Czy państwa produkty spełniają dyrektywę RoHS ?
Czy otrzymujecie Państwo tę ilość złota, za którą zapłaciliście ?
Czy Państwa proces nakładania powłok jest ekonomiczny oraz wiarygodny ?
Jeżeli jesteście Państwo niepewni co do odpowiedzi na dowolne z powyższych pytań wówczas FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SD jest właściwym wyborem!
Przyrząd został tak skonstruowany aby sprostać wymagającym testom analiz RoHS oraz WEEE. Ponadto jest idealnie predysponowany do badania składu stopów złota lub innych stopów szlachetnych przy powtarzalności pomiarowej dla złota na poziomie do 0,5‰. Można nim badać nie tylko skład powłok ale również ich grubość!
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SD jest rzeczywiście wszechstronnie utalentowany!
• Perfekcyjne pozycjonowanie badanych próbek.
• 6 pierwotnych filtrów zapewniających warunki optymalnego wzbudzenia poprzez modyfikowanie pierwotnego spektrum promieniowania X.
• Doskonała rozdzielczość energii badanego spektrum dzięki zastosowaniu wysoce czułego detektora półprzewodnikowego.
• Ekstremalnie krótki czas pomiaru dzięki wysokiemu natężeniu promieni X (największy kolimator o średnicy 3mm) oraz przetworzeniu informacji pochodzących z promieniowania fluorescencji rentgenowskiej w innowacyjnym, cyfrowym procesorze impulsowym.
• Analiza bardzo cienkich struktur powierzchniowych takich jak płyty obwodów drukowanych. Dostępne wielkości kolimatorów: średnice od 0,1 do 3 mm.
• Pełna ochrona przeciw promieniowaniu X - przyrząd nie wymaga żadnego nadzoru radiologicznego.
• Lampa rentgenowska może pracować w trybie ciągłym przy maksymalnym obciążeniu - nie są wymagane żadne przerwy.
• Obraz badanego detalu jest wytwarzany przez kolorową kamerę wideo o wysokiej rozdzielczości. Dokładny obraz przedmiotu oraz strefy pomiarowej jest możliwy dzięki unikalnemu systemowi optycznemu. Dlatego dokładne oznaczenie wielkości strefy pomiarowej, automatycznie przeskalowywanej ze względu na odległość pomiarową daje pewność obsłudze o rzeczywistym
|
RoHS / WEEE
• Bardzo wiarygodny pomiar Pb, Hg, Cd, Br oraz Cr. Osiągane progi detekcji: od 2 ppm dla Pb oraz od 10 ppm dla Cd w tworzywach sztucznych.
• Stąd dopuszczalne zawartości tych pierwiastów zgodnie z RoHS / WEEE na poziomie 1000 ppm (Pb) oraz 100 ppm (Cd) mogą być niezawodnie określone.
• Próbki z tworzyw sztucznych mogą być poprawnie testowane niezależnie od ich grubości.
• Nawet małe komponenty lub wielowarstwowe powłoki stosowane w przemyśle obwodów drukowanych analizowane są z punktową precyzją. • Automatyczny stolik pomiarowy XY(Z) pozwala np. na szybkie skanowanie płyt obwodów drukowanych pod kątem występowania niebezpiecznych pierwiastków.
|
|
|
|
|
|
Oprogramowania WinFTM® V.6 BASIC
• Oprogramowanie dostarczane standardowo w wielu werjach językowych w tym również po polsku.
• Podczas jednego pomiaru można określić równolegle do 24 wartości odnośnie grubości powłok lub/oraz składu pierwistków.
• Pomiar bardzo cienkich powłok w zakresie nawet ok. 10nm.
• Możliwość bezwzorcowej analizy (bez kalibracji) wielowartwowych, złożonych układów powłok z dużą dokładnością.
• Dokładność pomiarowa może być podniesiona poprzez kalibracje na rzeczywistych wzorcach (do 64 wzorców na daną aplikację). To również zapewnia identyfikowalność wynków pomiarowych.
• Możliwość wystawienia certyfikatów DKD zgodnie z DIN EN ISO/IEC 17025 dla wielu wzorców wykorzystywanych w metodzie fluorescencji rentgenowskiej.
• Oprogramowanie WinFTM® V.6 zapewnia bardzo dokładne analizy składu materiałów od zawartości danego pierwiastka na poziomie kilku ppm do 100%.
|
|
Inne systemy firmy Fischer:
|
|
|
|
|
FISCHERSCOPE®
X-RAY XDV®-SD
|
FISCHERSCOPE®
X-RAY XAN
|
FISCHERSCOPE®
X-RAY XAN 120®
|
WWW producenta
YouTube
Twitter