Starannie dobrana tematyka pod potrzeby współczesnego przemysłu. Prezentujemy najnowocześniejsze techniki pomiaru chropowatości i innych składowych nierówności powierzchni, zarówno stykowe jak i optyczne.
Czym jest sama teoria bez praktyki?
Częścią konferencji są warsztaty pozwalające na zdobycie doświadczenia w realizacji konkretnych zadań pomiarowych.
Certyfikat uczestnictwa potwierdzający zdobycie wiedzy teoretycznej i umiejętności praktycznych z zakresu analizy nierówności powierzchni w oparciu o najnowsze urządzenia pomiarowe.
Konferencja szkoleniowa pozwoli każdemu uczestnikowi na zapoznanie się z najnowocześniejszymi technologiami związanymi z pomiarami chropowatości zarówno stykowymi
jak i optycznymi. W połączeniu z dużą dawką teorii dotyczącą parametrów chropowatości 2D oraz 3D szkolenie zapewni uczestnikom
niepowtarzalną okazję wykorzystania zdobytej wiedze w praktyce.
zaznajomisz się z metodologią pomiarów nierówności powierzchni 2D oraz 3D
będziesz miał okazję wykorzystać zdobytą wiedzę podczas zajęć praktycznych
zaznajomisz się z analizą nierówności i konturu w skali mikro i makro
poznasz tendencje normalizacyjne dotyczące pomiarów nierówności powierzchni
dowiesz się jak oznaczać nierówności powierzchni na rysunkach technicznych
InfiniteFocusG5 jest uniwersalnym, dokładnym i szybkim systemem optycznym do pomiaru 3D. Za pomocą jednego systemu mamy możliwość wykonania pomiarów geometrii, profilu i chropowatości. Urządzenie pozwala na zebranie nawet kilkudziesięciu milionów punktów pomiarowych w bardzo krótkim czasie. W zależności od zastosowanego obiektywu, zakres pomiarowy może wynosić od około 3 mm przy rozdzielczości pionowej 10 nm, do ponad 20 mm przy rozdzielczości rzędu 400 nm. Przedmioty mierzone mogą być wykonane z materiałów o bardzo różnej chropowatości i refleksyjności.
Uniwersalny system do pomiaru chropowatości i konturu. Modułowa konstrukcja urządzenia zapewnia możliwość obliczania wszystkich znormalizowanych parametrów profilu chropowatości i falistości oraz ocenę cech geometrycznych takich jak odległości, kąty, promienie, itp. Koncepcja “plug and measure” pozwala na indywidualną konfigurację urządzenia. Zestaw dodatkowo może być wyposażony w stolik CNC umożliwiający sterowanie przemieszczaniem mierzonego elementu w kierunku osi Y, co umożliwia uzyskanie topografii powierzchni.
Polytec TopMap 500 – Interferometr światła białego o dużym zakresie skanowania. Przyrząd pozwala na skanowanie i pomiar kształtów w zakresie pionowym do 70 mm. System posiada rozdzielczość pionową od 0,5 mikrometra. Pojedyncze pole obserwacji (bez łączenia skanów) wynosi 40 x 30 mm, a ze stitchingiem 200 x 200 mm. Istnieje możliwość aplikacji sensora punktowego konfokalnego.
Optyczna maszyna pomiarowa przeznaczona do pomiaru topografii i chropowatości powierzchni. Do wyboru mamy kilka zakresów pomiarowych, z których największy to 200x200x200 mm (X,Y,Z) oraz dodatkowo oś obrotowa. Do wyboru mamy różne sensory: konfokalne, interferometryczne, głowice laserowe, głowice stykowe o małym nacisku. Magazyn sensorów może być uzupełniony o kamerę CCD. Oprogramowanie. AltiMap umożliwia tworzenie map 3D, profili 2D, pomiary chropowatości i konturu, wysokości, płaskości a także obróbkę statystyczną i tworzenie makr pomiarowych.
10:45 - 12:00
12:00 - 13:00
13:00 - 13:30
mgr inż. Dariusz Brzozowski
13:30 - 14:30
prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski
14:30 - 15:30
dr inż. Rafał Reizer
15:30 - 16:00
16:00 - 17:00
mgr inż. Paweł Górniak, mgr inż. Paweł Ziętkiewicz
17:00 - 18:30
19:30 - 23:30
08:00 - 09:00
09:00 - 10:00
mgr inż. Dariusz Brzozowski
10:00 - 11:00
dr rer. nat. Wilfried Bauer
11:00 - 11:30
11:30 - 12:30
prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski
12:30 - 13:30
13:30 - 14:30
14:30 - 14:45
Hotel Mościcki
Resort & Conference
ul. Nadpilliczna 3
97-215 Spała