Zaawansowane systemy pomiarowe

zobacz produkty »
Pomiary grubości powłok
FISCHERSCOPE® MMS®/FISCHERSCOPE® MMS® PC

Seria przyrządów FISCHERSCOPE® MMS® to uniwersalny system do pomiaru grubości powłok oraz badań właściwości materiałowych.

Modułowa konstrukcja pozwala użytkownikowi na konfigurowanie wielu metod pomiarowych pod kątem różnych aplikacji. System MMS® może być skonfigurowany z wieloma sondami pomiarowymi Fischera, tak aby wykonać nieniszczące badania przy użyciu jednej lub kombinacji następujących metod: indukcji magnetycznej, prądów wirowych, izotopowej (beta), zjawiska Hall'a lub oporności elektrycznej.
 

Dzięki możliwości zastosowania wielu różnych metod pomiarowych system MMS® oferuje rozwiązania w wielu gałęziach przemysłu:

  • zakłady galwaniczne,
  • producenci obwodów drukowanych,
  • przemysł samochodowy,
  • przemysł lotniczy, itd.


 



 

FISCHERSCOPE® MMS®

 
            
FISCHERSCOPE® MMS® jest                kompaktowym oraz bardzo wszechstronnym wielo-funkcyjnym systemem pomiarowym z możliwościami archiwizacji wyników oraz ich analizy. Może być wykorzystany do okresowej kontroli ręcznej wyrobów jak i do nadzorowania procesów produkcyjnych.

   Dostępna jest cała gama różnorodnych sond pomiarowych celem dopasowania się do różnych kształtów geometrycznych oraz zakresów pomiarowych.

   6 różnych modułów pozwala na wiele konfiguracji przyrządu w zależności od potrzeb użytkownika. Modułowa budowa pozwala na wykonywanie upgrade'ów przyrządu w dowolnym czasie gdy istnieje taka potrzeba w wyniku zmian lub rozwoju produkcji.
 
  Oferujemy następujące moduły pomiarowe:
Analiza danych pomiarowych
   FISCHERSCOPE® MMS® chroni użytkownika przed wykonywaniem skomplikowanych oraz żmudnych obliczeń matematycznych w celu wykonania opracowań statystycznych. Charakterystyka statystyczna może być wyświetlona lub wydrukowana we formacie listy wyników lub graficznym (histogram oraz sumaryczna funkcja częstotliwości prawdopodobieństwa).
Moduł PERMASCOPE®
Moduł ten wykorzystuje metodę indukcji magnetycznej oraz prądów wirowych.
Przeznaczony jest do pomiaru grubości powłok oraz badania zawartości ferrytu:
  • Lakier, farba, tworzywa sztuczne, cynk, chrom, itp na stali (powłoka niemagnetyczna / magnetyczne podłoże) przy użyciu metody indukcji magnetycznej zgodnie z DIN EN ISO 2178.
  • Lakier, farba, tworzywa sztuczne, ceramika na miedzi, mosiądzu, aluminium, itp. (powłoka nieprzewodząca prądu / podłoże z metalu niemagnetycznego) przy użyciu metody prądów wirowych zgodnie z DIN EN ISO 2360. Również do pomiaru powłok anodowych na stopach aluminium (lewe, górne zdjęcie), do pomiaru grubości powłok na/w tubach oraz puszkach aluminiowych lub warstw ochronnych lutu na płytach obwodów drukowanych (lewe, dolne zdjęcie).
  • Zawartość frakcji ferrytu delta w stalach austenitycznych lub stalach nierdzewnych duplex.
 
 
Moduł NICKELSCOPE®
Moduł ten wykorzystuje efekt Hall'a do pomiaru grubości powłok niklowych lub innych powłok magnetycznych na podłożu niemagnetycznym.
Należy stosować ten moduł do pomiarów:
  • powłok z niklu galwanicznego na podłożu z nieprzewodników prądu lub metali niemagnetycznych.
  • grubych powłok z metali niemagnetycznych, np. miedź, aluminium lub ołów ma żelazie lub stali.
 
 
Moduł SIGMASCOPE®
Moduł ten wykorzystuje zmodyfikowaną metodę prądów wirowych do pomiaru grubości powłok lub przewodności elektrycznej:
  • Pomiary grubości powłok miedzi na materiałach z żywic epoksydowych, grubości powłok miedzi w otworach płyt obwodów drukowanych (lewe, dolne zdjęcie), powłok cynku na stali, niklu na stali, itd.
    Pomiary grubości powłok miedzi poprzez powłokę ochronną.
  • Pomiar przewodności elektrycznej dla metali niemagnetycznych (lewe, górne zdjęcie).
 
 
Moduł DUPLEX
Moduł ten łączy w sobie pomiary metoda indukcji magnetycznej i prądów wirowych.
Stosowany jest do jednoczesnego pomiaru dwóch powłok: lakier na cynku oraz cynku na stali (powłoka duplex). Aplikacja ta może zazwyczaj występować w:
  • zakładach galwanicznych,
  • przemyśle zaopatrującym producentów samochodów
  • przemyśle stalowym.
 
