Strona główna
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry GOLDSCOPE SDD

SpektrometrGOLDSCOPE SDD

Producent: HELMUT FISCHER

Spektrometr GOLDSCOPE SDD jest spektrometrem przeznaczonym dla producentów wyrobów jubilerskich oraz urzędów probierczych. Wyposażony jest w nowoczesny detektor SDD o wysokiej rozdzielczości, komora pomiarowa z podnoszoną do góry pokrywą zapewnia duży komfort pracy. Zamawiając urządzenie można wybrać jedną z trzech dostępnych przesłon 0,6, 1 lub 2 mm.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Zapytaj o produkt

Opis produktu

Spektrometr GOLDSCOPE SDD

Jest spektrometrem przeznaczonym dla producentów wyrobów jubilerskich oraz urzędów probierczych. Wyposażony jest w nowoczesny detektor SDD o wysokiej rozdzielczości, komora pomiarowa z podnoszoną do góry pokrywą zapewnia duży komfort pracy. Zamawiając urządzenie można wybrać jedną z trzech dostępnych przesłon 0,6, 1 lub 2 mm.

Cechy:

  • detektor typu SDD
  • powtarzalność <0,5 ‰ (przesłona 1 mm )
  • trzy przesłony do wyboru 0,6 mm lub 1 mm lub 2 mm
  • wygodne pozycjonowanie próbki,  
  • szybki pomiar od 20 do 100 sekund
  • prosta obsługa
  • oprogramowanie w języku polskim

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometrometrów fluorescencji rentgenowskich do analiz stopów złotniczych i jubilerskich serii GOLDSCOPE
Model:
GOLDSCOPE SD
GOLDSCOPE SD Pro
GOLDSCOPE SDD
GOLDSCOPE SDD Pro
Programy pomiarowe:

Gold Coating – badanie grubości powłoki złotek i analiza składu pierwiastkowego pod nią (Ag, Pd, Ni, Cu, Zn, Sn, Fe, Cr, Mo, W, Cd)

Gold Coating – badanie grubości powłoki złotek i analiza składu pierwiastkowego pod nią (Ag, Pd, Ni, Cu, Zn, Sn, Fe, Cr, Mo, W, Cd)

Gold Coating – badanie grubości powłoki złotek i analiza składu pierwiastkowego pod nią (Ag, Pd, Ni, Cu, Zn, Sn, Fe, Cr, Mo, W, Cd)

Gold Coating – badanie grubości powłoki złotek i analiza składu pierwiastkowego pod nią (Ag, Pd, Ni, Cu, Zn, Sn, Fe, Cr, Mo, W, Cd)

Programy pomiarowe:

Silver alloys - analiza następujących pierwiastków: Ag, Cu, Zn, Cd, Sn, Ni, Au, Pb, In

Silver alloys - analiza następujących pierwiastków: Ag, Cu, Zn, Cd, Sn, Ni, Au, Pb, In

Silver alloys - analiza następujących pierwiastków: Ag, Cu, Zn, Cd, Sn, Ni, Au, Pb, In

Silver alloys - analiza następujących pierwiastków: Ag, Cu, Zn, Cd, Sn, Ni, Au, Pb, In

Programy pomiarowe:

Gold global - analiza następujących pierwiastków: Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Sn, Pb, Fe, Cr, Ni, Mo, Co, Rh, Ru, In, Ir, W, Bi, Mn, Ga, Cd - fabrycznie kalibrowane na 14 wzorcach (możliwość kalibracji na własnych wzorcach)

Gold global - analiza następujących pierwiastków: Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Sn, Pb, Fe, Cr, Ni, Mo, Co, Rh, Ru, In, Ir, W, Bi, Mn, Ga, Cd - fabrycznie kalibrowane na 14 wzorcach (możliwość kalibracji na własnych wzorcach)

Gold global - analiza następujących pierwiastków: Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Sn, Pb, Fe, Cr, Ni, Mo, Co, Rh, Ru, In, Ir, W, Bi, Mn, Ga, Cd - fabrycznie kalibrowane na 14 wzorcach (możliwość kalibracji na własnych wzorcach)

Gold global - analiza następujących pierwiastków: Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Sn, Pb, Fe, Cr, Ni, Mo, Co, Rh, Ru, In, Ir, W, Bi, Mn, Ga, Cd - fabrycznie kalibrowane na 14 wzorcach (możliwość kalibracji na własnych wzorcach)

Programy pomiarowe:

Rh/Jewelry – badanie grubości powłoki rodowej i analiza składu pierwiastkowego pod nią (Au, Ag, Pd, Cu, Zn, Ni)

Rh/Jewelry – badanie grubości powłoki rodowej i analiza składu pierwiastkowego pod nią (Au, Ag, Pd, Cu, Zn, Ni)

Rh/Jewelry – badanie grubości powłoki rodowej i analiza składu pierwiastkowego pod nią (Au, Ag, Pd, Cu, Zn, Ni)

Rh/Jewelry – badanie grubości powłoki rodowej i analiza składu pierwiastkowego pod nią (Au, Ag, Pd, Cu, Zn, Ni)

Detektor:

PIN

PIN

SDD

SDD

Powtarzalność:

<2‰ (kol. 0,6 mm)

<1‰ (kol. 1 mm)

<0,5‰ (kol. 1 mm)

<0,5‰ (kol. 1 mm)

Kolimator:

0,6 mm

1 mm (opcja. 0,6 mm, 2 mm)

1 mm (opcja. 0,6 mm, 2 mm)

4 przełączane
0,2 / 0,6 / 1 / 2 mm

Minimalna dostępna powierzchnia pomiarowa:

około 0,7 mm

około 0,7 mm

około 0,7 mm

około 0,3 mm

Lampa rentgenowska:

standardowa, stabilizowana termicznie

standardowa, stabilizowana termicznie

micro-focus z okienkiem berylowym

micro-focus z okienkiem berylowym

Filtry:

brak

brak

Al. 500

Ni10, Al1000, Al500, Al. 100, mylar, bez
filtra

Typowe zastosowania:

skupy złota, podstawowa analiza wyrobów jubilerskich

skupy złota, podstawowa analiza wyrobów jubilerskich

skupy złota, producenci wyrobów jubilerskich, rafinacja złota, urzędy probiercze

skupy złota, producenci wyrobów jubilerskich, rafinacja złota, urzędy probiercze

Wymiary:

405x588x426 mm

403x588x365 mm

403x588x365 mm

403x588x365 mm

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Cechy produktu:

  • zautomatyzowane pomiary seryjne
  • regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
  • rozpoznawanie materiału podłoża
  • DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
  • zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
  • automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
  • dokumentacja kalibracji i ustawień
Oprogramowanie WinFTM®
Ukryj szczegóły
Więcej...

Do pobrania

Zapytaj o produkt

Wyślij
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k. ul. Poznańska 104, Skórzewo,  
60-185 Poznań

Kontakt

+48612225800 +48612225800