prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski, PROF. PP

Ekspert w dziedzinie metrologii, specjalizujący się w pomiarach długości, chropowatości oraz analizie nierówności powierzchni. Michał Wieczorowski jest profesorem na Politechnice Poznańskiej, gdzie prowadzi badania związane z nowoczesnymi technologiami pomiarowymi. Jego prace koncentrują się na rozwoju bezstykowych metod pomiarowych oraz analizie mikrostruktury powierzchni w kontekście przemysłu 4.0 i przyszłościowej metrologii.

Obszary działalności:

• Metrologia długości i chropowatości powierzchni
• Trójwymiarowa analiza nierówności powierzchni
• Odchyłki kształtu i położenia w pomiarach
• Przenośne przyrządy do pomiaru nierówności powierzchni
• Wykorzystanie mikroskopii różnicowania ogniskowego w metrologii
• Bezstykowe metody pomiarowe nierówności powierzchni
• Digitalizacja powierzchni w mikro-, mezo- i makroskalach
• Wyzwania metrologii w kontekście przemysłu przyszłości