21 października , Kraków
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok
DUALSCOPE MP0RH-FP – miernik grubych powłok na metalach
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok
DUALSCOPE MP0RH-FP – miernik grubych powłok na metalach
Kiedy wybrać:
Gdy standardowy zakres serii MP0R jest niewystarczający, szczególnie przy grubych powłokach na podłożu Fe.
Dodaj do koszyka
Dostępny na zamówienie (4 tygodnie)
Dodano produkt do koszyka! Zobacz koszyk
Dodaj do koszyka
DUALSCOPE MP0RH-FP jest przeznaczony do nieniszczącego pomiaru grubych powłok metalicznych i ochronnych. Mierzy do 7000 µm na stali i żelazie oraz do 2500 µm na przewodzących metalach nieżelaznych.
DUALSCOPE MP0RH-FP wykonuje szybkie i nieniszczące pomiary grubości powłok. Konstrukcja modelu: sonda osiowa na stałym przewodzie 800 mm.
Urządzenie oferuje pamięć do 10 000 wyników, statystyki, kontrolę tolerancji, transfer USB oraz współpracę z FISCHER DataCenter i PC-Datex.
Metoda pomiarowa przeznaczona do pomiaru niemagnetycznych powłok na podłożach ferromagnetycznych, takich jak np.: stal i żeliwo. Pomiar odbywa się bezinwazyjnie, bez uszkadzania powłoki, zgodnie z normą DIN EN ISO 2178.
Technologia umożliwiająca pomiar powłok nieprzewodzących na metalach niemagnetycznych, np. aluminium, zgodnie z normą DIN EN ISO 2360.
| Model | Metoda prądów wirowych | Metoda indukcji magnetycznej | Zakres pomiarowy | Pamięć urządzenia | Pomiar zgodny z normą | Ustawienie granic tolerancji | Współpraca z FISCHER DataCenter |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Permascope® MP0 |
|
|
0-2000 μm | 1000 wyników |
|
|
|
| Dualscope® MP0 |
|
|
0-2000 μm | 1000 wyników |
|
|
|
| Permascope® MP0-FP |
|
|
0-2500 μm | 1000 wyników |
|
|
|
| Permascope® MP0R |
|
|
0-2500 μm | 10 000 wyników |
|
|
|
| Isoscope® MP0R |
|
|
0-1200 μm | 10 000 wyników |
|
|
|
| Dualscope® MP0R |
|
|
0-2000 μm | 10 000 wyników |
|
|
|
| Permascope® MP0R-FP |
|
|
0-2500 μm | 10 000 wyników |
|
|
|
| Dualscope® MP0R-FP |
|
|
0-2000 μm | 10 000 wyników |
|
|
|
Pozwala kontrolować znacznie grubsze warstwy ochronne niż standardowe modele MP0R, zwiększając zakres możliwych zastosowań.
Jedno urządzenie umożliwia kontrolę powłok na stali, żelazie i metalach nieżelaznych bez ręcznego przełączania metody.
Operator może wygodniej wykonywać pomiary na dużych konstrukcjach i w trudno dostępnych obszarach bez konieczności ustawiania całego miernika przy powierzchni.
Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje mierniki grubości powłok serii MP0. Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.
Przyjedziemy do Twojej firmy i pokażemy urządzenie w akcji. Sprawdzisz je w praktyce i dostaniesz konkretne odpowiedzi.
Broszura serii MP0 i MP0R
Mierniki serii MP0 i MP0R umożliwiają pomiary na większości magnetycznych i niemagnetycznych materiałach podłoża (np. stal lub aluminium).
Do kontroli poprawności pomiarów stosuje się folie wzorcowe.
Tak, jest lekki, kieszonkowy i odporny na intensywne użytkowanie.
Dla cienkich powłok dokładność wynosi nawet ±1–1,5 µm.
Końcówka wykonana jest z węglika spiekanego i bardzo odporna na ścieranie.
Kiedy wybrać:
Gdy jeden miernik ma obsługiwać różne typy metali, a dostęp wymaga sondy pryzmatycznej.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebne są dwie metody pomiarowe do trudno dostępnych miejsc.
Kiedy wybrać:
Gdy jeden miernik ma obsługiwać podłoża Fe i NF, a punkt pomiarowy jest dostępny dla sondy zintegrowanej.
Kiedy wybrać:
Gdy podłoże jest stalowe, a dostęp do punktu pomiarowego wymaga sondy pryzmatycznej.
Kiedy wybrać:
Gdy podłoże jest ferromagnetyczne, a miejsce pomiaru łatwo dostępne.
Kiedy wybrać:
Gdy właściwa jest metoda indukcji magnetycznej, ale korpus miernika utrudnia dotarcie do punktu pomiarowego.
Kiedy wybrać:
Gdy wszystkie podłoża są nieferromagnetycznymi metalami przewodzącymi i mierzone powłoki są nieprzewodzące.
Kiedy wybrać:
Gdy jeden kompaktowy miernik ma obsługiwać podłoża stalowe i przewodzące metale nieżelazne, a zakres do 2000 µm jest wystarczający.
Kiedy wybrać:
Gdy wszystkie badane elementy mają podłoże stalowe lub żeliwne i potrzebny jest zakres do 2500 µm.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Zapytaj o produkt