koszyk

Oprogramowanie WinFTM®

Producent: HELMUT FISCHER
Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Opis produktu

Cechy produktu:

  • zautomatyzowane pomiary seryjne
  • regulowane parametry pomiarowe (napięcie i natężenie lampy rentgenowskiej, filtry, kolimatory)
  • rozpoznawanie materiału podłoża
  • DCM – Distance Controlled Measurement – pomiar przy kontrolowanej odległości
  • zaawansowane funkcje statystyczne (SPC, Cp, Cpk)
  • automatyczne tworzenie raportów według konfigurowalnego szablonu
  • dokumentacja kalibracji i ustawień

Zobacz również

logo-ITA
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  60-185 Poznań
fax: +48612225801
created by: montownia.com