Analiza składu materiałów spektrometrami fluorescencji rentgenowskiej (XRF): XRF - Fluorescencja Rentgenowska jest bardzo efektywnym narzędziem w badania składu materiałów. Metoda ta jest szeroko stosowana do pomiarów grubości powłok oraz do identyfikacji pierwiastków. Przy użyciu naszej techniki fluorescencji rentgenowskiej możliwe jest szybkie otrzymanie wyników przy testach na zgodność z WEEE oraz RoHS. FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® oraz XDAL®, XDV®-SD są wysoko wydajnymi spektrometrami działającymi metodą rozproszenia energii fluorescencji rentgenowskiej i umożliwiają prostą, szybką i dokładną analizę składu dla nieznanych materiałów. Możliwa jest analiza pierwiastków od glinu do uranu nawet w przypadku niewielkiej ich koncentracji. Niezwykłe możliwości tych unikalnych przyrządów zostały osiągnięte dzięki zastosowaniu detektora półprzewodnikowego z chłodzeniem Peltier'a (wysoka rozdzielczość energii spektrum) oraz oprogramowaniu WinFTM® Version 6 do analizy materiałów i powłok wielowarstwowych. W powiązaniu z zestawem Gold Assay, przyrządy stanowią część FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY, która to grupa urządzeń jest doskonale dopasowana do szybkich, nieniszczących oraz dokładnych pomiarów zawartości złota w jubilerstwie, przemysle metali szlachetnych oraz w probiernictwie. |
||
|
||
|
|
||

Analiza składu materiałów spektrometrami fluorescencji rentgenowskiej (XRF):
YouTube
Twitter