koszyk

MountainsMap

Producent: DIGITAL SURF
Używany przez tysiące inżynierów, naukowców i metrologów na całym świecie, oprogramowanie MountainsMap® jest standardem w analizie tekstury powierzchni 2D i 3D oraz metrologii do użytku z profilometrami i innymi przyrządami do pomiaru powierzchni.

Opis produktu

Używany przez tysiące inżynierów, naukowców i metrologów na całym świecie, oprogramowanie MountainsMap® jest standardem w analizie tekstury powierzchni 2D i 3D oraz metrologii do użytku z profilometrami i innymi przyrządami do pomiaru powierzchni.

Wizualizuj, koryguj i analizuj profile i powierzchnie - Filtruj chropowatość i falistość zgodnie z normą ISO 16610 - Oblicz parametry profilu ISO i powierzchni - Wyodrębnij informacje funkcjonalne i metrologiczne z danych za pomocą zaawansowanych narzędzi: analiza Fouriera, analiza cząstek, wysokość schodka, dopasowanie kształtu, filtry falistości, analiza fraktalna itp.

Moduły standardowe:

Chropowatość i parametry ISO

  • parametry 3D zdefiniowane w normie ISO 25178, w tym wysokość (Sa, Sq, Ssk, Sku, Sz, itp.) oraz parametry funkcjonalne (Smr, Smc, Sxp)
  • ISO 4287 (i nadchodząca ISO 21290) parametry podstawowe i chropowatości (Ra, Rq, Rsk, Rmr, Rdc, Rdq, RPc itp.).
  • parametry 2D i 3D ASME B46.1 (USA), GB/T (Chiny), DIN (Niemcy), JIS (Japonia), NF (Francja), BSI (Wielka Brytania), UNE (Hiszpania) i UNI (Włochy) ) itp
  • analiza funkcjonalna (krzywa nośności profilu Abbott-Firestone i histogram rozkładu głębokości, odejmowanie jednej powierzchni od drugiej, obliczanie stosunku objętości materiału do pustej przestrzeni i grubości do trzech pionowych warstw powierzchni)

Korekcja danych wejściowych

  • normalizacja powierzchnii i usuwanie artefaktów przed analizą:
  • poziomowanie
  • odwracanie w osi poziomej lub pionowej
  • obrót w krokach co jeden stopień
  • ekstrakcja stref
  • korekta lub usunięcie anomalnych linii skanowania
  • próg do usuwania pików
  • retusz pojedynczych artefaktów
  • dekonwolucja minimalizująca wpływ końcówki na dane pomiarowe.
  • uzupełnianie brakujących punktów danych
  • wygładzanie powierzchni
  • ponowne próbkowanie w celu zwiększenia rozdzielczości obrazu

Geometria powierzchni 

  • szybka i dokładna analiza geometrii powierzchni za pomocą narzędzi do pomiaru:
  • odległości
  • kąty
  • obszary szczytów i dolin
  • objętość nierówności i dziur
  • wysokości stopni na powierzchniach i profilach
  • współpłaszczyznowość

Łączenie powierzchni

  • automatycznie łączenie ze sobą wiele pomiarów, które nakładają się w płaszczyźnie poziomej, aby zwiększyć pole widzenia
  • interaktywnie łączenie dwóch lub więcej pomiarów powierzchni na różnych wysokościach w jedną powierzchnię gotową do analizy, aby zwiększyć zakres pionowy

Analiza podpowierzchniowa

  • wyodrębnianie strefy prostokątnej lub nieprostokątnej. Usuwanie fragmentów z powierzchni przez zastosowanie progu odcięcia dla założonego zakresu wysokości
  • automatycznie podzielenie powierzchni na motywy (komórki tekstury), można użyć operatora - Podział i Poziom, aby wyodrębnić podpowierzchnię i ją wyrównać. Po wydobyciu podpowierzchni lub obszaru zainteresowania można je analizować w dokładnie taki sam sposób, jak pełną powierzchnię – parametry są obliczane tylko na podpowierzchni. Umożliwia to na przykład badanie chropowatości, płaskości i współpłaszczyznowości płaszczyzn na MEMS oraz na elementach mechanicznych i elektronicznych

 

Analiza powłoki (powierzchnia o dowolnym kształcie)

