Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.
Opis produktu
Cechy produktu:
zautomatyzowane pomiary seryjne
regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
rozpoznawanie materiału podłoża
DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń,
ale możesz zapisać się do naszego newslettera,
a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
Ta strona używa plików cookies. Korzystając z niej wyrażasz zgodę na wykorzystywanie cookies, zgodnie z ustawieniami twojej przeglądarki. Dowiedz się więcej o polityce prywatności.