Couloscope® CMS (Coulometric Measuring System - System Pomiarów Kulometrycznych) wykorzystuje kulometryczną metodę do pomiarów grubości powłok.
Przyrząd posiada duży i łatwy w odczycie wyświetlacz ciekłokrystaliczny oraz intuicyjne i proste w obsłudze oprogramowanie; nowy statyw pomiarowy V18 pozwala na automatyczne napełnianie i opróżnianie zbiorniczka pomiarowego.
Oprogramowanie pozwala na analizy SPC. Przyrząd jest przystosowany do pomiaru grubości prawie każdej powłoki metalicznej na metalicznym lub niemetalicznym podłożu, łącznie z powłokami wielowarstwowymi. Kulometryczna metoda pomiarowa stosowana jest w tych aplikacjach gdzie dopuszczalne są badania metodami niszczącymi.
Couloscope® CMS
|
COULOSCOPE® CMS wykonuje dokładne pomiary powłok metalicznych w zakresie od ok. 0.05 - 40 µm. Przyrząd posiada setki predefiniowanych programów aplikacyjnych powłoka/podłoże od prostego układu powłoki pojedynczej jak np. cynk na stali do powłok potrójnych jak np. chrom na niklu na miedzi na tworzywie sztucznym. Pamięć przyrządu pozwala na zapamiętanie tysięcy danych pomiarowych. Port RS232 umożliwia przesłanie zapamiętanych danych do PC lub drukarki.
|
|
 Szczególnie przyjazne w obsłudze statywy:
Dostępne są cztery standardowe statywy pomiarowe dla różnych aplikacji.
Zdjęcie górne po lewej: Statyw pomiarowy V18. Przy użyciu V18 można wykonać wiele testów bez konieczności ponownego napełniania zbiorniczka pomiarowego elektrolitem po każdym pomiarze co bardzo oszczędza czas obsługi. Elektrolit jest wpompowywany do górnego zbiorniczka skąd jest ponownie transportowany do dolnego, pomiarowego zbiorniczka z chwilą rozpoczęcia cyklu pomiarowego.
Zbiorniczek górny po prawej: Statyw pomiarowy V24 pozwala na elastyczne pozycjonowanie małych części.
Zdjęcie dolne po lewej: Statyw pomiarowy V26 przeznaczony jest głównie do pomiarów na prostych i płaskich powierzchniach.
Zdjęcie dolne po prawej: Statyw pomiarowy V27 przeznaczony jest pomiarów grubości powłok na drutach.
|
|
 Charakterystyka
-
Atrakcyjny design, duży wyświetlacz LCD i przejrzyście zaprojektowana klawiatura
-
Prosta obsługa, oparta na przyjaznym menu oprogramowania
-
Średnica wytrawionej przestrzeni od 0.6 mm do 3.2 mm
-
Pamięć dla 4000 danych pomiarowych w 50 zbiorach aplikacyjnych
-
Około 100 standardowych zbiorów aplikacyjnych dla większości układów powłoka/podłoże, w tym również osobne programy dla pomiarów na drutach
-
Pełna lista parametrów statystycznych na ekranie lub w raporcie drukowanym. Przyrząd zapewnia również wykonywanie kart kontrolnych SPC, histogramów oraz funkcji prawdopodobieństwa dla rozkładu normalnego.
-
Port równoległy CENTRONICS dla drukarek, port szeregowy RS232 do transmisji danych do PC oraz analogowe wyjście na ploter.
-
Duża różnorodność wyposażenia
|
COULOSCOPE® CMS STEP:
STEP TEST (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential - Równoczesny Pomiar Grubość i Potencjału Elektrochemicznego) - przyrząd korzysta z metody, która była opracowywana przez długi czas i służy do określania grubości pojedynczych powłok oraz różnic potencjału elektrochemicznego pomiędzy pojedynczymi powłokami niklu. Pomiar wielowarstwowych powłok niklu staje się coraz ważniejszym zagadnieniem w przemyśle galwanicznym, np. pomiar powłok podwójnych lub potrójny zgodnie ze znormalizowanymi procedurami.
Wysoka rozdzielczość napięcia w COULOSCOPE® CMS STEP umożliwia określenie różnic potencjałów pomiędzy powłoką zewnętrzną niklu mikroporowatego lub spękanego a niklem błyszczącym oraz pomiędzy niklem błyszczącym a półbłyszczącym (można również zastosować do pomiarów niklu z podwyższoną zawartością związków siarki pomiędzy niklem błyszczącym a półbłyszczącym).
Dziedziny zastosowań dla COULOSCOPE® CMS STEP:
-
Równoczesny pomiar grubości oraz potencjałów elektrochemicznych dla podwójnych oraz potrójnych powłok niklu.
-
Określenie grubości prawie wszystkich metalicznych powłok na metalicznym lub niemetalicznym podłożu, nawet dla układów wielowarstwowych.
Konkretne aplikacje w przemyśle oraz bardzo specjalne zastosowania:
-
Monitoring produkcji w przemyśle galwanicznym; ze względu na nieskomplikowana obsługę przyrząd jest przyrząd jest idealnie przystosowany do pracy w ciężkich warunkach produkcyjnych !
-
Kontrola dostaw dla wykonanych części, np. pomiar grubości powłoki chromu z podwójną powłoką niklu - przemysł samochodowy.
Rzut okiem na zalety przyrządu:
- Szybkie otrzymanie wyników (w porównianiu do długotrwałego testu w komorze solnej).
- Około 100 predefiniowanych zbiorów aplikacyjnych (od pomiaru powłoki pojedynczej jak np. cynk na stali do powłok potrójnych jak np. chrom, nikiel, miedź na podłożu z tworzywa sztucznego).
- Unikalna, opatentowana konstrukcja zbiorniczka pomiarowego zapewniająca utrzymanie stałej odległości pomiędzy elektrodą a badanym przedmiotem. Jest to bardzo ważne dla zapewnienia powtarzalnych, dokładnych i stabilnych pomiarów.
- Eliminacja nieporęcznego ustawiania zbiorniczka pomiarowego.
- Przyjazna dla operatora obsługa wsparta przez wygodne menu oprogramowania.
- Wykorzystanie znormalizowanej, kulometrycznej metody pomiarowej zgodnie z DIN EN ISO 2177 oraz ASTM B764-94. Dzięki temu można nie tylko mierzyć grubości powłok miedzi, niklu wielowarstwowego i chromu ale również różnice potencjałów eletrochemicznych między powłokami niklu.
- Duży wyświetlacz LCD oraz przejrzyście zaprojektowana klawiatura.
Zalety specjalnego programu STEP-View:
Komputerowy program STEP-View umożliwia zapisywanie oraz wygodną analizę wykresów potencjałów. Jednakże, analizy mogą być wykonywane bezpośrednio na przyrządzie. W programie STEP-View zmierzony przebieg potencjału może być pobrany z przyrządu przez kliknięcie przycisku myszki. Wyznaczenie grubości powłok oraz różnic potencjałów elektrochemicznych odbywa się na dwóch oddzielnych wykresach. Interesujące operatora wartości moga być łatwo określone przez umieszczenie do 5 znaczników na stosownym obszarze wykresu. Dane pomiarowe można wyeksportować do arkusza Excel , wykresy można zapisać w popularnym, formacie graficznym a szablon raportu drukarkowego może być łatwo przystosowany do potrzeb użytkownika.