  • wizualizacja i analiza powłoki:
  • wizualizacja i analiza powierzchnie o dowolnym kształcie (powłoki), w tym pliki STL, OBJ, PLY i 3MF
  • analizowanie danych generowanych przez profile z wieloma osiami skanowania. Przydatne w zastosowaniach, w których trzeba zobaczyć dane pod każdym kątem (produkcja przyrostowa, skany przy użyciu tomografii rentgenowskiej itp.)
  • analiza metrologiczna na powłokach:
  • krzywizny i odchylenia powierzchni jako kolorową mapę w 3D
  • dopasowanie formy odniesienia (plan, walec, kula)
  • filtrowanie podobne do Gaussa, aby obliczyć gładką powierzchnię odniesienia
  • obliczanie parametrów chropowatości powierzchni o dowolnym kształcie: parametry wysokości, parametry hybrydowe/przestrzenne, parametry objętości


Analiza konturu

  • wyodrębnianie pionowego (x,z) lub poziomego (x,y) kontur (profil) z powierzchni
  • definiowanie formy nominalnej za pomocą prostych interaktywnych narzędzi do kojarzenia elementów geometrycznych z konturami
  • Obliczanie wymiarów (w tym odległości, promienie, średnice i kąty) za pomocą automatycznego wymiarowania i narzędzi interaktywnych
  • porównanie zmierzonych konturów z danymi CAD (DXF) lub zdefiniowaną przez użytkownika formą nominalną
  • Określanie tolerancji, w tym duże tolerancje położenia, jeśli jest to wymagane
  • wizualizacja odchylenia formy dzięki powiększonej grafice
  • automatycznie generowanie tabeli wyników, w tym status zaliczony/niezaliczony
  • analiza gotyckiego łuku łożysk


Analiza cząstek i nie tylko

  • automatyczne wykrywanie i liczenie ziaren, cząstek, wysp, wypukłości, dziur i motywów (komórek tekstury) przy użyciu wielu metod wykrywania.
  • Sortowanie cząstki w grupy według kilku kryteriów
  • zajęcia graficznie w czasie rzeczywistym, twórz wykresy kontrolne, histogramy, wykresy punktowe itp.
  • analiza Fouriera i falkowa
  • analiza częstotliwości – interaktywne widmo częstotliwości, interakcyjna gęstość widma mocy, autokorelacja i interkorelacja
  • izotropia, kierunkowość i okresowość – dominujące kierunki powierzchni na róży kompasowej i obliczanie parametrów
  • odszumianie powierzchni za pomocą edytora wykresów FFT
  • dyskretne filtrowanie falkowe (powierzchnie 3D i profile 2D) — wizualizacja powierzchni lub profilu na wielu poziomach skali — wybór poziomów skali chropowatości i falistości
  • dekompozycja falkowa ciągła – badania poziomów skali i lokalizacji przestrzennych, w których występują zjawiska

 

Analiza 4D.

  • łączenie serii powierzchni lub przekonwertowanych obrazów do analizy 4D w odniesieniu do czasu, temperatury, pola magnetycznego lub innego wymiaru.
  • wizualizacja ewolucję powierzchni, profilu i punktu, lataj nad zmieniającą się powierzchnią i nagrywanie filmów do prezentacji
  • statystyki dotyczące ewolucji parametrów chropowatości powierzchni
  • Filtracja szumów i podświetlanie obszarów o różnym zachowaniu kinetycznym za pomocą transformacji Karhunena-Loève'a (analiza głównych komponentów)

 

Analiza korelacyjna

  • kolokalizacja danych topografii powierzchni 3D i obrazy z różnych instrumentów (SEM, AFM itp.), aby podkreślić cechy powierzchni
  • nakładanie obrazów na topografię 3D (oś z w jednostkach wysokości) lub na obrazy pseudo-3D (oś z w jednostkach intensywności)
  • dostęp do szerokiej gamy opcji renderowania i ustawianie przezroczystość kolejnych warstw

 

