- HELMUT FISCHER produkuje systemy pomiaru grubości powłok i badań składu metodą fluorescencji rentgenowskiej od ponad 25 lat. Dzięki dogłębnemu poznaniu wszystkich zjawisk fizycznych występujących przy metodach pomiarowych XRF oraz zastosowaniu najnowszych technologi sprzętowych i informatycznych urządzenia typu X-RAY firmy FISCHER dają zalety, których nigdzie Państwo nie znajdziecie.Unikalne oprogramowanie WinFTM® Version 6 (V.6) jest sercem tych urządzeń. Umożliwia ono pomiary bardzo skomplikowanych układów powłok bez stosowania wzorców kalibracyjnych z przewidywana dokładnością pomiarową oraz zapewnia badanie składu materiałów aż do 24 pierwiastków

Typowe zastosowania to:

• Pomiar pojedynczych powłok: Zn, Ni,Cr, Cu, Ag, Au, Sn itp.
• Pomiar dwuskładnikowych powłok stopowych: SnPb, ZnNi oraz NiP na Fe itp.
• Pomiar trójskładnikowych powłok stopowych: AuCdCu na Ni itp.
• Pomiar powłok podwójnych: Au/Ni na Cu, Cr/Ni na Cu, Au/Ag na Ni, Sn/Cu na CuZn, itp.
• Pomiar powłok podwójnych gdzie jedna z powłok jest stopowa: SnPb/Ni na CuSn, Au/PdNi na CuSn, itp.
• Pomiar powłok potrójnych: Cr/Ni/Cu na stali lub ABS, itp.
• Powłoki wielowarstwowe aż do 24 pierwiastków (tylko dla wersji WinFTM® Basic V.6).
• Badanie składu stopów metalicznych do czterech pierwiastków (lub 24 - przy WinFTM® Basic V.6).
• Badanie składu jonów metalicznych w kąpielach galwanicznych.
• Dostępna jest cała rodzina urządzeń typu X-RAY. Poniższa tabela zawiera szczegółową specyfikację dla każdego modelu.
• Wszystkie urządzenia wykonują pomiary zgodnie z ASTM B568, DIN 60 987 oraz ISO 3497.

FISCHERSCOPE X-RAY® XUL(M)

Konstrukcja FISCHERSCOPE® XUL® cechuje się tym, że lampa rentgenowska wraz z detektorem umieszczona jest pod stolikiem pomiarowym. Powoduje to, że kierunek pomiaru jest od dołu do góry. Rozwiązanie takie ułatwia pomiary małych przedmiotów takich jak śruby, nakrętki a zwłaszcza różnego rodzaju elementy kontaktów i styczników elektrycznych oraz elektronicznych. W większości przypadków strefa pomiarowa może być umieszczona bezpośrednio na stoliku pomiarowym. Dzięki temu unika się ustawiania odległości pomiarowej, który to zabieg konieczny jest przy urządzeniach mierzących w kierunku z góry na dół. Strefa pomiarowa jest automatycznie we właściwym położeniu. Przyspiesza to pomiar i pozwala na uniknięcie błędów podczas pozycjonowania przedmiotów. - FISCHER jest jedynym na świecie producentem systemów pomiarowych działających metodą fluorescencji rentgenowskiej, który oferuje to praktyczne rozwiązanie.

Wraz z oprogramowaniem WinFTM® V.6 oraz zestawem Gold Assay XUL® jest częścią FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY, która to grupa urządzeń jest doskonale dopasowana do szybkich, nieniszczących analiz składu złota w przemyśle jubilerskim, metali szlachetnych i probiernictwie.

 

Dostępne wersje

FISCHERSCOPE® XUL(M)	Wersja ze stałą płytą.
FISCHERSCOPE® XUL(M)-XYm	Wersja z ręcznym stolikiem X Y: 50 mm x 50 mm

 

Wymiary

Wymiary zewnętrzne komory	szer.=455 mm; głęb.=580 mm; wys.=510 mm
Wymiary wewnętrzne komory	szer.=360 mm; głęb.=380 mm; wys.=240 mm

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®

 

FISCHERSCOPE® XDL® jest systemem fluorescencji rentgenowskiej do pomiaru grubości powłok oraz badania składu materiałów. Oprogramowanie działa w środowisku Windows™. Kierunek pomiaru jest z góry na dół.

X-RAY XDL® posiada unikalną możliwość korekcji odległości pomiarowej. Metoda DCM (Distance Controlled Measurement - Pomiary z Kontrolowaną Odległością) pozwala na automatyczną korekcję intensywności spektrów otrzymanych przez fluorescencję rentgenowską dla różnych odległości pomiarowych. Używając urządzenia XDL® przy stałym położeniu głowicy pomiarowej można wykonywać pomiary na przedmiotach o skomplikowanych kształtach przy różnych odległościach pomiarowych.

Dostępne wersje:

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210	Model ze stałą płytą na przedmioty oraz głowicą pomiarową zamocowaną w stałej, jednej pozycji
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220	Model ze stałą płytą na przedmioty oraz zmotoryzowaną głowicą pomiarową w osi Z
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230	Model z ręcznym stolikiem XY na przedmioty oraz zmotoryzowaną głowicą pomiarową w osi Z
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®240	Model ze zmotoryzowanym, programowalnym stolikiem XY na przedmioty oraz programowalną głowicą pomiarową w osi Z

 

Wymiary

Wymiary zewnętrzne komory	szer. = 570 mm; głęb. = 740 mm; wys. = 650 mm
Wymiary wewnętrzne komory	szer. = 460 mm; głęb. = 500 mm; wys. = 140 mm

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®

 

FISCHERSCOPE® XDLM® jest systemem fluorescencji rentgenowskiej do pomiaru grubości powłok oraz badania składu materiałów. Oprogramowanie działa w środowisku Windows™. Kierunek pomiaru jest z góry na dół.

