Spektrometr FISCHERSCOPE X-RAY XUL 220 został stworzony z myślą o precyzyjnych, nieniszczących pomiarach grubości powłok jedno- i wielowarstwowych, w tym stopowych oraz metalicznych. Wyposażony w proporcjonalny licznik detektor i standardową lampę rentgenowską zapewnia dokładność nawet przy elementach o złożonej geometrii.
Specjalna komora pomiarowa o wymiarach 310 × 320 × 174 mm z wycięciem w kształcie litery „C” umożliwia wygodne badanie dużych, płaskich próbek, a ręczny stolik XUL 220 z zakresem ruchu 30 × 40 mm i udźwigiem do 2 kg pozwala na szybkie i łatwe pozycjonowanie detalu. Cztery przełączalne kolimatory (standardowo Ø 0,3 mm, opcjonalnie Ø 0,1; Ø 0,2; 0,3 × 0,05 mm) oraz odległość pomiarowa 0–25 mm gwarantują optymalne dopasowanie parametrów do każdego zadania.
Cechy produktu:
-
urządzenie przystosowane do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale
-
analiza głównych składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
-
odległość pomiarowa 0-25mm
-
tor pomiarowy pozwalający na szybkie i łatwe pozycjonowanie próbki
-
komora pomiarowa z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych i płaskich próbkach