- systemy pomiaru grubości powłok i badań składu metodą fluorescencji rentgenowskiej

Fluorescencja rentgenowska jest bardzo efektywnym narzędziem w badaniu składu materiałów.

Uwaga: Zapraszamy również do nowego działu naszej strony internetowej, poświęconego SPEKTROMETRII, której gałąź stanowią badania metodą fluorescencji rentgenowskiej.

Metoda ta jest również stosowana do pomiarów grubości powłok.Przy użyciu metody fluorescencji rentgenowskiej możliwe jest szybkie otrzymanie wyników przy testach na zgodność z WEEE oraz RoHS (dla przyrządów wyposażonych w detektor półprzewod.). Charakterystyka urządzenia:
- pomiar pojedynczych powłok np.: Zn, Ni, Cu, Ag, Au, Sn, itp.
- pomiar dwuskładnikowych powłok stopowych z jednoczesnym podaniem procentowego składu powłoki np.: SnPb, ZnNi oraz NIP na Fe itp.
- pomiar trójskładnikowych powłok stopowych np.: AuCdCu na Ni itp.
- pomiar powłok podwójnych np.: Au/Ni na Cu, Cr/Ni na Cu, Au/Ag na Ni,Sn/Cu na CuZn, itp.
- pomiar powłok podwójnych gdzie jedna z powłok jest stopowa z jednoczesnym podaniem procentowego składu powłoki np.: SnPb/Ni na CuSn, Au/PdNi na CuSn, itp.
- pomiar powłok potrójnych np.: Cr/Ni/Cu na stali lub ABS, itp.
- powłoki wielowarstwowe aż do 24 pierwiastków (tylko dla wersji oprogramowania WinFTM Basic V.6).
- badanie składu stopów metalicznych do czterech pierwiastków (lub 24 - przy WinFTM Basic V.6).
- badanie składu jonów metalicznych w kąpielach galwanicznych.
- automatycznie nastawiane wysokie napięcie
- komora pomiarowa ze szczeliną (dla dużychi płaskich elementów).
- filtr podstawowy Ni oraz filtr Al (opcjonalnie).
- oprogramowanie WinFTM posiada bardzo rozbudowany moduł archiwizacji danych, obróbkę statystyczną (łącznie z SPC) oraz posiada bogate możliwości raportowania.30kV; 40kV; 50kV.
- dostępna cała gama kolimatorów (przesłon pomiarowych), w zależności od aplikacji od 0,02 do 2mm.

WWW producenta