Systemy pomiarowe

Systemy pomiarowe

Profilometry i konturografy Urządzenia do badania odchyłek kształtu Optyczne systemy oceny stanu powierzchni Skanery elementów obrotowych Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii Optyczne urządzenia do pomiaru nierówności i kształtu Skanery 3D Optyczne maszyny pomiarowe 3D Współrzędnościowe maszyny pomiarowe Projektory pomiarowe Mikroskopy

Tomografy rentgenowskie Rentgenowskie systemy inspekcyjne Średnicówki Diatest Systemy mocowania przedmiotów Wzorce długości i kąta Płyty i wzorce granitowe Klasyczne przyrządy pomiarowe Mierniki grubości powłok Przyrządy do badania właściwości materiałowych i powłok Spektrometry Spektrometry XRF do badania składu złota i metali szlachetnych

Dyfraktometry rentgenowskie Twardościomierze Przyrządy do badania gęstości Systemy pomiaru siły i momentu Maszyny wytrzymałościowe Urządzenia do badania żywności Urządzenia do badania tekstyliów Akcesoria Endoskopy

Systemy narzędziowe

Systemy narzędziowe

Narzędzia frezarskie Wiertła i narzędzia do obróbki gwintu Oprawki i systemy mocowania narzędzi Oprawki do gratowania, fazowania i grawerowania Ustawiacze narzędziowe Systemy monitorowania procesów produkcyjnych Systemy mocowania przedmiotów obrabianych Wyposażenie warsztatowe Inspekcja obrabiarek Narzędzia i elementy z węglików spiekanych i innych materiałów trudnoobrabialnych Systemy narzędziowe EWS

Automatyka pomiarowa i inspekcyjna

Automatyka pomiarowa i inspekcyjna

Czujniki laserowe LMI Czujniki światła strukturalnego LMI Czujniki konfokalne LMI Roboty przemysłowe Mecademic Automatyzacja produkcji Czujniki pojemnościowe Lion Precision Czujniki wiroprądowe Lion Precision Czujniki etykiet Lion Precision

Usługi ITA

Usługi ITA

Laboratorium wzorcujące ITA Usługi skanowania 3D Badanie i pomiary metodą tomografii komputerowej (CT) Pomiary wytrzymałości materiałów Pomiary momentu obrotowego Stykowe i optyczne pomiary nierówności i topografii powierzchni Pomiary deformacji 3D Pomiary siły Pomiary twardości materiałów Optyczne pomiary wielkości geometrycznych Stykowe i optyczne pomiary zarysu kształtu (konturu)

Pomiary fotogrametryczne Pomiary grubości powłok Badanie zawartości ferrytu w stalach Badanie składu pierwiastkowego (spektrometria) Usługi szkoleniowe Usługi serwisowe

KONFERENCJA SZKOLENIOWA MATERIAL FORUM 2024 Zapraszamy uprzejmie do udziału w Konferencji Szkoleniowej na temat badań materiałowych - MATERIAL FORUM, która odbędzie się w dniach 15-16 maja 2024 w Hotelu...

koszyk

Oferta

Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe

Oprogramowanie EVOVIS

Oprogramowanie EVOVIS

Producent: JENOPTIK

Oprogramowanie EVOVIS pozwala na ocenę chropowatości i konturu w zależności od konfiguracji urządzenia. W przypadku obsługi urządzeń Surfscan i Nanoscan daje możliwość wyznaczenia chropowatości i konturu w dowolnym miejscu na zebranym zarysie.

Opis produktu

Aplikacja jest łatwa w użyciu i oferuje ujednolicony interfejs dla pomiarów chropowatości i konturu oraz umożliwia sterowanie urządzeniem. Czytelne ikony wraz z opisami funkcji umożliwiają operatorowi szybkie i łatwe uzyskanie wyników pomiarowych według własnych wytycznych. W jednym planie pomiarowym może znajdować się kilka różnych zadań pomiarowych ocenianych według różnych warunków pomiarowych, co umożliwia uzyskanie i sprawdzenie wielu parametrów w jednym raporcie.

Cechy:

łatwa i prosta obsługa
kompleksowa i interaktywna analiza profilu
ponad 100 parametrów P, R i W według DIN, ISO i JIS
umożliwia pomiar chropowatości zgodnie z nową normą ISO 21920
szybka i niezawodna ocena cech geometrycznych przedmiotu
narzędzia oceny wraz z możliwością ustawienia wartości tolerancji
możliwość porównania zarysu konturu z nominałem
możliwość automatycznej oceny cech geometrycznych nawet dla skomplikowanych przedmiotów
praca w środowisku Windows
komunikacja z Wordem i Excelem
oprogramowanie w języku polskim

Oprogramowanie-EVOVIS-kreator-wyboru-warunkow-pomiarowych

Oprogramowanie EVOVIS - kreator wyboru warunków pomiarowych

Oprogramowanie-EVOVIS

do napisania

Oprogramowanie-EVOVIS

do napisania

Oprogramowanie-EVOVIS

do napisania

Oprogramowanie-EVOVIS

do napisania

Zobacz również

Powiązane akcesoria i produkty

Stacjonarny przyrząd do pomiaru konturu Waveline W800C/W900C

Waveline W800C / W900C firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do pomiaru konturu. Modułowa...

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline W800RC/W900RC

Waveline W800RC/W900RC firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do pomiaru chropowatości...

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline Waveline W800/W900 Surfscan

Stacjonarny przyrząd Waveline W800/W900 Surfscan firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) umożliwia pomiar...

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline W800/W900 Nanoscan

Stacjonarny przyrząd Waveline W800/W900 Nanoscan firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to ultra precyzyjny system...

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W800R/W900R

Waveline W800R/W900R firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) to uniwersalny system do pomiaru chropowatości....

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline W600R/W600C/W600RC

Prezentujemy Waveline W600 - kompaktowy system pomiarowy o prostej obsłudze, zaprojektowany...

Wstecz

Strona główna

Powrót do góry

ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.

ul. Poznańska 104, Skórzewo, 60-185 Poznań

fax: +48612225801

Nadchodzące webinary i wydarzenia

Material Forum 2024KONFERENCJA SZKOLENIOWA NA TEMAT BADAŃ MATERIAŁOWYCH

15-16 maj 2024

Hotel Barczyzna

Wszystkie wydarzenia

created by: montownia.com