Zaawansowane systemy pomiarowe

zobacz produkty »
Tomografia rentgenowska



Tomografy rentgenowskie Phoenix

Phoenix|X-ray

Phoenix|X-ray jest linią produktów firmy GE Sensing & Inspection Technologies z koncernu General Electric. Powstała pod koniec lat 90-tych XX wieku w Wunstorf (Niemcy) gdzie do dziś mieści się jej główna siedziba, produkcja oraz dział badań i rozwoju. W krótkim czasie stała się liderem w dziedzinie komputerowej tomografii rentgenowskiej do celów badania materiałów (w skali mikro) i metrologii 3D.


Tomografy rentgenowskie są to tomografy komputerowe, czyli pozwalające na uzyskanie obrazów tomograficznych (przekrojów) badanego obiektu, a następnie przedstawiające jego obraz przestrzenny (3D) z wielu ujęć płaskich (2D) wykonanych w różnych położeniach. Obrazy tomograficzne zawierają informacje o położeniu i gęstości cech absorbujących w obiekcie i są dalej wykorzystywane do rekonstrukcji danych przestrzennych. Jakąkolwiek różnicę w materiale wewnątrz obiektu, zmianę jego gęstości lub pory można zobrazować i zmierzyć. Tomografia rentgenowska w metrologii i badaniach materiałowych charakteryzuje się nieruchomą lampą rentgenowską i wykorzystuje obrót przedmiotu. Dzięki przejściu promieniowania przez cały przedmiot pozwalają na pomiary nawet bardzo złożonych przedmiotów z powierzchniami trudno dostępnymi lub wręcz niewidocznymi. W ten sposób komputerowa tomografia rentgenowska jest idealnym narzędziem do mikro analiz 3D, szukania wad wewnętrznych, rozwarstwień, wtrąceń i pomiaru wielkości geometrycznych w wielu dziedzinach nauki i przemysłu.


Tomografy firmy GE charakteryzują się kilkoma cechami, dzięki którym znajdują się w ścisłej światowej czołówce: są to:
- szeroki zakres produkcji do różnych aplikacji
- własne lampy o najnowszych rozwiązaniach (m.in. bardzo długa żywotność), zarówno o dużej mocy jak i małej wielkości plamki w ognisku
- rozdzielczość voxela już od 0,5 μm
- błędy pomiaru już od 1 μm
- bardzo duża gęstość punktów pomiarowych
- unikalne moduły oprogramowania pozwalające na niezrównaną redukcję szumów i zakłóceń oraz filtrację zjawisk wynikających z praw fizyki
- łatwość użytkowania i szybkość działania
- automatyczna kalibracja geometryczna
- granit jako materiał konstrukcyjny podstawy


Nanotom

nanotomograf do bardzo precyzyjnych analiz i pomiarów


Dane techniczne


Nanotom

Lampa


 180 kV / 15 W otwarta nanofokus

Rozdzielczość (voxel)

od 300 nm

 
Średnica próbki


do 120 mm

 
Wysokość próbki

do 150 mm


  Masa próbki

  do 1 kg

 

Minimalna wielkość plamki w ognisku pozwala rozróżnić obiekty już o wielkości 200 - 300 nm.

Zakres aplikacji od próbek słabo absorbujących promieniowanie do mocno absorbujących metali. 

 

V|tome|x s

wszechstronny tomograf o wysokiej rozdzielczości

 

Dane techniczne


 

V|tome|x s


 

 Lampa

 

240 kV / 320 W otwarta mikrofokus


 

 Opcja


 

druga lampa 180 kV / 15 W otwarta nanofokus

 

Rozdzielczość (voxel)


 

od 4 μm (2 μm dla lampy nanofokus)


 

Średnica próbki


 

 do 260 mm


 

 Wysokość próbki


 

do 420 mm


 

Masa próbki


 

 do 10 kg

 

Elastyczny system pozwalający na zamontowanie dwóch lamp w tomografie.

Do inspekcji wad i analiz strukturalnych oraz metrologii 2D i 3D

Szeroki zakres aplikacji.


V|tome|x l

wszechstronny tomograf o wysokiej rozdzielczości

 

Dane techniczne

 

V|tome|x l 300

 

V|tome|x l 450

 

 Lampa

 

300 kV otwarta mikrofokus

 

450 kV otwarta makrofokus

 

 Opcja

 

180 kV otwarta nanofokus

 

240 kV otwarta mikrofokus

 

 Rozdzielczość (voxel)

 

od 1 μm dla lampy nanofokus

 

od 2 μm dla lampy mikrofokus

 

Średnica próbki

 

do 500 mm

 

 do 800 mm

 

Wysokość próbki

 

 do 600 mm

 

do 1000 mm

 

 Masa próbki

 

 do 50 kg

 

do 100 kg

 

Elastyczny system pozwalający na zamontowanie dwóch lamp w tomografie.

Do inspekcji wad i analiz strukturalnych oraz metrologii 2D i 3D

8 osi ruchomych, kabina jako opcja, szeroki zakres aplikacji.


 
 

 


 







Więcej informacji na stronie
WWW producenta