanu powierzchni Visionline IPS F100/F200 3D

System oceny stanu powierzchni Visionline IPS F100/F200 3D

Producent: JENOPTIK (HOMMEL – ETAMIC)

System Visionline IPS F100/F200 3D firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) daje możliwość szybkiej i w pełni automatycznej oceny stanu powierzchni płaskich. Maksymalny zakres pojedynczego skanu powierzchni to 200 mm. Dzięki optyce o wysokiej rozdzielczości możliwe jest wykrycie wad o wielkości od 0,1 mm oraz uzyskanie dokładnego widoku 3D zeskanowanej powierzchni. Możliwość integracji systemu w linii produkcyjnej zapewnia stuprocentową kontrolę produkcji oraz eliminuje wpływ operatora na otrzymane rezultaty.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt

Opis produktu

System Visionline IPS F100/F200 3D firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) daje możliwość szybkiej i w pełni automatycznej oceny stanu powierzchni płaskich. Maksymalny zakres pojedynczego skanu powierzchni to 200 mm. Dzięki optyce o wysokiej rozdzielczości możliwe jest wykrycie wad o wielkości od 0,1 mm oraz uzyskanie dokładnego widoku 3D zeskanowanej powierzchni. Możliwość integracji systemu w linii produkcyjnej zapewnia stuprocentową kontrolę produkcji oraz eliminuje wpływ operatora na otrzymane rezultaty.

Cechy produktu

  • wysoka rozdzielczość – wykrywane są nawet bardzo małe wady takie jak: pory, ubytki, rysy itp.
  • przechwytywanie obrazu w ruchu w wymaganym czasie cyklu (technologia fly-over)
  • modułowość – możliwość pracy autonomicznej oraz zintegrowanie z linią produkcyjną,
  • prosta obsługa – systemy kontroli są proste w obsłudze, a oprogramowanie Evovis Vision  pomaga w procesie oceny stanu powierzchni

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna systemu oceny stanu powierzchni Visionline IPS F100/F200 3D
Model:
Visionline IPS F100 3D
Visionline IPS F200 3D
Zakres skanowania:

maksymalnie 100 mm

maksymalnie 200 mm

Dystans pracy:

170 mm

380 mm

Czujnik obrazu:

CCD

CCD

Prędkość skanowania:

do 600 mm/s

do 600 mm/s

Granica wykrywalności wad:

100 µm dla wad punktowych oraz 50 µm w przypadku rys, bruzd i pęknięć

100 µm dla wad punktowych oraz 50 µm w przypadku rys, bruzd i pęknięć

Rodzaje badanych powierzchni:

od matowych do błyszczących

od matowych do błyszczących

Oprogramowanie

Oprogramowanie EVOVIS Vision

Oprogramowanie Evovis Vision dla systemu Windows przeznaczone jest do pracy z optycznymi przyrządami do oceny stanu powierzchni.

 Cechy:

  • oprogramowanie współpracujące ze wszystkimi systemami IPS
  • przejrzysty oraz przyjazny dla operatora interfejs
  • pełna analiza otrzymanych powierzchni oraz znalezionych wad
  • możliwość zastosowania zarówno w systemach manualnych oraz automatycznych
  • możliwość integracji z systemem kontroli procesu
Ekran glówny oprogramowania Evovis Vision
Przykład automatycznej analizy powierzchni w oprogramowaniu Evovis Vision
Analiza wad powierzchni w oprogramowaniu Evovis Vision
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Broszura informacyjna linii produktów Visionline
Do góry

Zapytaj o produkt

Wyślij

Zobacz również

Na skróty

O firmie Wydarzenia Produkty Usługi pomiarowe Laboratorium Kontakt
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800

Systemy pomiarowe

Profilometry i konturografy Urządzenia do badania odchyłek kształtu Optyczne systemy oceny stanu powierzchni Skanery elementów obrotowych Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii Optyczne urządzenia do pomiaru nierówności i kształtu Skanery 3D Systemy wspomagania projektowania Projektory pomiarowe Optyczne maszyny pomiarowe 3D Mikroskopy Endoskopy Tomografy rentgenowskie Kabiny rentgenowskie Średnicówki Diatest Systemy mocowania przedmiotów Wzorce długości i kąta Płyty i wzorce granitowe Klasyczne przyrządy pomiarowe Mierniki grubości powłok Przyrządy do badania właściwości materiałowych i powłok Spektrometry Dyfraktometry rentgenowskie Twardościomierze Przyrządy do badania gęstości Systemy pomiaru siły i momentu Maszyny wytrzymałościowe Optyczne systemy pomiaru deformacji 3D (DIC) Urządzenia do badania żywności
wstecz
Wydarzenia Aktualności