Systemy pomiarowe
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy
Urządzenia do badania odchyłek kształtu
Optyczne systemy oceny stanu powierzchni
Skanery elementów obrotowych
Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii
Optyczne urządzenia do pomiaru nierówności i kształtu
Skanery 3D
Optyczne maszyny pomiarowe 3D
Współrzędnościowe maszyny pomiarowe
Projektory pomiarowe
Mikroskopy
Tomografy rentgenowskie
Rentgenowskie systemy inspekcyjne
Średnicówki Diatest
Systemy mocowania przedmiotów
Wzorce długości i kąta
Płyty i wzorce granitowe
Klasyczne przyrządy pomiarowe
Mierniki grubości powłok
Przyrządy do badania właściwości materiałowych i powłok
Spektrometry
Spektrometry XRF do badania składu złota i metali szlachetnych
Systemy narzędziowe
Systemy narzędziowe
Narzędzia frezarskie
Wiertła i narzędzia do obróbki gwintu
Oprawki i systemy mocowania narzędzi
Oprawki do gratowania, fazowania i grawerowania
Ustawiacze narzędziowe
Systemy monitorowania procesów produkcyjnych
Systemy mocowania przedmiotów obrabianych
Wyposażenie warsztatowe
Inspekcja obrabiarek
Narzędzia i elementy z węglików spiekanych i innych materiałów trudnoobrabialnych
Systemy narzędziowe EWS
Usługi ITA
Usługi ITA
Laboratorium wzorcujące ITA
Usługi skanowania 3D
Badanie i pomiary metodą tomografii komputerowej (CT)
Pomiary wytrzymałości materiałów
Pomiary momentu obrotowego
Stykowe i optyczne pomiary nierówności i topografii powierzchni
Pomiary deformacji 3D
Pomiary siły
Pomiary twardości materiałów
Optyczne pomiary wielkości geometrycznych
Stykowe i optyczne pomiary zarysu kształtu (konturu)
Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.
Opis produktu
Zobacz również
Powiązane akcesoria i produkty
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo, 60-185 Poznań
fax: +48612225801
Obserwuj nas
