Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy
Urządzenia do badania odchyłek kształtu
Optyczne systemy oceny stanu powierzchni
Skanery elementów obrotowych
Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii
Optyczne urządzenia do pomiaru nierówności i kształtu
Skanery 3D
Optyczne maszyny pomiarowe 3D
Współrzędnościowe maszyny pomiarowe
Projektory pomiarowe
Mikroskopy
Tomografy rentgenowskie
Kabiny rentgenowskie
Średnicówki Diatest
Systemy mocowania przedmiotów
Wzorce długości i kąta
Płyty i wzorce granitowe
Klasyczne przyrządy pomiarowe
Mierniki grubości powłok
Przyrządy do badania właściwości materiałowych i powłok
Spektrometry
Spektrometry XRF do badania składu złota i metali szlachetnych
Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.
Opis produktu
Zobacz również
Powiązane akcesoria i produkty
Wydarzenia w ITA
W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,
60-185 Poznań
fax: +48612225801 60-185 Poznań
Obserwuj nas
