19 marca , Tarczyński Arena Wrocław
Sprawdź szczegóły
- Start
-
Baza wiedzy
-
Analiza składu pierwiastkowego
-
Analiza zawartości śladowych pierwiastków w materiałach stosowanych w jubilerstwie
-
Baza wiedzy
-
Analiza składu pierwiastkowego
-
Analiza zawartości śladowych pierwiastków w materiałach stosowanych w jubilerstwie
Analiza zawartości śladowych pierwiastków w materiałach stosowanych w jubilerstwie
Przedmioty, które mają bezpośredni kontakt z ludzką skórą powinny być wolne od szkodliwych oraz wywołujących alergie substancji. Obecnie trwają prace nad nowymi regulacjami, które mają chronić klientów poprzez ograniczenie zawartości ołowiu (Pb), kadmu (Cd) oraz innych toksycznych lub alergicznych pierwiastków w biżuterii, zegarkach oraz innych metalowych przedmiotach np. wsuwkach do włosów, częściach garderoby, torebek czy portfeli, itp. To wyzwanie analityczne wymaga sprzętu pomiarowego, który łatwo i szybko wykryje nawet najmniejsze zawartości substancji niebezpiecznych.
Kategorie
Baza wiedzyZe względów ekonomicznych części metalowe biżuterii i akcesoriów często wykonywane są z materiałów tanich
(np. mosiądze czy stopy cynku) i łatwo poddających się obróbce, które następnie pokrywane są powłokami dekoracyjnymi. Zarówno wspomniane powłoki jak i pokrywane nimi detale muszą być wolne od ołowiu (Pb) oraz kadmu (Cd). Ze względu na koszty oraz oszczędność czasu najefektywniejsza jest analiza zawartości substancji niebezpiecznych jeszcze przed ukształtowaniem i pokryciem wyrobu.
Zamiast skomplikowanych i czasochłonnych analitycznych metod chemicznych można wykorzystać systemy działające w oparciu o prostą w użyciu metodę fluorescencji rentgenowskiej (XRF). Wysoka skuteczność analityczna w powiązaniu z niskimi progami detekcji niebezpiecznych pierwiastków – niezbędna dla każdego systemu pomiarowego – czyni spektrometry XRF firmy FISCHER idealnym rozwiązaniem dla tych zadań.
Typowe wartości odchylenia standardowego dla pomiarów zawartości
ołowiu, Pomiary wykonane przez spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
| Macież | Odch. stand. Pb [ppm] |
| ABS | 0,5 |
| Al | 2 |
| Cu | 13 |
| Zn | 20 |
| Sn | 0,6 |
| Mosiądz | 10-30 |
| SnBi2 | 5-15 |
| SnBi50 | 50-100 |
Odchylenie standardowe dla powtórzonych pomiarów jest bezpośrednim wskaźnikiem najniższych progów detekcji dla danego urządzenie (próg detekcji ≈ 3 x odch. stand.). Imponujące wyniki z Tabeli 1 pokazują, że metoda XRF oraz FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD jest wyjątkowo dobrze dobraną kombinacją do analizy zawartości śladowych pierwiastków, które są przedmiotem zainteresowania.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD jest urządzeniem wykorzystywanym na całym świecie do klasyfikowania materiałów wykorzystywanych do produkcji biżuterii i przedmiotów pokrewnych. Charakteryzuje się prostotą obsługi oraz znakomitą precyzją pomiaru i dlatego jest najlepiej dostosowany do prowadzenia nadzoru zgodnie z nowymi regulacjami.
-
Nowość
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD — uniwersalny spektrometr XRF z detektorem SDD- Uniwersalna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok.
- Detektor SDD – wysoka precyzja i szybkie czasy pomiaru.
- Stabilna konstrukcja do pracy laboratoryjnej i kontroli jakości.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 Helmut Fischer- Nieniszczące pomiary powłok jedno i wielowarstwowych.
- Szybkie pomiary również na dużych próbkach (5–30 s).
- Ręczny stolik XY – precyzyjny wybór miejsca pomiaru.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach.Bestseller
Spektrometr XRF do pomiarów seryjnych FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 Helmut Fischer- Dokładne pomiary powłok na bardzo małych próbkach (od 0,2 mm).
- Pomiary powłok galwanicznych w tym wielowarstwowych.
- Programowalny stolik XY – wygoda i powtarzalność pomiarów.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wygodnie mierzyć cienkie powłoki na drobnych elementach w dużych ilościach.
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ Helmut Fischer- Bardzo szybkie pomiary grubości powłok na małych detalach w elektronice.
- Możliwość analizowania struktur o wielkości od 20 μm.
- Zautomatyzowane pomiary dzięki programowalnemu stolikowi XY, zwiększona precyzja i efektywność.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz efektywnie mierzyć grubość powłok na konektorach i płytkach PCB.
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 Helmut Fischer- Przeznaczone do badania składu złota i metali szlachetnych.
- Badanie grubości powłok i kąpieli galwanicznych.
- Ekonomiczny wybór dla branży jubilerskiej.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 Helmut Fischer- Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
- Stały kolimator i nieruchomy stolik pomiarowy.
- Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 252 Helmut Fischer- Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
- Cztery automatycznie przełączane rozmiary powierzchni pomiarowych.
- Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.
Kiedy wybrać:
Gry potrzebujesz uniwersalnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600 Helmut Fischer- Pomiary grubości powłok jedno i wielowarstwowych od kilku nm.
- Analiza kąpieli galwanicznych (od 0,2 g/l).
- Pomiar od góry - większa czułość dla pierwiastków lekkich.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.Nowość
Spektrometr XRF do najcieńszych powłok FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® 850 Helmut Fischer- Bardzo wysoka dokładność przy pomiarze ultracienkich powłok i metali szlachetnych.
- Detektor SDD 50 mm² — szybka analiza nawet wymagających zastosowań.
- Duży kolimator — duża powtarzalność i szybka praca seryjna.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.Treść powyższego artykułu korzysta z ochrony udzielanej przez przepisy ustawy z dnia 4 lutego 1994 r. o prawie autorskim i prawach pokrewnych (j.t. Dz. U. z 2006 r. Nr 90, poz. 631 ze zm.). Każdy z Klientów zobowiązany jest do poszanowania praw autorskich pod rygorem odpowiedzialności cywilnoprawnej oraz karnej wynikającej z przepisów tej ustawy. Treść artykułu – w całości bądź jakiejkolwiek części – może być wykorzystywana tylko w zakresie dozwolonego użytku osobistego. Wykorzystanie tego artykułu - w całości bądź jakiejkolwiek części - do innych celów a w szczególności - komercyjnych, w tym kopiowanie, publiczne odtwarzanie, lub udostępnianie osobom trzecim w jakikolwiek inny sposób, może następować tylko pod warunkiem uzyskania wyraźnego pisemnego zezwolenia ITA i na warunkach określonych przez ITA. W celu uzyskania zgody na wykorzystanie zawartości Strony, należy skontaktować się z ITA za pośrednictwem formularza kontaktowego dostępnego w zakładce Kontakt. Korzystanie z powyższej treści w celu innym niż do użytku osobistego, a więc do kopiowania, powielania, wykorzystywania w innych publikacjach w całości lub w części bez pisemnej zgody ITA jest zabronione i podlega odpowiedzialności cywilnoprawnej oraz karnej wynikającej z przepisów ustawy o prawie autorskim i prawach pokrewnych.
Obserwuj nas