 
Moduł BETASCOPE®
Moduł ten wykorzystuje izotopową metodę Beta. Metoda ta pozwala na pomiar grubości praktycznej każdej powłoki na każdym podłożu przy założeniu, że pomiędzy materiałem powłoki a podłoża występuje różnica co najmniej 5 liczb atomowych.
Moduł ten ma zastosowanie:
  • w przemyśle obwodów drukowanych do pomiaru grubości powłok takich jak SnPb, Au lub Ni,
  • w przemyśle galwanicznym do pomiarów powłok pojedynczych przy użyciu sondy ręcznej,
  • w lakierniach do pomiaru cienkich powłok organicznych na podłożu metalicznym,
  • w przemyśle stalowym do badania grubości olejowych filmów antykorozyjnych, wosków, powłok typu "Bonazinc", itp.
 
 
FISCHERSCOPE® MMS® PC
Pomiary grubości powłok oraz badanie właściwości materiałowych w jednym przyrządzie. FISCHERSCOPE® MMS® PC jest kompaktowym oraz bardzo wszechstronnym wielo-funkcyjnym systemem pomiarowym z możliwościami archiwizacji danych pomiarowych oraz ich analizy. Może być stosowany zarówno w ręcznej kontroli wyrywkowej jak i w kontrolowaniu procesów produkcyjnych. Dostępna jest cała gama sond pomiarowych dla różnych zakresów pomiarowych czy kształtów badanych powierzchni.
Wiele różnych modułów pomiarowych pozwala na dowolne konfigurowanie przyrządu w zależności od potrzeb użytkownika. Modułowa budowa umożliwia wykonanie upgrade'ów w dowolnym czasie w zależności od aplikacji.

Przykłady konfiguracji:
Do pomiarów grubości powłok w produkcji płytek obwodów drukowanych moduły: BETASCOPE®, SIGMASCOPE®/PHASCOPE, SR-SCOPE oraz PERMASCOPE® mogą być zainstalowane w FISCHERSCOPE® MMS® PC. Taka konfiguracja przyrządu pozwala na pomiar:
  • Powłok złota na kontaktach, stopu cyna-ołów na podkładzie lutowniczym i na ścieżkach oraz powłok ochronnych (moduł BETASCOPE®).
  • Powłok miedzi na powierzchni oraz wewnątrz otworów płytek obwodów drukowanych (SIGMASCOPE®/PHASCOPE).
    Pomiar grubości miedzi na laminatach oraz na płytkach wielowarstwowych bez wpływu miedzi położonej po drugiej stronie (SR-SCOPE).
  • Pomiar powłoki ochronnej na miedzi (PERMASCOPE®).
Aplikacje w przemyśle samochodowym. W tym przypadku FISCHERSCOPE® MMS® PC zawierający następujące moduły: PERMASCOPE®, NICKELSCOPE® oraz BETASCOPE® pozwala na pomiary grubości:
  • Powłok grafitu na aluminiowych tłokach, powłok ochronnych na dyskach hamulcowych (PERMASCOPE®).
  • Powłok zawierających żelazo na powierzchni tłoków (NICKELSCOPE®).


Oferujemy wiele modułów pomiarowych dających niewiarygodną elastyczność:
 
 
Przyjazny w użyciu
FISCHERSCOPE® MMS® PC posiada duży, dotykowy, kolorowy ekran LCD. Ekran dotykowy pozwala na szybką obsługę, archiwizację danych pomiarowych oraz ich analizę. Przyrząd pracuje w środowisku Windows® CE i jest porównywalny z takimi aplikacjami jak MSWord lub MSExcel. Obsługa jest prosta, program jest łatwy do nauczenia oraz zunifikowany dla wszystkich metod pomiarowych. MMS® PC oferuje praktycznie niczym nie ograniczoną pojemność pamięci dla parametrów pomiarowych i wyników oraz umożliwia podłączenie do sieci komputerowej i wykonywanie aplikacji online.
Istnieje wybór pomiędzy czterema sposobami prezentacji pomiarów tak aby można było dostrzec natychmiast najważniejsze informacje (tryb wyświetlania numerycznego, tryb karty kontrolnej, tryb z granicami tolerancji lub tryb pracy prostej).
 
 
Analiza
FISCHERSCOPE® MMS® PC chroni użytkownika przed wykonywaniem skomplikowanych oraz żmudnych obliczeń matematycznych w celu wykonania opracowań statystycznych. Charakterystyka statystyczna może być wyświetlona lub wydrukowana we formacie listy wyników lub graficznym (histogram oraz sumaryczna funkcja częstotliwości prawdopodobieństwa). 
Moduł PERMASCOPE®
Moduł ten wykorzystuje metodę indukcji magnetycznej oraz prądów wirowych.
Przeznaczony jest do pomiaru grubości powłok oraz badania zawartości ferrytu:
  • Lakier, farba, tworzywa sztuczne, cynk, chrom, itp na stali (powłoka niemagnetyczna / magnetyczne podłoże) przy użyciu metody indukcji magnetycznej zgodnie z DIN EN ISO 2178.
  • Lakier, farba, tworzywa sztuczne, ceramika na miedzi, mosiądzu, aluminium, itp. (powłoka nieprzewodząca prądu / podłoże z metalu niemagnetycznego) przy użyciu metody prądów wirowych zgodnie z DIN EN ISO 2360. Również do pomiaru powłok anodowych na stopach aluminium (lewe, górne zdjęcie), do pomiaru grubości powłok na/w tubach oraz puszkach aluminiowych lub warstw ochronnych lutu na płytach obwodów drukowanych (lewe, dolne zdjęcie).
  • Zawartość frakcji ferrytu delta w stalach austenitycznych lub stalach nierdzewnych duplex.
 
