Systemy pomiarowe

Systemy pomiarowe

Profilometry i konturografy Urządzenia do badania odchyłek kształtu Optyczne systemy oceny stanu powierzchni Skanery elementów obrotowych Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii Optyczne urządzenia do pomiaru nierówności i kształtu Skanery 3D Optyczne maszyny pomiarowe 3D Współrzędnościowe maszyny pomiarowe Projektory pomiarowe Mikroskopy

Tomografy rentgenowskie Kabiny rentgenowskie Średnicówki Diatest Systemy mocowania przedmiotów Wzorce długości i kąta Płyty i wzorce granitowe Klasyczne przyrządy pomiarowe Mierniki grubości powłok Przyrządy do badania właściwości materiałowych i powłok Spektrometry Spektrometry XRF do badania składu złota i metali szlachetnych

Dyfraktometry rentgenowskie Twardościomierze Przyrządy do badania gęstości Systemy pomiaru siły i momentu Maszyny wytrzymałościowe Urządzenia do badania żywności Urządzenia do badania tekstyliów Akcesoria Endoskopy

Systemy narzędziowe

Systemy narzędziowe

Narzędzia frezarskie Wiertła i narzędzia do obróbki gwintu Oprawki i systemy mocowania narzędzi Oprawki do gratowania, fazowania i grawerowania Ustawiacze narzędziowe Systemy monitorowania procesów produkcyjnych Systemy mocowania przedmiotów obrabianych Wyposażenie warsztatowe Inspekcja obrabiarek Narzędzia i elementy z węglików spiekanych i innych materiałów trudnoobrabialnych Systemy narzędziowe EWS

Automatyka pomiarowa i inspekcyjna

Automatyka pomiarowa i inspekcyjna

Czujniki laserowe LMI Czujniki światła strukturalnego LMI Roboty przemysłowe Mecademic Automatyzacja produkcji Czujniki pojemnościowe Lion Precision Czujniki wiroprądowe Lion Precision Czujniki etykiet Lion Precision

Usługi ITA

Usługi ITA

Laboratorium wzorcujące ITA Usługi skanowania 3D Badanie i pomiary metodą tomografii komputerowej (CT) Pomiary wytrzymałości materiałów Pomiary momentu obrotowego Stykowe i optyczne pomiary nierówności i topografii powierzchni Pomiary deformacji 3D Pomiary siły Pomiary twardości materiałów Optyczne pomiary wielkości geometrycznych Stykowe i optyczne pomiary zarysu kształtu (konturu)

Pomiary fotogrametryczne Pomiary grubości powłok Badanie zawartości ferrytu w stalach Badanie składu pierwiastkowego (spektrometria) Usługi szkoleniowe Usługi serwisowe

Promocja - Wybieram HandySCAN BLACK Rozpoczęliśmy wyjątkową akcję promocyjną na najnowszą generację skanerów 3D - HandySCAN BLACK! W ramach promocji "Wybieram HandySCAN BLACK" skanery z linii HandySCAN BLACK...

koszyk

Start

Oferta

Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe Oprogramowanie WinFTM®

Oprogramowanie WinFTM®

Producent: HELMUT FISCHER

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Opis produktu

Cechy produktu:

zautomatyzowane pomiary seryjne
regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
rozpoznawanie materiału podłoża
DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
dokumentacja kalibracji i ustawień

Zobacz również

Powiązane akcesoria i produkty

Spektrometr do złota GOLDSCOPE SD 510

Spektrometr do złota GOLDSCOPE SD jest modelem przeznaczonym dla skupów złota, jego konstrukcja...

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 215

Spektrometry serii XAN 215 ze względu na swoja konstrukcję i oprogramowanie przeznaczone są przede...

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD

Bardzo wydajny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z programowalnym stolikiem XY i osią Z...

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230/240

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej przeznaczony do ręcznych lub automatycznych pomiarów...

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-µ

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z polikapilarnym układem optycznym dla zautomatyzowanych...

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 232/237

Spektrometry serii XDLM jest przystosowany do analiz powłok na bardzo małych próbkach...

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XULM 240

Kompaktowy spektrometr fluorescencji rentgenowskiej do pomiaru grubości powłok i analizy materiału....

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XUL 210/220

Spektrometr przeznaczony do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno...

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL

Spektrometr XDAL jest przystosowany do analiz bardzo cienkich powłok w elektronice i przemyśle...

Spektrometr do złota GOLDSCOPE SD 520

Spektrometr do złota GOLDSCOPE GOLDSCOPE SD 520 jest spektrometrem przeznaczonym dla producentów...

Spektrometr do złota GOLDSCOPE SD 550

Spektrometr do złota GOLDSCOPE SD 550 jest najbardziej wszechstronnym spektrometrem z serii GOLDSCOPE...

Spektrometr FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252

Uniwersalny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej o bardzo dużych możliwościach, do szybkich...

Wstecz

Strona główna

Powrót do góry

Wydarzenia w ITA

W najbliższym czasie nie planujemy żadnych wydarzeń, ale możesz zapisać się do naszego newslettera, a my poinformujemy Cię o nadchodzących wydarzeniach.

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.

ul. Poznańska 104, Skórzewo,
60-185 Poznań

+48612225800

+48612225800

fax: +48612225801

created by: montownia.com