- do pomiarów najmniejszych przemieszczeń

Bardzo czuły system pomiarowy do bardzo małych odkształceń, metoda interferometryczna, do pomiarów najmniejszych przemieszczeń oraz naprężeń powierzchniowych z rozdzielczością około 10 nanometrów lub 1 mikrona na każdy metr.

Konfiguracja systemu:
SD-30/SD-10S Rozdzielczość kamer (0,8M): 1280x1024 pikseli Pole pomiarowe: 10x8 - 699x450mm Kierunek pomiaru (SD-30): X, Y, Z Kierunek pomiaru (SD-10S): X lub Y lub Z
Laser: 3x50mW/785nm.

WWW producenta