Moduły analiz: Advanced Contour, SPM Extension, Shell Topography, SEM Topography, Colocalization, Lead Analysis (Twist), Scale-Sensitive Analysis
Operacje na plikach: szycie, utwórz plik wielokanałowy, serie powierzchni, pliku powierzchnia plus obraz, budowanie 3d (sem), poziomowanie, obrót, odbicie, filtr przestrzenny, próg, usuwanie wartości odstających, retusz, poprawianie przez interpolację, dekonwolucja kształtu ostrza, usuwanie kształtu (w tym wielopłaszczyznowe), filtr standardowy, przekształcenie falek, filtr spektrum, wartość progowa spektrum, spektrum fft, mapowanie lokalnych właściwości, skrypt matlab, wyodrębnianie obszaru, profilu, serii profili, struktur, zmiana rozdzielczości, edycja osi, porównanie powierzchni/profilu.
Analizy: widok 3d, kolokalizacja,tabela parametrów (chropowatość), odległość, wysokość schodka, zaawansowana analiza konturu, analiza cząstek, bruzdy, rozkład zliczeń pików, analiza fraktalna, analiza zależna od skali, objętość szczytu/doliny, głębokość doliny, rozkład nachylenia, kierunek struktury powierzchni, widmo częstotliwości, gęstość spektralna mocy, krzywa abbotta-firestone’a, parametry objętości, warstwy
Formaty importu: .RS3, .S3D, .PRO, .SUR, .AMB, .RS3, .MS3, .SIG, .PRO, .SUR, .SPRO, .SSUR, .DISC, .FRT, .PIP, .TOP, .HWP, .HWH, .3DD, .DAT, .RWB, .RWT, .MAP, .AMB, .XML, .WLI, .PCD, .PRF, .AM2, .AM3, .UDF, .OMS, .NMS, .SUR, .PRO, .SUR, .CSV, .JOB, .ASC, .RD2, .RD3, .PRN, .PRO, .SUR, .PRO, .MES, .BOD, .SUR, .MAP, .MOD, .PRF, .PRO, .SUR, .STR, .STH, .UB2, .UB3, .UA2, .UA3, .MUL, .CSV, .WSF, .STP, .MI, .IVS, .TXT, .BCRF, .BCR, .AXD, .AXZ, .DAT, .IMG, .BII, .D40, .DAT, .VERT, .SIS, .*, .NS2, .NS3, .NS4, .GSF, .GWY, .DUMP, .AFM, .AFP, .BCR, .JPK, .STP, .MI, .IVS, .STP, .MI, .IVS, .NAN, .XML, .EZD, .NID, .CH, .TOP, .MDT, .FLAT, .HDF5, .ARDF, .H5ebsd, .H5OINA, .SUR, .TIF, .AFM, .TXT, .SM3, .SM4, .ASD, .XQT, .SIS, .TFR, .ZFR, .H5, .MAP, .MAT, .AL3D, ALRL3D, .DAT, .MAP, .ARG, .TMD, .H3D, .CSV, .TDR, .INF, .MAP, .MAP, .LMS, .XML, .JPG, .TIF, .DHM, .D2, .OMS, .NMS, .OMS, .NMS, .FITS, .SPM, .ICS, .RAW, .SDF, .OLS, .LEXT, .PLU, .SIP, .SUR, .SUR, .TIF, .OPD, .LSM, .ZMP, .ZMG, .DAT, .DATX, .AVI, .EMC, .SEM3D, .CZI, .ZVI, .BCR, .SMD, .SDF, .TXT, .X3P, .STL, .OBJ, .PLY, .BMP, .EMF, .GIF, .JPG, .PNG, .TIF, .WMF, .TIF, .KI, .BRE, .HVI, .FD2, .FD3, .ASC, .IGS, .OGT, .RES, .AXD, .AXZ, .NAO, .H5, .SPD, .HDR, .H5, .HDF5, .IBW, .MDT, .HDF5, .ARDF, .H5ebsd, .H5OINA, .H5, .FITS, .HVI, .SPC, .3DS, .MAPX, .SMD, .S1D
Formaty eksportu: .MOD, .NMS, .PIP, .PRF, .PRF, .PRO, .SMD, .TXT, .X3P, .3MF, .MAP, .NMS, .SDF, .STL, .SUR, .SUR, .TXT, .VRL, .X3D, .X3P, .BMP, .JPG, .GIF, .PNG, .3MF, .OBJ, .PLY, .STL

Moduły opcjonalne:

SPM Extension

Moduł analizy obsługujący format plików SPM i danych wielokanałowych. Zawiera dedykowane narzędzia do analizy obrazu.

Shell Topography

Zestaw narzędzi metrologicznych dla danych powłok (powierzchnie o dowolnym kształcie). Przekształca element przestrzenny na dane powierzchni.

SEM Topography

Moduł obsługujący formaty obrazu SEM. Zawiera dedykowane narzędzia do analizy obrazu SEM i przekształcenia na plik powierzchni 3D.

Colocalization

Moduł umożliwiający kolokalizację danych z różnych typów przyrządów i przeprowadzanie badań korelacji.

Lead Analysis (Twist)

Analiza leadów drugiej generacji (Twist) dla przemysłu motoryzacyjnego.

Scale-Sensitive Analysis

Moduł wykorzystujący metody wieloskalowe do analizowania właściwości geometrycznych powierzchni i ich odchyłek skali.

Prezentacja Video

Galeria

Zobacz również

Powiązane akcesoria i produkty

logo-ITA
ITA spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Sp. k.
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  60-185 Poznań
tel: +48612225800 fax: +48612225801
created by: montownia.com