 
Moduł NICKELSCOPE®
Moduł ten wykorzystuje efekt Hall'a do pomiaru grubości powłok niklowych lub innych powłok magnetycznych na podłożu niemagnetycznym.
Należy stosować ten moduł do pomiarów:
  • powłok z niklu galwanicznego na podłożu z nieprzewodników prądu lub metali niemagnetycznych.
  • grubych powłok z metali niemagnetycznych, np. miedź, aluminium lub ołów ma żelazie lub stali.
 
Moduł BETASCOPE®
Moduł ten wykorzystuje izotopową metodę Beta. Metoda ta pozwala na pomiar grubości praktycznej każdej powłoki na każdym podłożu przy założeniu, że pomiędzy materiałem powłoki a podłoża występuje różnica co najmniej 5 liczb atomowych.
Moduł ten ma zastosowanie:
  • w przemyśle obwodów drukowanych do pomiaru grubości powłok takich jak SnPb, Au lub Ni,
  • w przemyśle galwanicznym do pomiarów powłok pojedynczych przy użyciu sondy ręcznej,
  • w lakierniach do pomiaru cienkich powłok organicznych na podłożu metalicznym,
  • w przemyśle stalowym do badania grubości olejowych filmów antykorozyjnych, wosków, powłok typu "Bonazinc", itp.
 
 
Moduł SR-SCOPE
Moduł ten wykorzystuje metodę oporności elektrycznej i stosowany jest w przypadku pomiarów grubości powłok miedzianych na płaskich powierzchniach w przypadku układów wielowarstwowych. W szczególności tyczy się to powłok miedzianych na cienkich laminatach, pomiarów na wielowarstwowych płytach obwodów drukowanych.
  • Powłoki Cu o grubościach od 0.1 do 10 µm oraz od 5 do 120 µm bez warstw pośrednich.
 
Moduł SIGMASCOPE®-PHASCOPE 1/TEMPERATURE
Moduł ten wykorzystuje zmodyfikowana metodę prądów wirowych. Stosowany jest do pomiaru:
  • przewodności elektrycznej metali niemagnetycznych (możliwa jest automatyczna kompensacja temperatury za pomocą sensora wbudowanego w sondę pomiarową lub zewnętrznego sensora temperatury).
  • grubości powłok z metali niemagnetycznych np. cynk, miedź, aluminium, itp na stali lub żelazie, metoda polecana w szczególności w przypadku gdy pomiary wykonywane są na bardzo chropowatej powierzchni.
  • grubości powłok z metali niemagnetycznych o dużym przewodnictwie elektrycznym na podłożu z metali niemagnetycznych o małym przewodnictwie elektrycznym, np. miedź na mosiądzu lub stali austenitycznej.
  • grubości powłok z niklu galwanicznego na stali lub żelazie.
  • grubości powłok miedzi pod powłoką ochronną.
 
Moduł SIGMASCOPE®-PHASCOPE 2
Moduł ten uzupełnia SIGMASCOPE®-PHASCOPE 1/TEMPERATURE kombinacją metody zmodyfikowanej prądów wirowych oraz indukcji magnetycznej. Pozwala to na pomiar w jednym przejściu dwóch powłok oddzielnie: lakieru oraz cynku na podłożu stalowym (powłoka duplex) oraz umożliwia pomiar grubości powłok miedzi w otworach płyt obwodów drukowanych.
TEMPERATURA
Moduł ten jest przeznaczony do współpracy z sondą temperaturową TF100 A (sonda temperaturowa z sensorem PT100) w zakresie od –20 °C do +80 °C. W niektórych przypadkach pomiar temperatury może być użyteczny, np. dla kompensacji temperaturowej przy metodzie Beta, przy pomiarach przewodności elektrycznej lub przy metodzie oporności elektrycznej.
 
Moduł MMS® PC PCMCIA
Moduł ten rozszerza możliwości pamięci przyrządu przy użyciu karty CompactFlash. Wewnętrzna pamięć przyrządu wystarcza na 1000 zbiorów aplikacyjnych oraz milion pomiarów - moduł MMS® PC PCMCIA wraz z kartą CompactFlash umożliwia zapamiętanie większej ilości danych.
 
 
Moduł LAN/USB
Moduł ten jest interfejsem dla podłączenia sieci LAN oraz portu USB. Sieć LAN można wykorzystać do przesyłania danych