Lampa rentgenowska typu mikrofokus wraz z 4 zmotoryzowanymi kolimatorami (przesłonami) czyni XDLM® idealnym urządzeniem do badania produkcji wielkoseryjnej lub masowej takich wyrobów jak śruby, nakrętki, wkręty, itp. Opcjonalny absorber kobaltowy pomaga w skutecznym rozwiązaniu problemów przy pomiarze niklu na miedzi.

XDLM® posiada unikalną możliwość korekcji odległości pomiarowej. Metoda DCM (Distance Controlled Measurement - Pomiary z Kontrolowaną Odległością) pozwala na automatyczną korekcję intensywności spektrów otrzymanych przez fluorescencję rentgenowską dla różnych odległości pomiarowych, co bardzo ułatwia pomiary na przedmiotach o skomplikowanych kształtach geometryczny oraz przy konieczności wykonywania pomiarów przy różnych odległościach pomiarowych.

W powiązaniu z programem WinFTM® V.6 oraz zestawem Gold Assay XDLM® jest częścią FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY, która to grupa urządzeń jest doskonale dopasowana do szybkich, nieniszczących analiz składu złota w przemyśle jubilerskim, metali szlachetnych i probiernictwie.

 

 

Dostępne wersje

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 231	Model ze stałą płytą na przedmioty oraz zmotoryzowaną głowicą pomiarową w osi Z.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 232	Model z ręcznym stolikiem XY na przedmioty oraz zmotoryzowaną głowicą pomiarową w osi Z.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237	Model ze zmotoryzowanym, programowalnym stolikiem XY na przedmioty oraz programowalną głowicą pomiarową w osi Z.

 

Wymiary

Wymiary zewnętrzne komory	szer. = 570 mm; głęb. = 740 mm; wys. = 650 mm
Wymiary wewnętrzne komory	szer. = 460 mm; głęb. = 500 mm; wys. = 140 mm

FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-P

  

FISCHERSCOPE® XDVM®-P jest systemem fluorescencji rentgenowskiej do pomiaru grubości powłok oraz badania składu materiałów. Oprogramowanie działa w środowisku Windows™. Podstawowe zalety tego systemu pomiarowego to: wybór między 2 zestawami kolimatorów, gdzie każdy z zestawów oferuje 4 różne, zmotoryzowane przesłony; duża komora pomiarowa ze szczeliną dla dużych, płaskich przedmiotów; precyzyjny, programowalny, szybki oraz niewrażliwy na drgania stolik XY dla mierzonych przedmiotów; głowica pomiarowa składająca się z lampy rentgenowskiej i detektora wykonująca pomiary w kierunku z góry do dołu i poruszająca się w osi Z (ruchy programowalne).

Powyższe cechy powodują, że zestaw ten jest szczególnie przydatny w przypadku dużej ilości pomiarów dla przedmiotów takich jak śruby, elementy kontaktów lub płyty obwodów drukowanych. Miejsce pomiaru może być zaprogramowane, dzięki temu cała procedura pomiaru odbywa się automatycznie "za naciśnięcie przycisku" łącznie z automatycznie wykonanymi analizami wyników pomiarowych oraz z raportem.

 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-P

Wersja z programowalnym stolikiem XY oraz programowalną głowicą pomiarową w osi Z. Ruchy stolika XY : 250 mm x 250 mm

 

Wymiary

Wymiary zewnętrzne komory	szer. = 660 mm; głęb. = 950 mm; wys. = 720 mm
Wymiary wewnętrzne komory	szer. = 580 mm; głęb. = 560 mm; wys. = 145 mm

FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ i XDVM®-µ-SD 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ (SD) wykorzystywany jest do analiz grubości powłok na mikrostrukturach. Dzięki opatentowanemu, nowatorskiemu systemowi rentgenowskich zwierciadeł optycznych, urządzenie to potrawi wytwarzać bardzo małą wiązkę, która zapewnia rzeczywistą strefę pomiarową: 20 µm x 50 µm przy zachowaniu wysokiej intensywności promieniowania.

W przeciwieństwie do wersji "µ", która zaopatrzona jest w licznik proporcjonalny jako detektor wersja XDVM®-µ-SD wykorzystuje detektor półprzewodnikowy (Si PIN diode). (SD oznacza Solid State Detector - Detektor z Ciała Stałego). Ten wysoko precyzyjny detektor półprzewodnikowy nie wymaga chłodzenia za pomocą ciekłego azotu przy zachowaniu wysokiej rozdzielczości energii. Technologia SD jest predysponowana do analiz próbek o nieznanym składzie.

Szczególnym przeznaczeniem tego urządzenia jest kontrola jakości miniaturowych obwodów drukowanych, chipów oraz kontaktów. Umożliwia pomiary na powierzchniach o szerokości rzędu kilkudziesięciu mikrometrów.

Dzięki nowej optyce rentgenowskiej X-RAY XDVM®-µ-SD pozwala na analizy powłok (grubość oraz skład) o bardzo małych grubościach, tam, gdzie do tej pory konwencjonalne urządzenia działające metodą fluorescencji rentgenowskiej zawodziły ze względu na niewystarczającą intensywność promieniowania wtórnego.

Program WinFTM® V.6 Basic umożliwa analizy układów wielo-powłokowych aż do 24 warstw lub pozwala na analizy składu stopów aż do 24 różnych pierwiastków.

 

 WWW producenta