– zaawansowany nanotwardościomierz Martensa
System pomiaru twardości Martensa HM, charakterystycznych parametrów sprężystości oraz innych parametrów materiałowych aż do zakresu Nano, wykorzystujący metodę instrumentalnego wciskania wgłębnika wg PN-EN ISO 14577-1 i ASTM E 2546.
Podobnie jak urządzenia serii
FISCHERSCOPE® HM2000,
PICODENTOR® HM500 dokonuje pomiaru twardości metodą Martensa, korzystając z wszystkich jej zalet. Daje również możliwość przeprawdzenia badania metodą Vickersa z wgłębnikiem piramidkowym, a nawet zastosowania wgłębników kulkowych..
Cechy charakterystyczne
- Łatwa obsługa dzięki automatycznemu rozpoznawaniu obiektywów, zmorotyzowanej osi Z i autofocusowi
- Znakomity stosunek jakość-cena: rozdzielczość i dokładność pomiaru siły i głębokości na poziomie urządzeń o znacznie wyższej cenie.
- Szybki pomiar większości próbek bez konieczności ich przygotowania.
- Pomiar bardzo małych struktur dzięki stolikowi X/Y o dokładności ≤ 0,5 μm
- Ekstremalna stabilność dzięki granitowej konstrukcji o bardzo niskim współczynniku rozszerzalności cieplnej i właściwościach wibroizolacyjnych.
- Dodatkowe tłumienie wibracji dzięki zamkniętej komorze pomiarowej z aktywnym stołem antywibracyjnym.
- Łatwy w obsłudze program pomiarowy WIN-HCU®
Typowe zastosowania PICODENTOR® HM500
Łatwość umieszczania próbek w przestrzeni pomiarowej sprawia, że urządzenie nadaje się nie tylko do pomiarów w laboratoriach, ale również do bieżącego monitoringu:
- Twardych powłok
- Ultra-cienkich powłok DLC (diamond-like-carbon - amorficzne fazy węgla)
- Powłok ochronnych na szkle
- Powłok anty-zabrudzeniowych (powłoki zol-żel)
- Powłoki komputerowych dysków twardych i płyt CD/DVD
- Bardzo cienkich powłok lakierniczych
- Powierzchni z zaimplantowanymi jonami
- Nano-powłok dla czujników
- Produktów przemysłu medycznego (np. implantów)
- Efektu macierzowego powłok
- Materiałów biologicznych
- Materiałów ceramicznych
Zestawienie mikro- i nanotwardościomierzy firmy Fischer:
| |
PICODENTOR
HM500 |
FISCHERSCOPE
HM2000 XYm |
FISCHERSCOPE
HM2000 XYp |
FISCHERSCOPE
HM2000 S |
| Zakres obciążeń |
0 - 500 mN |
0,4 - 1000 mN |
0,4 - 1000 mN |
0,4 - 1000 mN |
Rozdzielczość
dla obciążenia |
100 nN |
40 μm |
40 μm |
40 μm |
Rozdzielczość dla
głębokości penetracji |
≤40 pm |
100 pm |
100 pm |
100 pm |
| Stolik XY |
programowalny |
ręczny |
programowalny |
|
| Video |
+ |
+ |
+ |
- |
| Oprogramowanie |
WIN-HCU |
| System operacyjny |
Windows XP Prof. PL |
YouTube
Twitter