|
Phoenix|X-ray
Phoenix|X-ray jest linią produktów firmy GE Sensing & Inspection Technologies z koncernu General Electric. Powstała pod koniec lat 90-tych XX wieku w Wunstorf (Niemcy) gdzie do dziś mieści się jej główna siedziba, produkcja oraz dział badań i rozwoju. W krótkim czasie stała się liderem w dziedzinie komputerowej tomografii rentgenowskiej do celów badania materiałów (w skali mikro) i metrologii 3D.
Tomografy rentgenowskie są to tomografy komputerowe, czyli pozwalające na uzyskanie obrazów tomograficznych (przekrojów) badanego obiektu, a następnie przedstawiające jego obraz przestrzenny (3D) z wielu ujęć płaskich (2D) wykonanych w różnych położeniach. Obrazy tomograficzne zawierają informacje o położeniu i gęstości cech absorbujących w obiekcie i są dalej wykorzystywane do rekonstrukcji danych przestrzennych. Jakąkolwiek różnicę w materiale wewnątrz obiektu, zmianę jego gęstości lub pory można zobrazować i zmierzyć. Tomografia rentgenowska w metrologii i badaniach materiałowych charakteryzuje się nieruchomą lampą rentgenowską i wykorzystuje obrót przedmiotu. Dzięki przejściu promieniowania przez cały przedmiot pozwalają na pomiary nawet bardzo złożonych przedmiotów z powierzchniami trudno dostępnymi lub wręcz niewidocznymi. W ten sposób komputerowa tomografia rentgenowska jest idealnym narzędziem do mikro analiz 3D, szukania wad wewnętrznych, rozwarstwień, wtrąceń i pomiaru wielkości geometrycznych w wielu dziedzinach nauki i przemysłu.
Tomografy firmy GE charakteryzują się kilkoma cechami, dzięki którym znajdują się w ścisłej światowej czołówce: są to:
- szeroki zakres produkcji do różnych aplikacji
- własne lampy o najnowszych rozwiązaniach (m.in. bardzo długa żywotność), zarówno o dużej mocy jak i małej wielkości plamki w ognisku
- rozdzielczość voxela już od 0,5 μm
- błędy pomiaru już od 1 μm
- bardzo duża gęstość punktów pomiarowych
- unikalne moduły oprogramowania pozwalające na niezrównaną redukcję szumów i zakłóceń oraz filtrację zjawisk wynikających z praw fizyki
- łatwość użytkowania i szybkość działania
- automatyczna kalibracja geometryczna
- granit jako materiał konstrukcyjny podstawy
Nanotom
nanotomograf do bardzo precyzyjnych analiz i pomiarów
Dane techniczne
|
Nanotom
|
|
Lampa
|
180 kV / 15 W otwarta nanofokus
|
|
Rozdzielczość (voxel)
|
od 300 nm
|
|
Średnica próbki
|
do 120 mm
|
Wysokość próbki |
do 150 mm
|
Masa próbki |
do 1 kg
|
Minimalna wielkość plamki w ognisku pozwala rozróżnić obiekty już o wielkości 200 - 300 nm.
Zakres aplikacji od próbek słabo absorbujących promieniowanie do mocno absorbujących metali.
V|tome|x s
wszechstronny tomograf o wysokiej rozdzielczości
|
Dane techniczne
|
V|tome|x s
|
|
Lampa
|
240 kV / 320 W otwarta mikrofokus
|
|
Opcja
|
druga lampa 180 kV / 15 W otwarta nanofokus
|
|
Rozdzielczość (voxel)
|
od 4 μm (2 μm dla lampy nanofokus)
|
|
Średnica próbki
|
do 260 mm
|
|
Wysokość próbki
|
do 420 mm
|
|
Masa próbki
|
do 10 kg
|
Elastyczny system pozwalający na zamontowanie dwóch lamp w tomografie.
Do inspekcji wad i analiz strukturalnych oraz metrologii 2D i 3D
Szeroki zakres aplikacji.
V|tome|x l
wszechstronny tomograf o wysokiej rozdzielczości
|
Dane techniczne
|
V|tome|x l 300
|
V|tome|x l 450
|
|
Lampa
|
300 kV otwarta mikrofokus
|
450 kV otwarta makrofokus
|
|
Opcja
|
180 kV otwarta nanofokus
|
240 kV otwarta mikrofokus
|
|
Rozdzielczość (voxel)
|
od 1 μm dla lampy nanofokus
|
od 2 μm dla lampy mikrofokus
|
|
Średnica próbki
|
do 500 mm
|
do 800 mm
|
|
Wysokość próbki
|
do 600 mm
|
do 1000 mm
|
|
Masa próbki
|
do 50 kg
|
do 100 kg
|
Elastyczny system pozwalający na zamontowanie dwóch lamp w tomografie.
Do inspekcji wad i analiz strukturalnych oraz metrologii 2D i 3D
8 osi ruchomych, kabina jako opcja, szeroki zakres aplikacji.
Więcej informacji na stronie WWW producenta
|